製品情報

製品一覧

空冷アルゴンレーザー

LASOS

長寿命でパワー安定性の高い内部ミラータイプ。空冷で最大40mW。454/457/514nm, シングル/ダブル/マルチ波長。

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静電吐出方式高精細ディスペンサ Q-Jet

浜松ナノテクノロジー

エアー式ディスペンサでは実現不可能な細線描画、ピエゾ式インクジェットでは不可能な高粘度吐出を可能にする従来の常識を覆した高機能パターニング技術。

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3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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レーザー走査型顕微鏡(LSM)用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット

PicoQuant

各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット

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中赤外MCTディテクタ

DRS Daylight Solutions

4~12 μm 中赤外パルスレーザーの検出に最適な室温動作ディテクタ

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クロスコリレータ SEQUOIA

Amplitude Technologies

市販品で最高のダイナミックレンジを持つ3次フェムト秒クロスコリレーター。高ピークパワー・フェムト秒レーザーシステムのレーザーパルス形状の厳密な制御に理想的。

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Nanoview 1000 AFM

FSM Precision

従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。

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フォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)

PicoQuant

PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。

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ビームプロファイラ装置一覧

Duma Optronics

CW&パルス対応の高分解能CCDタイプと低コスト&広帯域のナイフエッジ式

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最大 90J OEM向け ナノ秒/ピコ秒レーザー

Beamtech Optronics

OEM向けの美容医療に最適なレーザーです。繰り返し周波数 10Hz, パルス幅 ~ 300 ps, 高エネルギー出力:50J @ 755nm、90J @ 1064nm。

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Vibration Control製品

Newport

ニューポートの除振台は、国内外を問わず多くのお客様から高い評価をいただいております。
ニューポート社製 Vibration Control製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。

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測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体

MikroMasch

測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
 
– AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG
– AFM 校正用構造体 TGXYZ
– AFM 校正用構造体 TGX
– AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ

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偏波感受型バランスフォトディテクタ “PBPD-001”

General Photonics

PBPD-001 は偏波に対する感受性を持った差分フォトディテクタです。低ノイズかつ高いコモンモードノイズ除去比、高コンバージョンゲイン、ワイドバンド、コンパクトな使いやすいモデルです。

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レーザースタビライザー”LASS-II”

Conoptics

最新の電気光学フィードバックループにより、レーザーの特性と機能を簡単に制御

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スタック・アクチュエータ

piezosystem jena

多層セラミック技術をもとにしたスタック型ピエゾアクチュエータ。数kNもの高い耐負荷重と、1nm未満の高い分解能を同時に実現。

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縦シングルモード(狭線幅) DPSSレーザー

LASOS

473~640nmの多彩な波長ラインナップ。線幅<1MHz, 長コヒーレンス, 単一縦モード。最大出力500mW(空間)

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高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

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4インチ対応 原子間力顕微鏡 Nano Observer AFM XL

CSInstruments

CSInstrumentsのフラグシップモデルであるNano Observer AFMの、4インチサンプル対応のモデルが発売されました。もともとCSInstrumentsの得意とする導電性AFM(Resiscope Ⅱ)、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応したため、半導体サンプルの評価に応用しやすくなりました。

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レーザーダイオードモジュール“LDM-XT laserシリーズ”

LASOS

375~830nm の多彩な波長ラインナップと高品質ビーム。ファイバ出力または空間ビーム出力。最大出力300mW(空間)。スペクトル幅 <3nm (0.1pmまで可)

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消光比100% 小型CWレーザー“PhoxX+”

Omicron Laserage Laserprodukte

消光比100% >180MHz デジタル変調。アナログ強度変調(>25MHz )も可。紫外375nm~赤外1550nm。最大出力300mW

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AMPHOS 高出力ピコ秒レーザーシステム 一覧

AMPHOS
[オススメ]

最大1000W、mJエネルギー出力。繰返し 最高100MHz。フェムト秒~ピコ秒パルスのコンパクト、堅牢、高安定性なターンキーシステム

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最大7波長、2本ファイバー搭載可能レーザーコンバイナー ”LightHUB Ultra”

Omicron Laserage Laserprodukte

最大7波長のDPSS / LDレーザーモジュール(375~1550 nm)をコンパクトパッケージに格納。1波長当り最大300mW

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ピコ秒レーザーマーキングシステム

Photon Energy
[オススメ]

レーザーマーキング・コンプリートシステム。光源、光学系、機械系コンポーネント、ソフトウェア含む。比類のない高い柔軟性と直感的な操作性。独立型デバイスでも組込み用にも提供可能。

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可視光-中赤外 CW用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。

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