その他の製品 一覧

AO Qスイッチ(音響光学Qスイッチ)

Isomet

音響光学デバイスによる短パルスレーザー発振用Qスイッチデバイス。様々な結晶素材で多様なアプリケーションに対応

Detail

ミニマルCD-SEM

TCK

ミニマル規格に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)

Detail

超ハイダイナミックレンジ・クロスコリレータ SEQUOIA HD

Amplitude Technologies

1013もの高いダイナミックレンジを達成3次フェムト秒クロスコリレータ。 特に高磁場物理学で一般に使用される高強度レーザーのパルス特性評価に極めて有用。

Detail

ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”

HÜBNER

非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB

Detail

超伝導ナノワイヤ単一光子検出器(SNSPD) Single Quantum Eos

Single Quantum

Single Quantum社 独自のナノワイヤー構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用。近赤外領域で比類のない高い効率 >85%と低いタイミングジッタ <15ps (高い時間分解能)。1-24チャンネル。

Detail

電気光学変調器

Conoptics

波長244~4500nmで光強度&位相を変調
高安定性・低電圧・高速

Detail

AOモジュレータ(音響光学変調器)

Isomet

レーザー光強度の制御や高速スイッチングに最適。デジタル/アナログ、RF周波数、シングル/ダブルなど、広範なラインナップから選択可。

Detail

ナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”

浜松ナノテクノロジー

ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。
分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。

Detail

超短光パルス抽出用レーザースイッチングシステム

Conoptics

ピコ秒及びフェムト秒の高速パルスの間引き用に開発

Detail

ハイスループット・マルチチャンネル TCSPC装置 “MultiHarp 150”

PicoQuant

4ch. または 8ch. 独立のマルチ入力チャンネル。共通Syncチャンネル (最高1.2GHz)。比類のない短いデッドタイム(650 ps /1ch.)で最高のスループットを実現。

Detail

差分フォトディテクタ “BPD-003”

General Photonics

OCTやセンシングのSN比を改善するためには、高性能なバランスフォトレシーバが必要です。
BPD-003は最大300MHzまでの帯域に対応します。OEM用に特別設計された低価格、小型、高性能な製品です。

Detail

最大250μJ出力 高機能フェムト秒/ピコ秒レーザー Tangerine

Amplitude Systemes

革新的なファイバアンプ技術によるコンパクト、ハイパワー、高エネルギー、高繰り返しのフェムト秒/ピコ秒ファイバレーザー。パルス幅 <350 fs to >10 ps または最短 150 fs まで、繰返し周波数 single shot to 40MHz、最大平均出力 50W、最大パルスエネルギー 250 µJ。

Detail

レーザーアブレーション装置

Elemental Scientific Lasers (ESL)

高速&高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

Detail

FOG用ファイバーコイル “FC シリーズ”

General Photonics

ファイバーコイルは長さ50m〜5km、直径15mm〜120mmに対応します。
コイルは独自の含浸接着剤で構成され、信頼性を高められています。

Detail

組込型放射温度計“Thermalert 4.0”

Fluke Process Instruments

堅牢で信頼性の高い汎用なソリューション。時間とコストの節約に。

Detail

AOディフレクタ(音響光学ディフレクタ)

Isomet

レーザービームスキャン(ランダム位置、ラインスキャン、連続スポットディフレクション)に最適なRF周波数制御ディフレクタ。高効率。スキャンレート 最高 250 kHz

Detail

ツインエアー方式高精細ディスペンサ Twin-airⓇ

エンジニアリング・システム

極微量滴下を可能にしたツインエアー方式。エンジニアリングシステム社独自技術のセルフサックバックで液だれ、濡れ上がり無し

Detail

ビームプロファイラ

Ophir

UV~ミリ波。CW、パルスの両レーザー光に対応。高精度で信頼性の高いレーザビーム計測機器

Detail

蛍光式光ファイバー温度センサ Photon Control

Photon Control

高周波(RF)・強磁場環境でも信頼性の高い温度測定が可能な蛍光式のファイバー温度計です。
熱電対や放射温度計などの従来の温度計が不向きな用途、半導体製造装置(エッチング、成膜)、FPD、バッテリー、ブスバー/バスバー、開閉器(スイッチギア)、モーター、発電機、医療向け(MRI、ハイパーサーミア)などに最適です。

Detail

高速ラインスキャンエンジン LSE170/LSE300

Next Scan Technology

テレセントリックf-θ光学系、高スループットのレーザー材料加工を実現

Detail

高出力レーザー用非接触ビームプロファイラ“BeamWatch”

Ophir

BeamWatch™ ビームウォッチ 非接触・集光スポット径・ビーム位置計測ビームモニタリングシステム。測定パワー範囲 400W – 100kW。波長 980-1080 nm

Detail

クロスコリレータ SEQUOIA

Amplitude Technologies

市販品で最高のダイナミックレンジを持つ3次フェムト秒クロスコリレーター。高ピークパワー・フェムト秒レーザーシステムのレーザーパルス形状の厳密な制御に理想的。

Detail

3D測定顕微鏡シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。

Detail

スポットプロファイラー“JSP20”

日本レーザー

レーザーの集光スポットを瞬時に測定。パルス光の連続的なモニターも可能

Detail
TOPに戻る