その他の製品 一覧

Nano-Observer ナノオブザーバーAFM

CSInstruments

KFMや導電性AFMで非常に高いパフォーマンスを発揮するAFMです。環境制御に対応。高分解能原子間力顕微鏡

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超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”

NIREOS
[新商品]

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

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ガス・溶液 赤外分析ユニット ChemDetect

DRS Daylight Solutions

中赤外量子カスケードレーザー(QCL)を用いて化学物質を分析・同定する小型の高性能スペクトロメータ。高速、広帯域波長、高度な非冷却検出機能、高い化学同定機能。

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高速ラインスキャンエンジン“LSE170/LSE300”

Next Scan Technology

テレセントリックf-θ光学系、高スループットのレーザー材料加工を実現

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AFMプローブ 校正用構造体 測定用標準基板 MikroMasch

MikroMasch

MikroMasch®はAFMプローブ 校正用構造体・測定用標準基板を提供するブルガリアのナノテク企業です。同社は、定番のプローブ/カンチレバー等を低価格・短納期でご提供いたします。

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MicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

シリーズ最高分解能・高速応答モデル
高速変位を高精度で測定

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テラヘルツ・イメージング装置“T-SENSE”

HÜBNER

テラヘルツ波とミリ波により、封書から小包までの内包物を精密・安全・高速に可視化

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単一光子カウンティング用カメラ LINCam

Photonscore

スキャン不要の時間相関単一光子計数用のカメラ。手軽に個々の光子の到着時間とXY位置を計測

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静電吐出方式高精細ディスペンサ Q-Jet

浜松ナノテクノロジー

エアー式ディスペンサでは実現不可能な細線描画、ピエゾ式インクジェットでは不可能な高粘度吐出を可能にする従来の常識を覆した高機能パターニング技術。

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ハイスループット・マルチチャンネル TCSPC装置 “MultiHarp 150”

PicoQuant

4ch. または 8ch. 独立のマルチ入力チャンネル。共通Syncチャンネル (最高1.2GHz)。比類のない短いデッドタイム(650 ps /1ch.)で最高のスループットを実現。

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100μJ出力 高機能フェムト秒レーザー Yuja

Amplitude Systemes

多機能で超コンパクトな 100μJ, 10W 出力のフェムト秒レーザー。繰返し周波数 single shot to 40MHz。

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AOモジュレータ(音響光学変調器)

Isomet

レーザー光強度の制御や高速スイッチングに最適。デジタル/アナログ、RF周波数、シングル/ダブルなど、広範なラインナップから選択可。

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フォトディテクター

Electro-Optics Technology

フォトディテクターを豊富にラインアップ。高速変調CWレーザー、Q-スイッチレーザー、モードロックレーザーの強度・パルス波形のモニタリングに最適。組込み用途にも広い実績。

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ポータブル型 粒度分布測定装置 “VisiSize Portable” (新画像解析式)

Oxford Lasers

キャリーケースで運搬のでき、取り扱いの簡単な小型軽量タイプ。粒径10μm~3,900μm。速度同時測定モデル

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3D測定顕微鏡 R&D向けコンパクトモデル ”S lynx”

SENSOFAR Metrology

コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置

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波長&パワー調整機能付き ピコ秒LDドライバ “Taiko PDL M1”

PicoQuant

抜群の柔軟性と使い易さ。5年間保証の安心品質。繰り返し周波数 1 Hz to 100 MHz。バーストパターン、パルス&CWモードを設定可能。

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ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

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コンパクト レーザー微細加工装置 “ALPHAシリーズ”

Oxford Lasers

顧客の要求に沿った最先端レーザー加工システム。1064, 532, 355 nm 発振ナノ秒 DPSSレーザー使用

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粒度分布測定装置 “VisiSize” PDIA式(新画像解析式)

Oxford Lasers

最新解析アルゴリズムと新特許光学系により、在来型や他方式を超える安定性と精度を実現。測定レンジ。サイズ:1μm ~15,600μm。速度:~1,000m/s@100μm

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スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

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高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

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3D測定顕微鏡シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。

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DUV反射屈折複合型対物レンズ“μCAT Pantherシリーズ”

Corning Tropel

反射と屈折を組み合わせたDUV用小型レンズ
高NA・長作動距離・高透過率などの高い性能を実現

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FT-IRスキャナ“8035シリーズ”

Oriel (Newport Brand)

モジュラーユニットを選択・構成することによりアプリケーションに合わせて柔軟に構成可能

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