その他の製品 一覧

4インチ対応 原子間力顕微鏡 Nano Observer AFM XL

CSInstruments

CSInstrumentsのフラグシップモデルであるNano Observer AFMの、4インチサンプル対応のモデルが発売されました。もともとCSInstrumentsの得意とする導電性AFM(Resiscope Ⅱ)、ケルビンプローブフォース顕微鏡法(KFM)、走査型マイクロ波インピーダンス顕微鏡法(sMIM)などの機能に加え、4インチまでのサンプルに対応したため、半導体サンプルの評価に応用しやすくなりました。

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100~200W パルスレーザークリーニングシステム

Maxphotonics

100W パルスファイバレーザー使用のハンドヘルド型クリーニング装置。

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分子間相互作用解析装置 “QCM-D”

3T analytik

リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析高性能で低価格

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LIBSオンライン元素分析システム

SECOPTA

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。
応用例:異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析

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量子効率測定装置“IQE-200”

Oriel (Newport Brand)

外部・内部量子効率を同時測定できる経済的なソリューションです

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高出力高精度 ピコ秒ダイオードレーザードライバー Taiko PDL M1

PicoQuant

パワフルで精密なピコ秒ダイオードレーザードライバー、5年間保証の安心品質。繰り返し周波数 1 Hz ~ 100 MHz。バーストパターン、パルス&CWモードを設定可能

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レーザ光用遮光保護メガネ

山本光学

レーザー使用時に必須の保護メガネ
形状・機能・用途に応じて幅広いモデル

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三次元粗さ解析走査電子顕微鏡 “ERA-600シリーズ”

エリオニクス

世界で唯一、4本のSED検出器による高コントラスト観察画像とナノレベル立体形状の取得が可能。高分解能SEM観察と試料表面の形状測定、表面形状のパラメータ算出も一台で完結。精密工学会技術賞を受賞しました。

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汎用テラヘルツ・イメージングシステム TeraEyes-HV

Lytid
[新商品]

汎用性の高いリアルタイム・テラヘルツ・イメージング・システムで、高解像度アプリケーションに好適。25 FPS。2~5 THz範囲で最大6つのQCLチップを搭載可能。高解像度 最小 250 µm。複数の照明オプション。1クリックで簡単光学構成(反射/透過)。

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Optical Measurement製品

Newport

ニューポートの光測定機器は、連続光やパルス光のパワーおよびエネルギーや波長などビーム特性測定をに好適な機器です。
ニューポート社製 Optical Measurement製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。

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単一光子固体光源 Single Quantum Hermes

Single Quantum

高輝度、固体の単一光子光源。最高 8つの光源チップを搭載可能。同社の超電導ナノワイヤ単一光子検出器互換。

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可視光-中赤外 CW用 レーザー・スペクトラム・アナライザ(LSA) “771シリーズ”

Bristol Instruments

CWレーザー測定対応。波長精度 最高±0.0001nm。1台で波長測定&スペクトル分析が可能。可視光(VIS)から中赤外(MIR)領域まで (375nm to 12μm) の波長域をカバー。マイケルソン干渉計ベース。パルスレーザー(>50kHz)の測定が可能。

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スペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”

General Photonics

スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化

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AFMコントローラー “Galaxy Dual”

CSInstruments
[新商品]

Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに新しい測定機能を追加し、進化させるAFMコントローラーです。

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真空対応 高精度位置センサ

MicroSense

高真空・超高真空対応プローブ
低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能

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レーザー加工ヘッド“OPTICEL”

レーザックス

幅広い要求事項に柔軟に対応する、信頼性、品質、カスタマイズ性に優れたレーザー加工ヘッド

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パルスコンプレッサモジュール COMPRESS

Amplitude Systemes

ピコ秒/サブピコ秒パルスレーザーシステムのパルス幅を大幅に短縮するモジュール。最高のスループット効率、良好なビーム品質、高い安定性。入力パルス幅 < 150 fs to 1 psを数サイクルパルスまで短縮可能。対応波長 1030 nm, 515 nm

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MicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

高分解能・高速応答
動的変位測定のスタンダードモデル

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偏波の制御 シンセサイザ / アナライザ / スタビライザ / スクランブラ / コントローラ

General Photonics

偏波状態の各種制御・変調で、システム・装置の偏波依存特性を最適化

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PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

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UV/熱/複合ナノインプリント装置 RubiQ™

SCIVAX

ナノインプリントにおける樹脂硬化方式/プレス⽅式/加圧方式の組み合わせを選択可能。かつレトロフィットを可能にしたR&D専用装置。ナノインプリント・プロセス応用を伴う研究開発を加速します。

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高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”

Fluke Process Instruments

超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適

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パワーセンサ、エネルギーセンサ

Ophir

測定パワーμW~数十kW、エネルギーpJ~数十J、対応波長UV~IR、CW&パルス等様々な光源に対応

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半導体レーザー(LD)用コントローラ

ILX Lightwave (Newport Brand)

ILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。

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