イメージング装置
PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”
流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)
最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)
AFMプローブ Tipless チップレスカンチレバー
チップレスシリーズは、チップの片側に異なるばね定数と共振周波数を持つ3つのチップレスカンチレバーを備えています。 本シリーズは以前の12シリーズに代わるものです。
チップレスカンチレバーは材料特性と相互作用の測定に使用できます。 ガラス球やポリスチレン粒子などをチップレスカンチレバーに取り付け、AFMのような実験に適用することができます。
拡張短波赤外 ハイパースペクトルカメラ HERA Extended SWIR
900 – 2300 nm(拡張短波赤外 )に対応、ハイパースペクトルカメラHERA Extended SWIRは優れた空間スペクトル分解能と、低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。分解能(320×256)4段式TEクーラー・14ビットセンサーを搭載により高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ(開口)で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。
ファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”
非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”
テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
テラヘルツ・イメージング装置“T-SENSE”
テラヘルツ波とミリ波により、封書から小包までの内包物を精密・安全・高速に可視化
導電性プローブ
導電性プローブ:- Pt プラチナ、Cr-Au 金 コーティング, – 高分解能導電性 DPERシリーズ, – 低ノイズ導電性 DPEシリーズ
ミニマルCD-SEM
ミニマル規格※に準拠。コンパクトで可搬型ながら高解像度パターン観察を実現した、測長機能付SEM
(※「ミニマル」は独立行政法人産業技術総合研究所の登録商標です。)
長寿命プローブ
長寿命プローブ:- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11
産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”
ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング
短波長赤外カメラ SIRIS
高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なInGaAsセンサベースSWIR。200 fps。液体窒素不要。
蛍光顕微鏡 単一分子顕微鏡・時間分解アプリケーション・超分解能イメージング
PicoQuantは、時間分解共焦点顕微鏡法のためのさまざまなソリューションを提供いたします。 利用可能なシステムには、ピコ秒の時間分解能と超分解能イメージング機能を備えた単一分子の高感度顕微鏡、また時間分解アプリケーションを可能にするすべての主要メーカーのレーザー走査顕微鏡用のアップグレードキットが含まれます。
溶接の可視化装置 VisiWeld
溶接のアークや炎の光の中を可視化する溶接可視化システム
超分解能 時間分解型共焦点 蛍光顕微鏡 MicroTime 200 STED
超分解能を持つ時間分解共焦点顕微鏡。誘導放出抑制(STED)顕微鏡法を使用。光学分解能50nm未満(STED)、励起640nm(オプション:595nmおよび660nm)、SPADおよびHybrid-PMTを使用した最大6検出チャンネル、ゲート付きSTED(gSTED)とgSTED-FCSをサポート
簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”
CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
Soft ResiScope(ソフトレジスコープ)
ソフトレジスコープを使用すると、壊れやすい導電性サンプルの抵抗と電流を測定できます。 ソフトレジスコープモードでチップに適用される特定の垂直方向の動きは、接触時の電気的測定を最適化し、チップとサンプルを保持します。 市場で入手可能な他の振動技術とは異なり、ソフト抵抗器はサイクル中一定の力で電流/抵抗を測定します。 電気的測定は、AFM接触モードで行われた測定と同等ですが、より壊れやすいサンプルを測定が可能です。
AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C
Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。
AFMプローブ SiN 窒化シリコンプローブ
シリコンナイトライドカンチレバー・チップのガラスホルダーチップの両側に2つ配置。用途としてソフトコンタクトモードで使われます。
直立型時間分解蛍光顕微鏡 MicroTime 100
直立型の時間分解蛍光顕微鏡 様々な形状とサイズにアクセスが可能。数cmまでのワイドレンジスキャン。マルチ検出器オプションで最大4チャンネル。XY走査ピエゾステージでの2Dライフタイムイメージングが可能。ウェーハ、半導体、太陽電池などの固体サンプルの時間分解フォトルミネッセンス研究に最適
ミリ波・サブテラヘルツ発振器 TeraSchottky
パワフルな完全一体型サブ・テラヘルツ発振器。最先端のショットキーダイオード・マルチプライヤ利用。高出力 2~350mW。高いチューナビリティ <12%。周波数 > 75, 150, 300, 600 GHz。コンパクト(<1kg)で使い易い。
単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡 Luminosa
単一光子検出共焦点蛍光顕微鏡。最高のデータ品質と使い易さを兼ね備えた蛍光顕微鏡です。自動化により測定時間を短縮を実現。実験室に簡単にインストールいただけます。
テラヘルツ検出器(高速・高感度パイロセンサ)TeraPyro
コンパクトで使いやすい高速・高感度テラヘルツセンサー。パイロエレクリック技術ベース。スペクトル範囲 0.1 – 30 THz。高速応答 ~2.5kHz。高感度(~2 kV/W)、低ノイズ。 パルス(QCW)操作。検出部サイズ 5mm径。
AFMコントローラー “Galaxy Dual”
24 bit AFMコントローラー。サポートの終了した Agilent Technology 製 AFM に対応します。シンプルに既存のコントローラーとの置き換えが可能。既存のAFMヘッドへプラグインの上、専用ソフトウェア使用して同様のAFM動作が行えます。