検査・測定・イメージング機器
短波長赤外カメラ SIRIS
高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なSWIR。200 fps。液体窒素不要。
レーザー超音波非破壊検査装置
レーザー超音波による非接触非破壊検査/非接触厚さ測定
マルチチャンネル TCSPCモジュール“HydraHarp400”
最大8チャンネルのデスクトップ型モジュール。電気的分解能 <12ps rms。測定時間幅 65ns~2.19s。カウントレート 最大12.5M count/s。
PIV アクセサリ
VisiVector PIVシステムには、PIV計測を行うための様々なアクセサリーがあります
産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”
ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング
LSMアップグレード・キット
各社の多光子レーザー顕微鏡に取り付けて、TCSPC(時間相関単一光子測定法)を用いた高感度・低ノイズのイメージングを可能にするTCSPCイメージング拡張キット
AFMプローブ・カンチレバー
NanoWorld社では、代表的なシリーズとして、PointProbe(ポイントプローブ)シリーズ, Arrow(アロー), Pyrex-nitride(パイレックス・ナイトライド)を取り揃えております。
テラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”
テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
単一光子カウンティング用カメラ LINCam
スキャン不要の時間相関単一光子計数用のカメラ。手軽に個々の光子の到着時間とXY位置を計測
100μJ出力 高機能フェムト秒レーザー Yuja
多機能で超コンパクトな 100μJ, 10W 出力のフェムト秒レーザー。繰返し周波数 single shot to 40MHz。
NanoTest Xtreme 高温対応ナノインデンター
-100~1000℃の温度範囲で薄膜の機械特性(硬度、ヤング率等)を測定できる唯一の装置
バブルフリー シリコーンマイクロ成型機
高品質なマイクロ構造を高速かつ安定的に作製できます。シリコーン樹脂製のマイクロ流路、スタンプ、光学部品の試作に最適です。
ガス・溶液用 QCL-IR 赤外分析装置 ChemDetect
従来のFT-IRに代わる、次世代の赤外分析技術、QCL-IRを採用した小型のガス・溶液用赤外分析装置です。QCL-IRは最大10HzでIRスペクトルを取得することができ、従来技術に比べはるかに高速で安定しています。その測定速度を活かし、リアルタイムでの濃度モニタリングが可能です。また、輝度が高く、少量サンプルでも分析可能です。Culpeo® QCL-IR液体分析器 バイオプロセス分析・液体クロマトグラフィー・ワクチン関連の分析に最適です。
Nano-Observer ナノオブザーバーAFM
高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を持ちながら価格は1000万円を切り、非常にコストパフォーマンスの高いAFMとして注目されています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。
動的画像式 粒度・形状分布測定装置 QICPIC
パルスレーザーによる高速撮像によって多数の粒子を測定するため、個々の粒子を測定しながらも、統計的に信頼性の高い解析が可能です。全ての粒子画像が生データとして保存されるため、形状も定量的に解析できます。乾式・湿式を問わず多様な試料に対応します。(測定範囲 0.55~34000µm)
3D測定センサーシリーズ一覧
非接触・非破壊で表面の微細形状、粗さ、うねりなどの3D形状を測定することができる組込センサーです。
ハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”
最高の感度・精度・空間分解能・速度
測定パフォーマンスに優れた非常に小型で柔軟性の高い製品です。
PIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”
流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
3D形状・表面粗測定 ソフトウェアパッケージ
3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。
GaAs式 光ファイバ温度計 Micronor
micronor は、厳しい環境下での温度測定を可能にするGaAs式光ファイバ温度センサを提供します。TSシリーズの光ファイバ温度プローブは、広い温度範囲、本質的安全性、および非侵襲的な使用に加えて、高周波(RF)やマイクロ波のある環境でも正確に温度を測定できます。光ファイバー温度プローブは、-200℃~+300℃の幅広い温度範囲で動作し、厳しい腐食環境にも耐えることができます。
LIBSオンライン元素分析システム
オンライン・インラインLIBS元素分析システム。製造ラインにおけるリアルタイム元素分析。
応用例:異材混入の防止(鉄鋼製造)PMI、製造プロセスにおけるオンライン元素モニター、ベルトコンベヤ上の各種原材料(石炭、鉱石、焼結体、塩、スラグなど)のオンライン分析
ラインスキャナ型 非接触温度計“MP150シリーズ”
512ポイントでの測定が可能な温度計測用高精度ラインスキャナ
テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”
テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
受託粒度分布測定・各種サービス
粒度分布測定に関する受託測定やコンサルティングなど、様々なサービスをご提供いたします。