製品情報

製品一覧

パワーセンサ、エネルギーセンサ

Ophir

測定パワーμW~数十kW、エネルギーpJ~数十J、対応波長UV~IR、CW&パルス等様々な光源に対応

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2軸ガルバノスキャナ

RAYLASE
[新商品]

レーザービームを2次元で偏向・集光するXY偏向ユニットです。小~中規模程度の加工エリアで、高速処理が必要なさまざまなアプリケーションに好適です。

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高性能サーモグラフィ “VarioCam HD head” シリーズ

InfraTec

高解像度、高分解能、高精度のサーマルイメージを得ることができる高性能サーモグラフィ

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ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize P15 Portable V” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm~3,900μm。速度同時測定モデル

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縦シングルモード(狭線幅) DPSSレーザー

LASOS

473~640nmの多彩な波長ラインナップ。線幅<1MHz, 長コヒーレンス, 単一縦モード。最大出力500mW(空間)

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最大150μJ出力 高機能フェムト秒/ピコ秒レーザー Satsuma

Amplitude Systemes

革新的なファイバアンプ技術によるコンパクト、ハイパワー、高エネルギー、高繰り返しのフェムト秒/ピコ秒ファイバレーザー。パルス幅は最短 350 fs – 10 ps、繰返し周波数 single shot to 40MHz、最大平均出力 50W、最大パルスエネルギー 150 µJ

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3~13μm ハイパワー CW&パルス波長固定中赤外レーザー“Aries-2”

DRS Daylight Solutions

ハイパワー 中赤外レーザー。CW発振 or パルス発振。堅牢・安定した共振器構造より優れた線幅制御と波長安定性を実現

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フェムト秒ファイバー伝送モジュール Fiber

Amplitude Systemes

中空コアファイバー技術で、分散と非線形の影響を抑えた超短パルスレーザー。ファイバー長 1,2,5m(要相談)、波長 1030nm。

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266nm CW, 超小型UV DPSSレーザー“FQCW266シリーズ”

CryLaS

266nm, CW(連続波)レーザー, 出力 10~550mW 空冷式。縦モードシングル 300kHz

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レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

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NKT Photonics社 サイエンス向けピコ秒/フェムト秒レーザー

NKT Photonics

最大出力 10 W。繰返し周波数 固定または可変。シングルショット/バーストモードなど、用途に応じて最適なウルトラファーストレーザーを提案します。信頼性の高い高品質レーザーで、カスタマイズも対応。最先端の研究用途に最適な製品を提案いたします。

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ミニマルCD-SEM

TCK

ミニマル規格に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)

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光ディスク原盤露光装置“MRYシリーズ”

日本レーザー

375nmや405nmの半導体レーザーを搭載した新方式の光ディスクの露光装置

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レーザー走査型顕微鏡(LSM)用 コンパクト FLIM・FCS アップグレードキット

PicoQuant

各社の多光子レーザー走査型顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット。コンパクトFLIM・FCSアップグレードキット

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ナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”

浜松ナノテクノロジー

ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。
分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。

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厚膜ポジティブ/ネガティブ・トーン・フォトレジスト

micro resist technology
[新商品]

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

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粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

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テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”

HÜBNER

テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。

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中赤外 ツリウムドープ・ファイバアンプ“ TDFA & TDFA HP”

NPI Lasers

波長範囲 1880-2000 / 1900-2050 nm, 平均出力 >100 mW /1.3 W。 幅広いゲイン波長域、低ノイズ、優れた出力安定性を有します。

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コンパクト モジュール式の蛍光寿命分光計 FluoTime 250

PicoQuant

蛍光寿命分光計。コンパクトモジュール方式 TCSPC,MCS(マルチチャンネルスケーリング)の双方データ取得可能。測定可能蛍光寿命約10psから数百ms。スペクトル範囲:255〜1550nm。完全自動化されたハードウェア制御。アプリケーションウィザード・スクリプト言語により多彩な機器に対応可能

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チューナブル Qスイッチ LD励起レーザー“XOPG”

Xiton Photonics

1.35~4.5μm 波長可変。最大出力 2.5W。10ns未満の短パルス幅。繰返し周波数5~20 kHz・最大エネルギー160 μJ。

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デポラライザ “DEP”

General Photonics

レーザー出力を無偏光化するデポラライザです。外部からの電源供給が不要なパッシブデバイスです。
標準仕様ではコヒレンス長10mの光源まで使用可能です。数kmのコヒレンス長を持つレーザーのためにカスタムすることも可能です。

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スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

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レーザー光用遮光ウィンドウ

山本光学

ご指定の寸法で正確に加工するレーザーウィンドウ

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