50W, 1064nm出力（532 nm開発中）
パルス毎パルスエネルギー変調可能。繰返し20-200kHz。パルス幅 10-150 ns。

690～950 nm。繰返し10 or 20Hz (Phocus HR Mini のみ100Hz)。パルス幅5～9 ns。リングキャビティOPOベース 波長可変レーザー

高い柔軟性＆高速。種々のマーキングやパルス微細加工に最適なナノ秒パルスファイバレーザー

反射と屈折を組み合わせたDUV用小型レンズ
高NA・長作動距離・高透過率などの高い性能を実現

リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析高性能で低価格

高濃度対応 インラインSS（浮遊物質測定）・濁度　計測
後方光散乱方式採用
過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

MR387シリーズ Eストップは、光ファイバを使用した完全にパッシブなEストップです。爆発性雰囲気、長距離、雷免疫、RFI、EMI が要求される場所に最適です。最大10km 離れた場所でも使用可能です。

Daylight Solutions社のパルス、CW＆パルス、CW-MHF 中赤外レーザー用の多機能コントローラ。業界トップクラスのノイズ性能を達成。

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm～3,900μm。速度同時測定モデル

溶接のアークや炎の光の中を可視化する溶接可視化システム

SuperK シリーズをはじめとするNKT Photonics社のスーパーコンティニューム光源を目的に合わせてより柔軟に使用できる多彩なアクセサリをラインナップ

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

高繰返し100Hzシリーズ。410～3450nm, UVモジュール装着で210～410nmもカバー

全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

小型・高い柔軟性・高い安定性のアンプユニット。簡単操作でエネルギー及びパワー増幅。出力パワー 5～100 W。パルスエネルギー 最大 5mJ。CW ～ ピコ秒パルス。利得 最大40dB。

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

コンパクトで安価な組込み用の半導体レーザー電源

独立6軸（X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー）動作。複雑なモーションコントロールに高い耐荷重と高精度を提供する6軸自由度ステージ。

高い表面精度と可視光透過率で優れた視認性