製品情報

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INCA 多重分光近接ビーコン

DRS Daylight Solutions

VIS、NIR、SWIR、MWIR、LWIRバンド対応、長距離で検出可能な高輝度マルチスペクトル光信号を提供します。

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1064nm 20W出力ファイバレーザー“KKFL-20”

金門光波

空冷の 1064nm 20W出力 CWレーザー。低ノイズ、狭線幅、高安定性の「ザ・プレミアム」ファイバレーザー。

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ピコ秒パルス&CW発振 ダイオードレーザー“QuixXシリーズ”

Omicron Laserage Laserprodukte

ピコ秒(最小パルス幅50ps, 最高100MHz繰返し)&CWの両発振が可能な高機能エレクトロニクス完全一体型ダイオードレーザーシステム。375~2090 nm範囲の多彩な波長ラインナップ。最大CW出力500mW、ピークパワー 最高2.5W。

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高出力HeCdレーザー装置“IKシリーズ”

金門光波

空冷・低消費電力・低コスト。325.0nm(最大100mW) and/or 441.6nm(最大180mW) CWレーザー。

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緊急アクチュエータセンサスイッチ MR381

Micronor

MR381シリーズ非常アクチュエータ(E-ACTUATOR)スイッチは、従来の電気機械式ソリューションの機能を超えて、危険な環境、長距離、 EMIイミュニティが必要な場所に展開できる、革新的な緊急信号システムです。

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中赤外 (MIR) ブロードバンド光源 “ASE-2000”

NPI Lasers

中心波長 1930±20 nm, バンド幅 (-20dB) >170 nm, 平均出力パワー>10 mW。広範な波長域と優れたパワー安定性。光コンポーネントの試験、分光、ガスセンシング、バイオメディカル、OCTなど幅広い用途に応用可

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チューナブル・光音響イメージング光源“PHOCUSシリーズ”

Opotek

690~950 nm, 1200~2600 nm。繰返し10 or 20Hz (Phocus HR Mini のみ100Hz)。パルス幅5~9 ns。リングキャビティOPOベース 波長可変レーザー

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

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ピコ秒レーザーマーキングシステム

Photon Energy
[オススメ]

レーザーマーキング・コンプリートシステム。光源、光学系、機械系コンポーネント、ソフトウェア含む。比類のない高い柔軟性と直感的な操作性。独立型デバイスでも組込み用にも提供可能。

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高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”

Fluke Process Instruments

超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適

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超小型 波長可変OPOシステム“OPOLETTEシリーズ”

Opotek

波長範囲410~3450nm, UVモジュール装着で210~410nmもカバー。繰返し周波数20 Hz。パルス幅 7ns。

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導電性 SPMプローブ

AppNano

特殊な金属コーティング処理した高伝導性ドープ・シリコンプローブを採用。電気力顕微鏡(EFM)や磁気力顕微鏡(MFM)など高度なAFMアプリケーション向けに最適なSPMプローブ。高い解像度と最高の導電性(感度と寿命)を同時に実現。

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半導体レーザー(LD)用コントローラ

ILX Lightwave (Newport Brand)

ILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。

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フォトンカウンティング検出器(光子計数検出器)

PicoQuant

光子計数検出器としてPMT(光電子増倍管)、HPD(ハイブリット光電子増倍管)、SPAD(単一光子アバランシェダイオード)にてフォトンカウンティングが可能です。紫外から近赤外の範囲をカバー。

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単一光子分光器 Single Quantum Iris-S19

Single Quantum

単一光子レベルの分光と光子相関計測を簡単・高い時間分可能・高い検出効率で実行

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ラインスキャナ型 非接触温度計“MP150シリーズ”

Fluke Process Instruments

512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ

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最先端 フラッシュランプ励起 ナノ秒 YAGレーザー&ガラスレーザー

Amplitude Technologies

高度な要求に応える、特別かつ無二のナノ秒パルス・レーザーソリューション。
Premiumlite-YAG YAGレーザー:>75 J @1064 nm, >55 J @532 nm、繰返し周波数 10 Hz
Premiumlite-Glass ガラスレーザー:>250 J @1053 nm, >200 J @527 nm、繰返し周波数 0.1 Hz

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LMS レーザー加工用ソフトウェア

Newport

レーザー加工システム制御用のオールインワン・ソリューション。パラメータを入力してクリックするだけの、特別なスキルがいらない簡易操作ソフトウェア。

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Optics製品

Newport

ニューポートのコーティング技術は、高出力のエキシマからYAGまで、 広範囲に亘って対応しています。
ニューポート社製 Optics製品の詳細は、専用サイトをご参照下さい。

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マイクロレンズアレイ・DOE試作用 3D光造形装置 Quantum X

Nanoscribe
[新商品]

世界初、マスクレス微細加工のための2光子グレースケール・リソグラフィシステム。屈折型、回折型マイクロ光学素子製造のための最先端装置。

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EO光偏向器

Conoptics

高速・高分解能・高精度な偏向器
深紫外、紫外、可視から近赤外域まで対応

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NKT Photonics社 産業用途ピコ秒/フェムト秒レーザー

NKT Photonics

NKT Photonics社では産業用途向け光源として、パルス幅はピコ秒からフェムト秒、また最大出力パワー 40W(ピコ秒) までのさまざまなウルトラファーストレーザーを製造しています。繰返し周波数は、可変と固定、またシングルショットパルスやバーストモードを選択でき、アプリケーションに最適な超高速レーザーを提供いたします。多彩な標準モデルだけでなく、OEMにも対応いたします。 お気軽にお問合せください。

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3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体

MikroMasch

測定用標準基板・テストサンプル・校正構造体
 
– AFM 校正用構造体 測定用標準基板 HOPG
– AFM 校正用構造体 TGXYZ
– AFM 校正用構造体 TGX
– AFM 校正用構造体 TGF11シリーズ

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