検査・測定・イメージング機器
MicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサ
シリーズ最高分解能・高速応答モデル
高速変位を高精度で測定
ファイバ・マルチチャンネル分光器
超小型ファイバ分光器。手のひらサイズで低価格・高コストパフォーマンス。高性能、高感度の新シリーズ発売(YSM-8103シリーズ / YSM-8104シリーズ / YSM-8105シリーズ)
装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor
S mart 2は、白色干渉計とエリア共焦点(コンフォーカル)の技術による3D表面形状測定が可能な装置組込み用顕微鏡ユニットです。3Dレーザー顕微鏡と同等の分解能と精度、再現性による表面形状・粗さ測定を実現可能です。
蛍光分光計制御&データ分析ソフトウェア EasyTau2
PicoQuant社製 TCSPC製品による蛍光分光計制御 及び データ分析ソフトウェア。定常的な励起・発光スペクトル、蛍光・燐光の寿命、異方性測定など、幅広い蛍光分光アプリケーションに対応。スクリプトによる自動化・拡張かが可能。デモ機をご用意しております。
AFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IR
ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
導電性プローブ
導電性プローブ:- Pt プラチナ、Cr-Au 金 コーティング, – 高分解能導電性 DPERシリーズ, – 低ノイズ導電性 DPEシリーズ
MicroSense 静電容量変位センサ一覧
MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。
レーザー ベースの非破壊検査システム
レーザーを使った非破壊検査システム。計測・測定ソリューションOCT、LIDAR、共焦点イメージング、フォトルミネッセンス分光測定、3Dマッピング、深度計測が可能。レーザー診断、高精度大型製品向け検査、リベット検査(航空宇宙)、自動車など様々で活用されています。
コンパクト モジュール式の蛍光寿命分光計 FluoTime 250
蛍光寿命分光計。コンパクトモジュール方式 TCSPC,MCS(マルチチャンネルスケーリング)の双方データ取得可能。測定可能蛍光寿命約10psから数百ms。スペクトル範囲:255〜1550nm。完全自動化されたハードウェア制御。アプリケーションウィザード・スクリプト言語により多彩な機器に対応可能
高精度レーザー干渉式変位センサ
ピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境(超高真空、高磁場)に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】
低価格 Sub-THz発振 非破壊イメージング・センシングツール TeraScan100
Sub-THz 発振でNDT 非破壊検査 センシング・イメージングを実現する簡易検査ツールです。FMCWレーダー技術をベースに深さ方向3Dサブテラヘルツスキャナーの組合せ。データ取得、スキャナー制御用ソフトウェアと画像処理・可視化ソフトウェアも含めオールインワンでご提供。
超伝導ナノワイヤ単一光子検出器(SNSPD) Single Quantum Eos Excellent line Image line TeleQKD
Single Quantum社 独自のナノワイヤ構造と液体ヘリウム不要の革新的クローズドサイクル冷却システム採用。近赤外領域で比類のない高い効率 >85%と低いタイミングジッタ <15ps (高い時間分解能)。1-24チャンネル。
レーザー光源内蔵 ラマン分光計 “YOA-8401シリーズ”
狭線幅レーザーを内蔵したラマン分光計 励起波長が785nmと532nmのタイプをラインナップ。4000cm-1までの広いスペクトル範囲と8cm-1以上の高い分解能で、物質分析・同定が可能です。
5軸ステージ付き白色干渉計 S neox Five Axis
S neox Five Axis 5軸ステージ付き白色干渉計は、高精度回転ステージモジュールと白色干渉計 高速・多機能モデルS neox の高度な検査および解析機能を組み合わせています。これにより、指定された位置・角度で自動的に3D表面形状測定を行い、完全な3D形状計測が可能になります。
AFMプローブ SiN 窒化シリコンプローブ
シリコンナイトライドカンチレバー・チップのガラスホルダーチップの両側に2つ配置。用途としてソフトコンタクトモードで使われます。
蛍光寿命イメージング・相関解析ソフトウェア SymPhoTime 64
強力な64ビットTTTRデータ取得と分析を行うソフトウェアです。時間分解共焦点顕微鏡MicroTime 200、MicroTime 200、LSMアップグレードキット、またはTCSPC機器でのデータ取得及び、分析のためのソリューションを提供。スクリプト言語「STUPSLANG」により、新しい分析手順を自由に追加、既存の分析手順をカスタマイズ可能。デモ機をご用意しております。
光 / 電気コンバータ
高帯域、広帯域の光-電気変換器を様々な構成でご提供できます。1チャンネルまたは2チャンネル、ACまたはDCカップリング、さまざまな変換利得と動作波長範囲から選択いただけます。
高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ
※デモ機あり、サンプル測定可能 高精度 (±0.1 μm)、12μm から 80mmの広い範囲が測定可能な膜厚計(厚み計)です。独自の非接触光学技術を採用。硬質材料と軟質材料の両方を、損傷や変形なく厚さ測定をすることができます。最大31層の厚みを同時に測定することが可能です。
AFMプローブ 高分解能 Hi’Res-C
Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。
LIBSシステム(超高速インライン向け)
完全インライン向けLIBSシステム。20kHzの超高繰返し測定(カスタムで100kHzまで可)
プロセスフォトメータ(濃度・色モニタ)”DCP007″
インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。
過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。
フォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)
PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。
白色干渉計シリーズ一覧
非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデルまで、用途に応じた幅広いラインナップを提供。
LEDソーラーシミュレーター“VERASOL”
LED光源を用いたクラスAAAの長寿命ソーラーシミュレータ