その他の製品 一覧

コンパクト偏波ディテクタ “PDD-003”

General Photonics

2つの直行した偏光成分の光パワーを同時に計測します。
小さなボディーに偏光スプリッタとフォトディテクタを内蔵しています。

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3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ

SENSOFAR Metrology

3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。

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高性能蛍光寿命スペクトロメーター“FluoTime 300”

PicoQuant

高性能TCSPCモジュール搭載のフルオートマチックの高性能蛍光寿命スペクトロメータ。
蛍光減衰をピコ秒分解能で測定。定常状態の蛍光異方性やりん光の測定も可能。

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LEDソーラーシミュレーター“VERASOL”

Oriel (Newport Brand)

LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ

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キセノン/ハロゲン・イルミネータ“APEX 2”

Oriel (Newport Brand)

簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム

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ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize P15 Portable” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径5μm~3,900μm。速度同時測定モデル

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FOG用ファイバーコイル “FC シリーズ”

General Photonics

ファイバーコイルは長さ50m〜5km、直径15mm〜120mmに対応します。
コイルは独自の含浸接着剤で構成され、信頼性を高められています。

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消光比メータ “ERM-202”

General Photonics

PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.

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PDL エミュレータ“PDLE-101”

General Photonics

高速トランレシーバなどのPDL誤差計測やPDLトラッキング速度の定量化などPDL関連の検査・計測に最適なPDL発生&エミュレータ

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ラージエリア 3D形状測定センサー S wide

SENSOFAR Metrology
[新商品]

デジタルマイクロスコープと高分解能形状測定装置両方の長所を提供。ボタンを1回押すだけで測定を開始できる非常に使い易いデザイン。

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高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

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PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”

Oxford Lasers,日本レーザー

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

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偏波スクランブラ “PCD-104”

General Photonics

全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。

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量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”

ILX Lightwave (Newport Brand)

レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ

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PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

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レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS

Sympatec

乾式測定における試料分散性能と測定再現性に優れており、凝集しやすい試料でも安定して測定できます。世界各国に多数の納入実績があり、製薬、化学、磁性体、食品などの様々な業界で採用されています。(測定範囲: 0.1~3500 µm)

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高精細マイクロ・ハンドディスペンサ

エンジニアリング・システム

実体顕微鏡下での手作業に最適なマイクロ・ハンドディスペンサ

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量子カスケードレーザー・コントローラ“SideKick”

DRS Daylight Solutions

Daylight Solutions社のパルス、CW&パルス、CW-MHF 中赤外レーザー用の多機能コントローラ。業界トップクラスのノイズ性能を達成。

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偏光度メータ “DOP-201”

General Photonics

光源の偏光度 (DOP) をリアルタイムに計測。特許の最大/最小サーチ技術により、低DOPも高DOPも正確に測定

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AT1 ガラス基板欠陥検査装置

Lumina Instruments

Lumina Instruments社のAT1は、他に類を見ない水準の、高速・高感度レーザスキャニング欠陥検査装置です。

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簡易型レーザークリーニング装置

TRUMPF (旧SPI Lasers)

ナノ秒パルスファイバーレーザー使用 高速&高品質 表面クリーニング。100W or 200W出力モデル

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レーザーアブレーション装置

Elemental Scientific Lasers (ESL)

高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

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100μJ出力 高機能フェムト秒レーザー Yuja

Amplitude Systemes

多機能で超コンパクトな 100μJ, 10W 出力のフェムト秒レーザー。繰返し周波数 single shot to 40MHz。

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ZentriForm(ゼントリフォーム) マイクロ遠心成型機

3T analytik

高品質なマイクロ構造を高速かつ安定的に作製できます。マイクロ流路の試作に最適です。

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