技術情報

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先進的な測定・観察方式

SENSOFAR Metrology

SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動(フォーカスバリエーション)方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。

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PiFMによるポリマー界面研究

Molecular Vista

PiFM測定により、ポリマーの界面における各成分の混合状態を10nmスケールで検証できます。

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Photon Energy レーザー微細加工&レーザー・ストラクチャリング

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:レーザー微細加工、レーザー・ストラクチャリング

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【アプリケーション】TEA CO2 レーザー応用例

PaR Systems

9~11 μm 中赤外領域の特性と、短パルス、高エネルギー、高繰返し周波数で多彩な用途で高速・高効率なプロセスが可能

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テラヘルツ 非破壊検査 レーダーソリューション

Lytid

非破壊検査レーダーソリューション。数十cmまでの高い材料浸透、数千トレース/秒の高い検査率、サブmmの解像度の高解像度3Dイメージングが可能です。非接触検査、インライン検査に適しています。

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フォトルミネッセンス(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるフォトルミネッセンスの例をご紹介します。

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高解像度&リアルタイム テラヘルツイメージング技術

Lytid

Lytid社とボルドー大学 IMS Nanoelectronicグループ(Patrick Mounaix教授)との共同研究による、テラヘルツ技術を駆使したイメージングアプリケーションの研究開発成果をご紹介します。

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超音波顕微鏡(超音波映像装置)とは

Kraemer Sonic Industries (KSI)

超音波顕微鏡は、物質内部を非破壊で検査/観察するツールです。原理・応用などについて解説します。

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PERMAblack ブラックマーキング

Photon Energy
[オススメ]

金属等へレーザー加工による視野角に依存しない深黒色マーキングを実現。医療機器への機器固有識別子(UDI:Unique Device Indentifier)マーキング・刻印に最適。

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ナノインデンター:1000℃でのナノ機械特性試験

Micro Materials

NanoTest Xtremeは、業界で唯一、最高1000°Cの温度環境での機械特性評価試験を実行することができるナノインデンターです。

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AMPHOS 高出力ピコ秒レーザー・アプリケーション例

AMPHOS

AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。

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レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。

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