イメージング装置 製品一覧
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NIREOS超高安定性 干渉計 “GEMINI”GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。
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FSM Precisionローコスト高イメージング品質 AFM Nanoview 1000 AFM従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
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浜松ナノテクノロジーナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。 分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。
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InfraTecハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”最高の感度・精度・空間分解能・速度。測定パフォーマンスに優れた非常に小型で柔軟性の高い製品です。0.015℃の温度分解能、25,000Hzの超高速フレームレート、±1%の温度精度を実現。モジュール設計により様々なシステムに柔軟に対応可能。堅牢なハウジングと長寿命クーラーを装備。
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InfraTec高性能サーモグラフィ “VarioCam HD head” シリーズ高解像度、高分解能、高精度のサーマルイメージを得ることができる高性能サーモグラフィ
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Fluke Process Instruments産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング
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おすすめOxford LasersPIV 非コヒーレント・マルチ・パルス・レーザー“FireFly 500S”境界層や壁面流、噴霧やスプレーの可視化、PIV解析用の光源、溶接の可視化に適した非コヒーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタル面の反射が低く、金属面などの照明に最適です。最大1000 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。
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Oxford Lasers溶接の可視化装置 VisiWeld溶接のアークや炎の光の中を可視化する溶接可視化システム
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HÜBNERファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
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DRS Daylight Solutions高速ケミカルイメージングQCL顕微鏡 Spero業界一の超高速でケミカルイメージ(化学組成マッピング)を測定可能です。1視野のケミカルイメージは35秒で取得できます。固定波数でのイメージングは、毎秒30フレームのリアルタイム取得です。工業サンプルの赤外像を可視化できます。バイオ・医療分野ではがん細胞と正常細胞を赤外吸収スペクトルの違いで判別する研究に応用されています。詳しくは応用例タブをご覧ください。
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Oxford LasersPIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
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HÜBNERテラヘルツ・イメージング装置“T-SENSE”テラヘルツ波とミリ波により、封書から小包までの内包物を精密・安全・高速に可視化
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HÜBNERテラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
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HÜBNERテラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
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TCKミニマルCD-SEMミニマル規格※に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM (※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)
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CSInstrumentsハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。
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CSInstrumentsレジスコープ “ResiscopeII”AFM 超高感度電流増幅器
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CSInstrumentsSoft ResiScope (ソフトレジスコープ) 脆弱な導電性サンプルの電流・抵抗を測定AFMの一つのモード、ソフトレジスコープを使用すると、脆弱で壊れやすい導電性サンプルの抵抗と電流を測定できます。 ソフトレジスコープモードでチップに適用される特定の垂直方向の動きは、接触時の電気的測定を最適化し、チップとサンプルを保持します。 市場で入手可能な他の振動技術とは異なり、ソフト抵抗器はサイクル中一定の力で電流/抵抗を測定します。 電気的測定は、AFM接触モードで行われた測定と同等ですが、より壊れやすいサンプルを測定が可能です。
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CSInstruments高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)



















