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製品情報
偏波感受型バランスフォトディテクタ “PBPD-001”
PBPD-001 は偏波に対する感受性を持った差分フォトディテクタです。低ノイズかつ高いコモンモードノイズ除去比、高コンバージョンゲイン、ワイドバンド、コンパクトな使いやすいモデルです。
PMD/PDL/SOPエミュレーション装置
偏光モード分散（PMD）、偏光依存損失（PDL）、SOP（偏光状態）の計測・評価に
高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”
超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適
インプリント・モールド
3Dから高アスぺクト比形状まで対応
レジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
R&D用多用途 高精細3D光造形装置 Photonic Professional GT2
世界最高精細の光造形装置。迅速かつ超精密の微細加工を実現。
超短パルス フェムト秒ファイバレーザー”Neolit”
増幅器のシード光源向けに設計された、コンパクトなワンボックスタイプの超短パルスファイバレーザーです。波長：1020-1070nm、繰り返し周波数：15-30MHz、平均出力パワー：1-50mW、SESAMフリー
レーザースタビライザー”LASS-II”
最新の電気光学フィードバックループにより、レーザーの特性と機能を簡単に制御
単一周波数Qスイッチ LD励起レーザー“SLMシリーズ”
1064nm/532nm/355nm/213nm。フーリエ限界 80MHｚ線幅の単一周波数レーザー。8～15 kHz, 8～12ns パルス。最大エネルギー800 μJ。
偏波コントローラ / 偏波スクランブラ / 偏波トラッカ
各種システム・装置の偏波特性を多様化し、性能の最適化をサポートする多彩な偏波関連モジュール
最大7波長、2本ファイバー搭載可能レーザーコンバイナー ”LightHUB Ultra”
最大7波長のDPSS / LDレーザーモジュール（375～1550 nm）をコンパクトパッケージに格納。1波長当り最大300mW
ADC内蔵・アンプ付き・Si-InGaAs一体型 フォトディテクタ SPIDER
Si, InGaAsの両フォトダイオードと各アンプを1台に搭載し、320～1700nmもの広い応答波長域と、ピコワットレベルの微弱光を検出できる高い感度を実現。さらに24bit ADC（アナログ・デジタル・コンバータ）内蔵で、アナログ／デジタル両シグナルを提供でき、デジタルシグナルはUSB出力でPCへ直接伝送可能。
他に類のない万能フォトディテクタ 税抜定価 ¥570,000～
画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”
実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定
ピコ秒パルスレーザー光源（波長 255nm～1,990nm）
ピコ秒パルスレーザー光源はレーザーダイオードベースまたはLEDベースのデバイスです。繰返し周波数は最大100MHzまでユーザーせ調整が可能です。 255nmから1990nmまでの離散波長をカバー。 最短パルス幅40ps。RGB3色ピコ秒レーザーをリリース（2021年11月）
超小型 高分解能 リニアアクチュエータ “M3-L”
M3-Lは小型の高分解能位置決めシステムです。アクチュエータにドライバーとクローズドループコントローラを内蔵。3.3V 駆動、I2C、SPIなどシリアル制御可能。コンパクトで組み込みし易くOEM機器への使用に最適です。開発キットもご用意いたしております。
ペタワット出力フェムト秒レーザー PULSAR PW
世界最高クラスの1PW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高5Hz
フォトンカウンティング 光子計数実験用 アクセサリ
フォトン カウンティング（光子計数 ）実験用のアクセサリを提供しています。PicoHarp 300 TCSPC 用ルーター、SPAD 用専用デュアル チャネル電源、ピコ秒分解能のディレーヤー、トリガー ダイオード 信号コンディショナー、信号ケーブル
高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”
BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm
超小型CWレーザーモジュール“LuxX”
バイオ、産業用途に最適なコンパクトなCW LDモジュール。紫外375nm～赤外1550nm。最大300mW出力。
偏光スタビライザ “POS-202 & POS-203”
入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体：- AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG,- AFM 校正用構造体 TGXYZ,- AFM 校正用構造体 TGX,- AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ
1342 nm 671 nm 447 nm LD励起固体 Qスイッチ レーザー“IDOLシリーズ”
1342 nm 671 nm 447 nmでのQスイッチレーザー。平均出力1.5~4W。レーザー微細加工、シリコン加工、ステルスダイシング、ディスプレイ修理などにご利用いただけるレーザーです。
マイクロドリリングシステム“ProbeDrill 355”
高速・微細な多穴加工（円および四角形状）
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox sensor
S neoxは多機能かつ高性能な機能をもつ組込み可能な3D測定センサです。共焦点・白色干渉計・焦点移動による3D表面形状測定加えて、膜厚測定ができ、幅広いアプリケーションに対応。自動3D測定が可能。
