関連機器
日本レーザーでは、レーザー応用・光学システムを支えるレーザー関連機器(機械・装置)として、研究機関・産業用途向けに高性能な計測・位置決め装置を提供しています。
これらは、レーザー加工、光学アライメント、計測評価、量子・通信分野など、レーザー・光技術を用いる幅広い応用領域で要となる装備です。例えば、多軸ステージによる緻密な光学系の配置や、ジンバルを用いた回転アライメントは、レーザー干渉計、光学顕微鏡、ナノ加工装置などの精度を大きく左右します。また、リアルタイムかつ高精度な波形/信号計測が可能なオシロスコープ/通信アナライザは、レーザー光源、波長可変レーザー、光通信デバイスの検証・デバッグ・量産試験に不可欠です。
「レーザー関連機器(機械・装置)」選定の際には、用途に応じた出力、波長、繰返しレート、ビーム特性、モーション軸数、トラベル長、ジッタ特性、インターフェース(API/リモート制御)などを総合的に検討することが重要です。日本レーザーでは、これら要件を丁寧に確認し、お客様の研究・製造用途に適した機械・装置構成・納期・サポート体制をご提案いたします。
レーザー機器導入・構築をお考えの際は、ぜひお気軽に日本レーザーまでご相談ください。

関連機器 製品一覧
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General Photonicsスペックルパターンのスクランブラ “MMS-201”スペックルパターンのランダム化技術により、マルチモードファイバの出力を均一化
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Newport量子カスケードレーザー(QCL)用コントローラ“LDC-3736”レーザー駆動機能と温度コントロール機能を一つにした低ノイズ・高安定性QCLコントローラ
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Newport半導体レーザー(LD)用コントローラILX Lightwave (Newport Brand) は革新的で精度の高い装置、テストシステム、アクセサリを、充実のラインナップで提供しています。
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General PhotonicsPMD & PDL 校正標準器“CSシリーズ”DGD, 2次 PMD, PDL の校正標準器。使用材料固有の光学及び複屈折特性により、高い精度を保証。
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NKT Photonicsスーパーコンティニューム光源用 フィルタ&アクセサリSuperK シリーズをはじめとするNKT Photonics社のスーパーコンティニューム光源を目的に合わせてより柔軟に使用できる多彩なアクセサリをラインナップ
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DRS Daylight Solutions量子カスケードレーザー・コントローラ“SideKick”Daylight Solutions社のパルス、CW&パルス、CW-MHF 中赤外レーザー用の多機能コントローラ。業界トップクラスのノイズ性能を達成。
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General Photonics偏光計測システム “PSGA-101”光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成
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General Photonics偏光シンセサイザ/アナライザ “PSY-201”あらゆる偏光状態(SOP)を生成・保持するSOP発生器と偏光分析器の兼用装置
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General Photonics消光比メータ “ERM-202”PER (偏光消光比) 範囲 50dB。ブロードバンド光源のPERを直接計測可能。1ch. or 2 ch.
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General Photonics偏光度メータ “DOP-201”光源の偏光度 (DOP) をリアルタイムに計測。特許の最大/最小サーチ技術により、低DOPも高DOPも正確に測定
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General PhotonicsPDL/IL マルチメータ “PDL-201”偏光依存損失 (PDL), 挿入損失 (IL), デバイスの光パワーをわずか30ミリ秒で同時測定。低/高の両PDL値を測定可能。
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General Photonics偏光スタビライザ “POS-202 & POS-203”入力された偏光のSOPの高速変動を安定化して出力。2ポートまたは3ポート。
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General Photonics多機能 偏波コントローラ “MPC-201 & MPC-202”独自の偏光コントロール・アルゴリズムを搭載した高性能偏光コントローラで多彩なコントロール機能を獲得。種々のSOPスクランブリングやSOP変調が可能。コヒーレント・レシーバ性能評価に最適。
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General Photonics偏波スクランブラ “PCD-104”全てファイバーで構成することで、挿入損失と後方反射を抑えた、偏波スクランブラーです。偏波依存利得(PDG)、偏波感受性の低減やPDL測定等向けに、偏光状態をランダム化することが可能です。
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General Photonics偏波の計測装置(偏波消光比・偏波依存損失・挿入損失・偏波クロストーク)偏波関連の計測装置 / 分析装置をラインナップ。
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General PhotonicsPDL エミュレータ“PDLE-101”高速トランレシーバなどのPDL誤差計測やPDLトラッキング速度の定量化などPDL関連の検査・計測に最適なPDL発生&エミュレータ
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piezosystem jenaピエゾコントローラ/アンプピエゾ製品の分解能と精度を極限まで高める、高性能コントローラ及びアンプ。用途に応じて最適な製品を選択可能
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General Photonics偏波の制御 シンセサイザ / アナライザ / スタビライザ / スクランブラ / コントローラ偏波状態の各種制御・変調で、システム・装置の偏波依存特性を最適化
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piezosystem jenaNanoX 高速ポジショナ最大10kgもの大荷重でも、高精度な高速ダイナミック・ナノ/マイクロポジショニングを実現。複数のポジショナを組み合わせることも可能。
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piezosystem jenaピエゾ駆動ステージLDなど光学部品の精密ポジショニング及びスキャニング用途に適した、安定性に優れたピエゾ駆動の高精度ステージ。X, Z, XY, XYZ, 5軸, 回転。可動距離 最高1500μm



















