その他の製品 一覧

マイクロレンズアレイ・DOE試作用 3D光造形装置 Quantum X

Nanoscribe

世界初、マスクレス微細加工のための2光子グレースケール・リソグラフィシステム。屈折型、回折型マイクロ光学素子製造のための最先端装置。

Detail

ツインエアー方式高精細ディスペンサ Twin-airⓇ

エンジニアリング・ラボ

極微量滴下を可能にしたツインエアー方式。独自技術のセルフサックバックで液だれ、濡れ上がり無し

Detail

ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize P15 Portable” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm~3,900μm。速度同時測定モデル

Detail

5軸ステージ付き3D測定顕微鏡 S neox Five Axis

SENSOFAR Metrology

S neox Five Axis 光学式3次元測定装置は、高精度回転ステージモジュールと、S neox 3D測定顕微鏡の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。

Detail

厚膜ポジティブ/ネガティブ・トーン・フォトレジスト

micro resist technology
[新商品]

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

Detail

PMD/PDL/SOPエミュレーション装置

General Photonics

偏光モード分散(PMD)、偏光依存損失(PDL)、SOP(偏光状態)の計測・評価に

Detail

フェムト秒レーザー加工装置 Aシリーズ

Oxford Lasers

高性能コンパクトな A シリーズ プラットフォームは、ナノ秒、ピコ秒、またはフェムト秒パルス レーザーを搭載できるレーザー マイクロマシニング設備です。

Detail

レーザー光用遮光カーテン

山本光学

高い表面精度と可視光透過率で優れた視認性

Detail

クロスコリレータ SEQUOIA

Amplitude Technologies

市販品で最高のダイナミックレンジを持つ3次フェムト秒クロスコリレーター。高ピークパワー・フェムト秒レーザーシステムのレーザーパルス形状の厳密な制御に理想的。

Detail

AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)

Isomet

レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz

Detail

非球面放物面鏡

Space Optics Research Labs

テレスコープ・ビームエキスパンダー・コリメータなどに最適な高い面精度

Detail

レジスコープ “ResiscopeII”

CSInstruments

AFM 超高感度電流増幅器

Detail

レーザー光用遮光ウィンドウ

山本光学

ご指定の寸法で正確に加工するレーザーウィンドウ

Detail

ピエゾ駆動光学マウント

piezosystem jena

種々のコンポーネントやアプリケーションに柔軟に対応できる製品を多数ラインナップ

Detail

粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

Detail

中赤外パルス用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) ”772B-MIR”

Bristol Instruments

>50Hzのパルスレーザーが測定可能。QCLに最適。高い波長精度:±0.08 nm @ 8μm、高い光除去比:20 dB、1〜12μmの波長域。CWレーザーも測定可能。

Detail

多機能 偏波コントローラ “MPC-201 & MPC-202”

General Photonics

独自の偏光コントロール・アルゴリズムを搭載した高性能偏光コントローラで多彩なコントロール機能を獲得。種々のSOPスクランブリングやSOP変調が可能。コヒーレント・レシーバ性能評価に最適。

Detail

LED光エンジン“SOLA II シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

アークランプに代わる長寿命 白色光源。紫外・赤外領域の発光が少なく、生体サンプルに与える影響を抑制

Detail

インライン用組込型3D測定センサー “S mart & S onix”

SENSOFAR Metrology

インラインの組み込み用に開発された高性能3D測定センサー

Detail

MicroSense 静電容量変位センサ一覧

MicroSense

本ページからMicroSense LLCの静電容量センサ全カタログをまとめてダウンロードできます。

Detail

偏光計測システム “PSGA-101”

General Photonics

光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成

Detail

ヘキサポッド 6軸平行キネマティックポジショニングシステム

Newport

6軸(X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー)動作。複雑なモーションコントロールに高い耐荷重と高精度を提供する6軸自由度ステージ。

Detail

光ディスク原盤露光装置“MRYシリーズ”

日本レーザー

375nmや405nmの半導体レーザーを搭載した新方式の光ディスクの露光装置

Detail

AFMプローブ Tipless チップレスカンチレバー

MikroMasch

チップレスシリーズは、チップの片側に異なるばね定数と共振周波数を持つ3つのチップレスカンチレバーを備えています。 本シリーズは以前の12シリーズに代わるものです。
チップレスカンチレバーは材料特性と相互作用の測定に使用できます。 ガラス球やポリスチレン粒子などをチップレスカンチレバーに取り付け、AFMのような実験に適用することができます。

Detail
TOPに戻る