検査・解析装置
日本レーザーでは、レーザー分光分析装置、ラマン/蛍光イメージングシステム、波長可変レーザーを活用した光学材料分析装置など、研究・開発用途での高度な分析を実現する製品を取り揃えています。物性評価、材料解析、微細構造の可視化など、光を用いた定量・定性分析のニーズに応えるトータルソリューションをご提供いたします。

検査・解析装置 製品一覧
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OptoFidelityAR導光板グレーティング解析システム WG-GATAR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。
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OptoFidelityR&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム WG-IQAR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。
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新商品FSM Precision大型サンプル対応AFM 最大12インチ(300mm) NanoViewラージスキャナシリーズNanoViewラージスキャナシリーズは4~12インチ(100~300 mm)のサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。
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OptoFidelityAR導光板製造用 自動画像品質検査装置 Production IQARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。
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NIREOS短波赤外 ハイパースペクトルカメラ HERA SWIR900 – 1700 nm (短波赤外)に対応のハイパースペクトルカメラ HERA SWIRは優れた空間スペクトル分解能と低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。冷却InGaAs (640x512)、14ビットセンサーを搭載し高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ(開口)で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。
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Molecular Vista8インチ 200 mm ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR8インチ(200mm)ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。
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Molecular VistaAFM-IR 装置 Vista 75, IR-PiFM / PiF-IR光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR 機器 半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。
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Molecular VistaAFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IRナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
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FSM Precision光学顕微鏡付きAFMプラットフォーム FM Nanoview Op AFM光学顕微鏡を備えたAFMのプラットフォーム。高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。
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Quantifi Photonics周波数分解型光ゲーティングパルスアナライザIQFROG周波数分解光ゲートパルスアナライザは、300fs~50psのパルスの強度・位相測定に適した分光分解第二高調波発生(SHG)自己相関器です。
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Optotune高速ステアリングミラー MRシリーズ反射モード(2Dミラー)、透過モード(チューナブルプリズム)で使用可能な、革新的な2次元ビームステアリングミラーです。ビームシフト無。システム組込みに対応。LiDAR、アダプティブヘッドライト、OCT、マシンビジョン、3Dプリンティング、セキュリティなど多彩なアプリケーションで活用いただけます。
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Lytid低価格 Sub-THz発振 非破壊イメージング・センシングツール TeraScan100Sub-THz 発振でNDT 非破壊検査 センシング・イメージングを実現する簡易検査ツールです。FMCWレーダー技術をベースに深さ方向3Dサブテラヘルツスキャナーの組合せ。データ取得、スキャナー制御用ソフトウェアと画像処理・可視化ソフトウェアも含めオールインワンでご提供。
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Spacetek Technology小型直付けタイプ 飛行時間型質量分析計 IonTamer FA真空チャンバーへ直接フランジ接続する小型直付けタイプの飛行時間型質量分析計/残留ガス分析器(TOF-MS/RGA)です。四重極型RGAを搭載している既存設備への組み込みを容易に実現できます。
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Spacetek Technology外付けタイプ 飛行時間型質量分析計 IonTamer PS差動排気システムを内蔵し、真空チャンバーに外付けするタイプの飛行時間型質量分析計/残留ガス分析器(TOF-MS/RGA)です。四重極型RGAを搭載している既存設備への組み込みを容易に実現でき、宇宙技術で培った知見を活かし更なるフットプリントの最小化を進めています。
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Asense Novaレーザー ベースの非破壊検査システムレーザーを使った非破壊検査システム。計測・測定ソリューションOCT、LIDAR、共焦点イメージング、フォトルミネッセンス分光測定、3Dマッピング、深度計測が可能。レーザー診断、高精度大型製品向け検査、リベット検査(航空宇宙)、自動車など様々で活用されています。
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Asense Novaシンクロトロン用対物レンズシンクロトロン放射によるイメージング用のカスタム対物レンズ。トモグラフィー対応。実用性を高める光学リレー。対物レンズ0.5倍、0.8倍、150㎜ 400㎜に対応。経験と知識から光学設計、エンジニアリング、製造、テストと一貫したサービスをご提供します。
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Lytidサブテラヘルツ Sub-THz レーダー トランシーバーFMCW(周波数変調連続波)レーダートランシーバーは、最先端のショットキーダイオード技術に基づくサブTHzデバイスです。最大100 dBのダイナミックレンジ、高い測定レート(7.6 kHz)、優れた透過性と高い解像度を持ち、様々な用途で非接触非破壊検査、密度深度測定、3Dイメージングなど様々なセンシングツールとしてお使いいただけます。
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おすすめCSInstrumentsAFMアップグレード Galaxy Dual Controller ギャラクシー デュアル コントローラーGalaxy Dual Controller(ギャラクシーデュアルコントローラー)は、既存の原子間力顕微鏡(AFM)を最新の測定プラットフォームへとアップグレードするコントローラーです。旧型AFMシステムに先進的なイメージングモードと直感的なソフトウェアをもたらし、システム全体を買い替えることなく測定能力を大幅に拡張できます。既存のモードはすべて維持されます。 シームレスな統合、最新のエレクトロニクス、高分解能イメージングと新しい先進AFMモードへのアクセスにより、Galaxy Dualは既存の資産に新たな性能と柔軟性をもたらします。
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OME Technology簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
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おすすめ日本レーザーAFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。


















