検査・解析装置 製品一覧
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3T analytik分子間相互作用解析装置 “QCM-D”リアルタイムで質量変化と粘弾性、膜厚を分析高性能で低価格
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SECOPTALIBS元素分析システム（ラボ向けモデル）生産ライン近くの分析室や分析ラボ向けのスタンドアローンLIBS元素分析装置 スラグ、コンクリート、金属などの迅速分析や元素マッピング分析に最適
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SECOPTALIBSオンライン元素分析システムオンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止（鉄鋼製造）PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料（石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど）のオンライン分析等が可能です。
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SECOPTALIBSシステム（超高速インライン向け）完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）
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Onto Innovation （旧Lumina Instruments）基板用 高速レーザー欠陥スキャナー PrimaScanシリーズ基板用高速レーザー欠陥スキャナー PrimaScanシリーズ。ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置です。 高速での測定とnm単位の高いPSLパーティクル感度を実現。透明、半透明、不透明の基板に対応。サンプルの大きさから PrimaScan、PrimaScan R＆D、PrimaScan Pをラインアップ。最大サンプルサイズ600mm x 600mmに対応。ウエハ入荷検査、ウエハチャックの検査。ブランケットフィルム（膜付きウエハ）の検査。AR/VR/MR用マイクロレンズアレイの内部応力・ギャップ等の検査。フォトレジストのコーティング欠陥検査などに使用いただけます。
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Scigentecペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。
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KEMTRAKプロセスフォトメータ（濁度・SS濃度計）”NBP007″高濃度対応 インラインSS（浮遊物質測定）・濁度 計測 後方光散乱方式採用 過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン
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KEMTRAK配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計。センシティブな部品群を計測ラインから隔離したユニットに実装。過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザインの濁度計です。
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KEMTRAKプロセスフォトメータ（濃度・色モニタ）”DCP007″インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。 過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。
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HÜBNERファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
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HÜBNERテラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
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HÜBNERテラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1～4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
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CSInstrumentsハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。
- CSInstrumentsレジスコープ “ResiscopeII”
AFM 超高感度電流増幅器
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CSInstruments高解像度ダイアモンド・AFMプローブ（ダイヤモンドカンチレバー）最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ（ダイヤモンドAFMカンチレバー）
