その他の製品 一覧

ファイバーストレッチャー “FST-001”

General Photonics

最大3mmまでの光ディレイ範囲に対応するピエゾ駆動のファイバストレッチャです。アナログ信号もしくは12-bit のTTL信号で制御可能です。

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OEM用 ファイバーコリメーター

Coherent (旧 Electro-Optics Technology)

ファイバーレーザーに最適。特許技術で戻り光による光学系損傷防止。強固なアーマー外皮。多種なファイバーに対応(HI-1060、20/250、980PMおよびカスタム対応)、0.4~5.0mmまでの出射ビーム径、0.08~0.14NAまで対応、対応出力(伝送光)30~400 W、対応出力(戻り光)5~50 W

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MicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ

MicroSense

優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。

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導電性プローブ

MikroMasch

導電性プローブ:- Pt プラチナ、Cr-Au 金 コーティング, – 高分解能導電性 DPERシリーズ, – 低ノイズ導電性 DPEシリーズ

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装置組込み用非接触面粗さ計 S onix sensor

SENSOFAR Metrology

S onixは高スループットな産業向け装置組込み用白色干渉計顕微鏡です。ハイスピードカメラと最適化された光学的・機械設計により、S onixは白色干渉計として最速のシステムとなっています。

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高温測定用 超小型非接触温度計“MI3シリーズ MI1M/2M”

Fluke Process Instruments

超小型温度センサーヘッド、冷却なしで120℃までの温度環境で使用可能。IP65準拠で工業用アプリ ケーションに最適

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レーザパワーメータ, エネルギーメータ(ディスプレイ)

Ophir

オフィール社の豊富なセンサに対応するディスプレイまたはコンピュータインターフェース。業界最高の校正精度、高性能、優れた操作性。使い勝手抜群のユーザーフレンドリーなレーザパワー/エネルギ測定用ソフトウェア。サンプルコマンド公開により、COMオブジェクトやLabVIEWなどユーザーが自由かつ容易にプログラミング可能。

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白色干渉計シリーズ一覧

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデルまで、用途に応じた幅広いラインナップを提供。

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OEMレーザーマーカー

Photon Energy

レーザーマーキングシステムへの搭載用レーザーマーカー。独立型&コンプリートシステムで他のアセンブリラインや特殊マシンへの組み込みにも最適。

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高精度レーザー干渉式変位センサ

attocube systems

ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境(超高真空、高磁場)に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】

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量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”

ILX Lightwave (Newport Brand)

レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ

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非球面放物面鏡

Space Optics Research Labs

テレスコープ・ビームエキスパンダー・コリメータなどに最適な高い面精度

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偏波感受型バランスフォトディテクタ “PBPD-001”

General Photonics

PBPD-001 は偏波に対する感受性を持った差分フォトディテクタです。低ノイズかつ高いコモンモードノイズ除去比、高コンバージョンゲイン、ワイドバンド、コンパクトな使いやすいモデルです。

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ハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー

CSInstruments

高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。

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高性能 蛍光寿命分光装置 FluoTime 300

PicoQuant

蛍光寿命と定常状態の両分光計測が可能な、高性能な完全自動化 分光装置です。時間相関単一光子計数(TCSPC)またはマルチチャネルスケーリング(MCS)により、ピコ秒からミリ秒までの蛍光寿命をカバーします。定常状態と時間分解の両方の分光計測が可能です。

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PDL/IL マルチメータ “PDL-201”

General Photonics

偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。

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汎用テラヘルツ・イメージングシステム TeraEyes-HV

Lytid

汎用性の高いリアルタイム・テラヘルツ・イメージング・システムで、高解像度アプリケーションに好適。25 FPS。2~5 THz範囲で最大6つのQCLチップを搭載可能。高解像度 最小 250 µm。複数の照明オプション。1クリックで簡単光学構成(反射/透過)。

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AFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧

[オススメ]

日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。

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PIV 非コヒーレント・マルチ・パルス・レーザー“FireFly300W”

Oxford Lasers

境界層や壁面流、噴霧の可視化 / PIVに適した非コヒーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタルの反射が低く、金属面などの照明に最適です。最大50 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。

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サブテラヘルツ Sub-THz レーダー トランシーバー

Lytid

FMCW(周波数変調連続波)レーダートランシーバーは、最先端のショットキーダイオード技術に基づくサブTHzデバイスです。最大100 dBのダイナミックレンジ、高い測定レート(7.6 kHz)、優れた透過性と高い解像度を持ち、様々な用途で非接触非破壊検査、密度深度測定、3Dイメージングなど様々なセンシングツールとしてお使いいただけます。

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高出力 18W 1342 nm LD励起固体レーザー“IXDICE ULTRAシリーズ”

Xiton Photonics
[新商品]

平均出力18W、1342nmの高出力LD励起固体レーザー。24時間365日の連続稼働の産業用途に最適

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ナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”

浜松ナノテクノロジー

ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。
分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。

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高速ケミカルイメージングQCL顕微鏡 Spero

DRS Daylight Solutions

業界一の超高速でケミカルイメージ(化学組成マッピング)を測定可能です。1視野のケミカルイメージは35秒で取得できます。固定波数でのイメージングは、毎秒30フレームのリアルタイム取得です。工業サンプルの赤外像を可視化できます。バイオ・医療分野ではがん細胞と正常細胞を赤外吸収スペクトルの違いで判別する研究に応用されています。詳しくは応用例タブをご覧ください。

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ナノポジショニング・リニアステージ(ピエゾ駆動直進ステージ)

Newport

ナノメートル分解能の圧電素子モータベース・直進ステージ。単軸/多軸、一体型/モジュール式、オープンループ/クローズドループを用途に応じて選択可能

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