その他の製品 一覧

ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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半導体製造装置向け FBG センサー

Photon Control

㈱日本レーザーは、Photon Control社の日本総代理店として、半導体業界におけるファイバーブラッググレーティング(FBG)センサソリューションの独占販売を行います。

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LSMアップグレード・キット

PicoQuant

各社の多光子レーザー顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット

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高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)

CSInstruments

最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)

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ビームアライメント装置一覧

Duma Optronics

長時間・長距離アライメントも高精度モニタ

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偏波スクランブラ “PCD-104” 【General Photonics】

General Photonics

全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。

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超高安定性 干渉計 “GEMINI”

NIREOS
[新商品]

GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。

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レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

高繰り返しパルスとCWの両レーザー対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。

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多機能 偏波コントローラ “MPC-201 & MPC-202” 【General Photonics】

General Photonics

独自の偏光コントロール・アルゴリズムを搭載した高性能偏光コントローラで多彩なコントロール機能を獲得。種々のSOPスクランブリングやSOP変調が可能。コヒーレント・レシーバ性能評価に最適。

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波長&パワー調整機能付き ピコ秒LDドライバ “Taiko PDL M1”

PicoQuant

抜群の柔軟性と使い易さ。5年間保証の安心品質。繰り返し周波数 1 Hz to 100 MHz。バーストパターン、パルス&CWモードを設定可能。

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特注 直接接合ミラー“XTAL CUSTOM”

CMS (Crystalline Mirror Solutions)

直接接合コンポーネントの完全カスタマイズ・サービス

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レーザ光用遮光保護メガネ

山本光学

レーザー使用時に必須の保護メガネ
形状・機能・用途に応じて幅広いモデル

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単一光子分光器 Single Quantum Iris-S19

Single Quantum

単一光子レベルの分光と光子相関計測を簡単・高い時間分可能・高い検出効率で実行

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電動垂直ステージ(自動垂直ステージ)

Newport

高耐荷重・ロングトラベルタイプから高精度タイプまで幅広い精密垂直ステージをラインナップ

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LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。
応用例:異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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スーパーコンティニューム光源用 フィルタ&アクセサリ

NKT Photonics

SuperK シリーズをはじめとするNKT Photonics社のスーパーコンティニューム光源を目的に合わせてより柔軟に使用できる多彩なアクセサリをラインナップ

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高速ラインスキャンエンジン“LSE170/LSE300”

Next Scan Technology

テレセントリックf-θ光学系、高スループットのレーザー材料加工を実現

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NanoX 高速ポジショナ

piezosystem jena

最大10kgもの大荷重でも、高精度な高速ダイナミック・ナノ/マイクロポジショニングを実現。複数のポジショナを組み合わせることも可能。

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ピエゾ駆動ステージ

piezosystem jena

LDなど光学部品の精密ポジショニング及びスキャニング用途に適した、安定性に優れたピエゾ駆動の高精度ステージ。X, Z, XY, XYZ, 5軸, 回転。可動距離 最高1500μm

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スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

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画像解析式 粒度/速度分布 測定ソフトウエアー“VisiSizer SOLO”

Oxford Lasers

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

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コンパクト・低価格原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFMシリーズ”

OME Technology
[新商品]

CrabiAFMは業界最低価格原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。

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高出力200mJ ピコ秒/フェムト秒レーザー Magma

Amplitude Systemes

最大200 mJもの高パルスエネルギーと最大 400GWの高いピークパワーを併せ持つ世界初の工業用グレード・ピコ秒/フェムト秒レーザー。モジュール式プラットフォームでアプリケーションの要件に合わせてカスタマイズ可能。パルス幅 < 500 fs

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