製品情報

製品一覧

プラグ&プレイ イオンジェネレータ“KAIO”

SourceLAB

レーザーイオン生成及びプラズマ相互作用のためのレーザーモニタ・評価。TNSAベースのパワフルツール。EProton = 4 – 5 MeV (cut-off)

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高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”

Fluke Process Instruments

超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適

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AFMコントローラー “Galaxy Dual”

CSInstruments
[新商品]

Pico STM / 5100 / 5500 / Mulimodeに新しい測定機能を追加し、進化させるAFMコントローラーです。

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OEM向け固体レーザー増幅器“neoVAN”

neoLASE

小型・高い柔軟性・高い安定性のアンプユニット。簡単操作でエネルギー及びパワー増幅。出力パワー 5~100 W。パルスエネルギー 最大 5mJ。CW ~ ピコ秒パルス。利得 最大40dB。

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1ch. ピコ秒レーザーダイオード用コントローラー “PDL-800D”

PicoQuant

安定発振&使いやすさ抜群。PicoQuant社LD/LEDレーザーモジュール
パルス&CW兼用シングルチャンネルドライバ。繰返し 31.25kHz ~ 80MHz or CW

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テラワット出力フェムト秒レーザー PULSAR TW

Amplitude Technologies

1TW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大6.25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高10Hz

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超コンパクト半導体励起UVレーザー“FQCW266シリーズ”

CryLaS

266nm, CW(連続波)レーザー, 出力 10~550mW 空冷式。単一縦モード 300kHz

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本質安全防爆 雷免疫 光ファイバ式 Eストップ micronor MR387

Micronor

MR387シリーズ Eストップは、光ファイバを使用した完全にパッシブなEストップです。爆発性雰囲気、長距離、雷免疫、RFI、EMI が要求される場所に最適です。最大10km 離れた場所でも使用可能です。

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AT1 ガラス基板欠陥検査装置

Lumina Instruments
[新商品]

Lumina Instruments社のAT1は、他に類を見ない水準の、高速・高感度レーザスキャニング欠陥検査装置です。

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レーザー光用遮光ウィンドウ

山本光学

ご指定の寸法で正確に加工するレーザーウィンドウ

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定量的フォーススペクトロスコピー SPMプローブ

AppNano

ナノインデンテーション、フォーススペクトロスコピー、機能化研究、トレンチ深さ計測など。アプリケーションに最適な複数の種類のSPMプローブをラインナップ。特注についてもご相談ください。

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高速ラインスキャンエンジン“LSE170/LSE300”

Next Scan Technology

テレセントリックf-θ光学系、高スループットのレーザー材料加工を実現

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超ハイダイナミックレンジ・クロスコリレータ SEQUOIA HD

Amplitude Technologies

1013もの高いダイナミックレンジを達成3次フェムト秒クロスコリレータ。 特に高磁場物理学で一般に使用される高強度レーザーのパルス特性評価に極めて有用。

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超小型 フェムト秒レーザオシレータ Mikan

Amplitude Systemes

平均出力1.3W 超コンパクトなフェムト秒レーザーオシレータ。空冷のターンキーシステム。出力パルスエネルギー 24nJ, パルス幅 250fs, 繰返し周波数 54MHz

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大気・真空対応ナノ位置決めステージ

attocube systems

ピエゾ駆動ナノポジショナ―。大気圧から超高真空(UHV)、極低温に対応できる多彩なラインナップ。

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乾式分散器(動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC用)

乾式分散器(動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC用)

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ACCESS チップビュー・SPMプローブ

AppNano

シャープなシリコンプローブでAFM探針の試料表面接触時に直接視覚化可能。高い再現性、堅牢性、シャープさをもつナノ加工 高ドープ単結晶シリコンで高解像度イメージングを実現

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材料プロセス用 ピコ秒DPSSレーザー CEPHEUS

Photon Energy

ピコ秒レーザー加工、OEM組込みに最適なモードロック・ダイオード励起Nd:YVO4レーザー。透明材料を含む多彩な素材の非熱加工や、高繰り返し周波数、ピコ秒パルスによる高速加工、精密加工に最適。SHG, THG可。最大平均出力50W、最大繰返し1MHz、パルス幅15ps、最大パルスエネルギー300 μJ

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Core シリーズ 機械物性試験装置

Micro Materials

ナノインデンテーション試験、マイクロインデンテーション試験、ナノスクラッチ試験、マイクロスクラッチ試験、ナノインパクト試験機能がそれぞれ独立したコンパクトな機械特性測定装置

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AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)

Isomet

レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz

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配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”

KEMTRAK

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン

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高出力マイクロチップレーザー装置 ナノ秒mJパルス“HiPoLas”

CTR

最大出力 40 mJ, 最大繰り返し周波数 1kHz, パルス幅 2~10 ns。レーザー点火等 過酷環境下での使用に好適。超コンパクト&高出力

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attocube レーザー干渉式センサ概要

attocube systems

ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質に対応

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PDL エミュレータ“PDLE-101” 【General Photonics】

General Photonics

高速トランレシーバなどのPDL誤差計測やPDLトラッキング速度の定量化などPDL関連の検査・計測に最適なPDL発生&エミュレータ

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