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その他の製品
Nanoview 1000 AFM
従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
ナノポジショニング・リニアステージ（ピエゾ駆動直進ステージ）
ナノメートル分解能の圧電素子モータベース・直進ステージ。単軸/多軸、一体型/モジュール式、オープンループ/クローズドループを用途に応じて選択可能
FT-IRスキャナ“8035シリーズ”
モジュラーユニットを選択・構成することによりアプリケーションに合わせて柔軟に構成可能
電動垂直ステージ（自動垂直ステージ）
高耐荷重・ロングトラベルタイプから高精度タイプまで幅広い精密垂直ステージをラインナップ
偏波感受型バランスフォトディテクタ “PBPD-001” 【General Photonics】
PBPD-001 は偏波に対する感受性を持った差分フォトディテクタです。低ノイズかつ高いコモンモードノイズ除去比、高コンバージョンゲイン、ワイドバンド、コンパクトな使いやすいモデルです。
コンパクト偏波ディテクタ “PDD-003” 【General Photonics】
2つの直行した偏光成分の光パワーを同時に計測します。
小さなボディーに偏光スプリッタとフォトディテクタを内蔵しています。
非球面放物面鏡
テレスコープ・ビームエキスパンダー・コリメータなどに最適な高い面精度
MicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ
高分解能・高速応答
動的変位測定のスタンダードモデル
ソフトウェアパッケージ
<p>3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。</p>
ハイスループット・マルチチャンネル TCSPC装置 “MultiHarp 150”
4ch. または 8ch. 独立のマルチ入力チャンネル。共通Syncチャンネル (最高1.2GHz)。比類のない短いデッドタイム(650 ps /1ch.)で最高のスループットを実現。
Core シリーズ 機械物性試験装置
ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置
3軸ガルバノスキャナ
2次元のXY偏向ユニットにZ軸を追加し、3次元加工に対応した3D偏向ユニットです。小スポット径で最大2,000 mm x 2,000 mmもの広いスキャンエリアを処理できます。
電動回転ステージ(自動回転ステージ)
直接駆動の直読式高速回転型から、多用途・低価格タイプまで、100モデル以上を展開
クロスコリレータ SEQUOIA
市販品で最高のダイナミックレンジを持つ3次フェムト秒クロスコリレーター。高ピークパワー・フェムト秒レーザーシステムのレーザーパルス形状の厳密な制御に理想的。
ビームプロファイラ
UV～ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器
波長可変レーザー “TLS-101” 【General Photonics】
13 dBm＠C-band, 10 dBm＠L-band。ステップ分解能 50GHz。WDM検査＆計測やOCTに好適なチューナブル光源
ITUグリッドにロックされた正確な波長出力
ピエゾ駆動ステージ
LDなど光学部品の精密ポジショニング及びスキャニング用途に適した、安定性に優れたピエゾ駆動の高精度ステージ。X, Z, XY, XYZ, 5軸, 回転。可動距離 最高1500μm
PMD & PDL 校正標準器“CSシリーズ” 【General Photonics】
DGD, 2次 PMD, PDL の校正標準器。使用材料固有の光学及び複屈折特性により、高い精度を保証。
偏波ディテクタ “PDD-001” 【General Photonics】
偏光スプリッタとフォトディテクタ、回路をコンパクトなボディに組み込んだ偏光フォトディテクタです。<br />
高い消光比と信頼性を備えたモデルです。
光アイソレーター“700シリーズ”
光ファイバーや光学素子からの戻り光を除去し、レーザー本体を保護。350～1135nm。
PIV アクセサリ
VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります
量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”
レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ
超低ブラウンノイズ 半導体スーパーミラー “XTAL STABLE”
高精度干渉用途に好適なキャビティエンドミラー
レーザースタビライザー”LASS-II”
最新の電気光学フィードバックループにより、レーザーの特性と機能を簡単に制御
偏光度メータ “DOP-201” 【General Photonics】
光源の偏光度 (DOP) をリアルタイムに計測。特許の最大/最小サーチ技術により、低DOPも高DOPも正確に測定
