製品情報

AR/VR/MRグラスのトラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能で、仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定します。トラッキングと時間特性に影響を与えるコンポーネントやアセンブリをテストできます。

産業/理科学両用のアプリケーション向けに設計された、ゲインスイッチ方式のピコ秒パルスダイオードレーザーです。 10種類以上のマルチな波長から選択可能で、内部および外部トリガを備えたシングルショットから40 MHzの繰り返し周波数により、非常に柔軟なシステムが実現しました。

ナノ構造の幾何学的パラメータの変位や光学特性の変化を、製造中に非接触かつ非破壊で判定します。フォトニクス、半導体、量子技術のためのグレーティングや薄膜の品質検査に好適です。

AR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。

BOOSTIK HPは、優れたビーム品質、高出力パワーのユニークな組み合わせを備えた、メンテナンスフリーの単一周波数ファイバーレーザーです。ターンキーラック19″システムには、制御電子機器と電源が含まれており、計測学などでの実験室での作業や実験研究に最適です。BOOSTIK HPシステムの動作波長を1または1.5 µmの範囲で自由に選択でき、優れたビーム品質により効率的な周波数変換が可能になります。

Koheras BOOSTIKは、低ノイズ、狭線幅のKoherasシードレーザー用に設計されたコンパクトなファイバーアンプモジュールで、1.5ミクロンの波長範囲で利用できます。 増幅器モジュールは、Koheras ACOUSTIKマルチ波長システム用のラインカードとして設計されており、Koheras BASIKシードレーザーもサポートしています。このアンプは、1545-1565 nmの範囲で動作するように設計されています。 BASIK E15およびC15シードレーザーモデルと完全に互換性があり、最大2 Wの光出力パワーがあります。

AR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。

Koheras ACOUSTIK は最高16台の Koheras BASIK X15 を1台のシステムに統合したマルチチャンネル単一周波数ファイバレーザーです。全モジュールを簡単にまとめて駆動・制御できるのはもちろん、必要に応じてチャンネル数の変更も可能です。より高い出力が必要な場合には、スロットをアンプモジュールに割り当てることもできます。

He-Neレーザーの電源装置は、長寿命、低ノイズ、OEM組込みにも適した設計になっています。遠隔操作も対応しています。最新のマイクロコントローラーによる制御で様々なレーザーモデルに対応いたします。

レーザー波長計872シリーズ：極細分解能で可視・近赤外域を網羅、量子コンピュータや原子冷却にも最適独自のフィゾー・エタロン技術で200kHzまでの測定分解能を実現したレーザー波長計872シリーズは、可視域から近赤外域までの幅広い波長に対応し、レーザー周波数安定化に最適です。量子コンピュータや原子冷却など、高精度な波長測定が求められる研究開発にご活用いただけます。最大8台までのレーザー接続と安定化を可能にするマルチレーザーPIDコントローラーや、ファイバーオプティクススイッチもアクセサリでご用意しております。

Koheras MIKRO は、産業用センシングシステムへの組込み向けに開発された、市場で最も小さい単一周波数ファイバレーザーです。標準モデルは1550nm、 40 mW 出力のモデルをご用意しています。1535-1580 nm範囲からのご指定も承ります。 DASや振動計などの産業用センシングシステムへのOEM向けで、比類のない信頼性と堅牢な設計を特長としています。シングルモードDFBファイバーレーザーに基づいており、モードホップのない超安定のパフォーマンスを提供します。

AdjustiKシステムは、シングルステージのアンプシステムを採用した、最大出力 200 mW の狭線幅＆低ノイズ 単一周波数ファイバレーザーです。ベンチトップ型のレーザーシステムシリーズは、レーザーのセッティングが簡便で、主に干渉計センシングやライダーなどの研究・開発ツールとしてラボ使用をお勧めしています。

NanoViewラージスキャナシリーズは4～12インチ（100～300 mm）のサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。

DPSSL-XPシリーズは、小型のDPSSレーザーです。波長 473nm〜640nmをラインアップ。分光学、干渉計、共焦点・蛍光顕微鏡、バイオ分析研究、粒子計測、産業計測、ホログラフィー、科学教育分野など幅広い用途でご使用いただけます。コンパクトでメンテナンスフリー設計、優れたビーム品質を持ち、長期安定性に優れています。必要な電子制御回路は内蔵され、OEM製品への組み込みが簡単です。

ARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。

Koheras BASIK 単一周波数DFBファイバーレーザーは、優れた低ノイズ特性を誇る産業用エルビウムおよびイッテルビウムレーザーです。高価な科学研究用システムでしか得られなかった、低位相ノイズとヘルツ（Hz）オーダーの線幅を実現しています。

高品質かつ高精度なタイムベースと低ジッタ・モードを持つデジタルサンプリングオシロスコープです。超低ジッター性能を実現。コスト効率が高く、スケーラブルで高い拡張性を備えています。高精度な測定を同時に実行が可能で、テストのスループットを最適化し、テスト全体のコストを削減できます。コンパクト設計、リモートコントロールとAPIで装置に簡単に組込んでいただけます。

液体や固体の材料分析用途に最適な、CW発振、縦モードシングルのチューナブル半導体レーザーです。ユーザーのニーズに合わせたカスタム仕様でOEM製造いたします。中心波長の選択可能範囲 1500-3500 nm、波長可変域 約100-150 nm、出力パワー 1-5 mW、チューニング速度 100nm/ms（いずれも中心波長、環境温度などにより異なります）

1200– 2300 nm（拡張短波赤外 ）に対応、ハイパースペクトルカメラHERA Extended SWIRは優れた空間スペクトル分解能と、低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。分解能（636x508）TE付き拡張InGaAs を搭載により高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ（開口）で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。

波長375～1550nm。高出力レーザーを最大6つ搭載可能。マルチモードに対応。オプションにて切替用NDフィルターを内蔵。広視野レーザー照明にご使用いただけます。