世界最高レベルの空間分解能 AFM-IR 装置 空間分解能<10nm 本ページではその仕組みと応用例について紹介していきます。

Sensofar 組込みセンサによるCMP（Chemical Mechanical Planarization）工程のパッドの平坦性の測定・解析。S mart によるCMPの測定によって、CMPパッドは全般的に十分活用されておらず、多くの場合は有効な製品寿命が半分以上残ったまま廃棄されていることが明らかになっています。

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：金属加工（彫刻、カラーアニーリング、切断、素材除去、ブラックマーキング

ヘキサポッドは、最大6つの軸で高負荷容量と精度に対応するステージです。 平行キネマティックモーションデバイスは、多軸ポジショニングのコンパクトなソリューションで6つの自由度（X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー）を持ちます。 ここではその仕組みと優れた機能性、アプリケーションについて紹介いたします。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるリソグラフィの例をご紹介します。

蛍光寿命イメージング（FLIM）は、蛍光体の異なる蛍光減衰時間を分離することで、従来のイメージングにおける強度とは異なる画像コントラストを作り出す技術です。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるフォトルミネッセンスの例をご紹介します。

Photon Energy社のレーザーマーキングシステム用のソフトウェア

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。

ライトシート顕微鏡を使用した寿命イメージングの事例紹介。ラット胚の光学的切片化よるFLIM、蛍光寿命イメージング顕微の事例を動画と共に紹介します。

ダイヤモンドの窒素-空孔（NV）中心は、室温の量子ビットプラットフォームへの応用が可能です。NVセンターを励起するには、波長 450～650 nm の光が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、調整可能で広範なスペクトルと非常に高いビーム品質により、世界の多くの研究者に利用されています。

データ伝送の高速化、通信ネットワークの拡大、家電製品の普及により、フォトニクス業界ではさらなる小型化が求められています。そのため、非常に小さくて複雑な部品を作り、組み立てる必要があります。個々の部品はナノメートル単位の微細な構造で構成されており、高度な光学システムによって作成または検査されます。フォトニクスやオプティクスのアプリケーションにおいて、高精度な位置決めを達成することが重要です。attocube社のモジュール式ナノ位置決めステージは、複雑な多軸アプリケーションにも優れた精度と信頼性を提供します。

QCL-IRは、約1000cm-1の波数範囲を10Hzで掃引し、スペクトルの取得が可能です。IRケミカルイメージング（2次元マッピング）、リアルタイム赤外イメージング、溶液・ガスのリアルタイム分析の時間短縮を実現し、高速で結果をご提供します。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるレーザーマイクロダイセクションの例をご紹介します。

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：プラスチック加工（炭化、彫刻、発泡成形、素材除去）

半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。

半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数（TCSPC）による時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。

寿命発色団の分離によるマルチラベル・イメージングの課題を克服。

レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。

PaR Systems社では、製油所の一次スタックからの排出量を監視するLIDARシステムなど低高度の汚染物質監視に最適な、LIDAR用のカスタムTEA CO2レーザーを製造しています。出力波長間の高速切り替え用二重グレーティングの制御機能付きです。

OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。

Kemtrak社のプロセスフォトメータ（濁度、濃度、色計測）の適用例を紹介します。

AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。

CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるスキャトロメトリ（光波散乱計測）の例をご紹介します。