超小型ファイバ分光器。手のひらサイズで低価格・高コストパフォーマンス。高性能、高感度の新シリーズ発売（YSM-8103シリーズ / YSM-8104シリーズ / YSM-8105シリーズ）

オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。代表的応用例は異材混入の防止（鉄鋼製造）PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料（石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど）のオンライン分析等が可能です。

完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定（カスタムで100kHzまで可）

高真空・超高真空対応プローブ。低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能。

優れた直線性と温度特性。静的な変位測定のスタンダードモデル。

高分解能・高速応答。動的変位測定のスタンダードモデル。

シリーズ最高分解能・高速応答モデル 高速変位を高精度で測定

優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。

MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。

ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境（超高真空、高磁場）に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】

基板用高速レーザー欠陥スキャナー PrimaScanシリーズ。ガラス基板、半導体基板、ディスプレイ基板などの基板の欠陥を可視化する欠陥検査イメージング装置です。 高速での測定とnm単位の高いPSLパーティクル感度を実現。透明、半透明、不透明の基板に対応。サンプルの大きさから PrimaScan、PrimaScan R＆D、PrimaScan Pをラインアップ。最大サンプルサイズ600mm x 600mmに対応。ウエハ入荷検査、ウエハチャックの検査。ブランケットフィルム（膜付きウエハ）の検査。AR/VR/MR用マイクロレンズアレイの内部応力・ギャップ等の検査。フォトレジストのコーティング欠陥検査などに使用いただけます。

レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1～500μm)測定用。小型・高速・高精度。VarioMetricは表面が粗くても高精度な厚さ測定が可能な装置です。高速かつ自動で測定が可能で、半導体製造やMEMS分野での様々な用途に使用いただけます。特に、先端パッケージ ICや集積回路の製造工程において、重要な役割を果たします。

非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデル、クリーンルーム対応モデルまで用途に応じた幅広いラインナップを提供。

コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置

VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります

粉体やペレット・サンプル中の異物を検出 (サイズ, 形状分析による)。粒子のサイズ、色、形状を高速に評価。多彩なサンプル搬送ユニット (乾式, 湿式, ステージ 等)。オフライン、オンラインの両方に対応可能。

高濃度対応 インラインSS（浮遊物質測定）・濁度　計測 後方光散乱方式採用 過酷な環境下でもメンテフリーで使用可能な堅牢デザイン

実際の粒子映像を使用して、粒子サイズや速度とその分布を正確に自動測定

長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計。センシティブな部品群を計測ラインから隔離したユニットに実装。過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザインの濁度計です。

インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。 過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。