検査・測定・イメージング機器
日本レーザーでは、非接触3D光学プロファイラやハイパースペクトルカメラ、フォトルミネセンスマッピング装置などを豊富に揃え、微細構造や表面粗さ、材料欠陥などを高精度に捉える検査・測定ソリューションをご提供します。たとえば、白色干渉計・共焦点モードを備えた大型サンプル対応の「S neox」シリーズや、400-1700 nm帯域対応のハイパースペクトルカメラなど、産業用から研究用途まで幅広く対応。レーザー・光学機器の出力検証、半導体・ディスプレイの品質管理、精密材料解析などに最適な機器を取り扱っています。

検査・測定・イメージング機器 製品一覧
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PicoQuantTCSPC(時間相関単一光子検出)・時間タグ付け装置一覧時間相関単一光子計数 (TCSPC)、一致相関、マルチチャネルでのスケーリング 、イベント・タイミング(ピコ秒~ミリ秒の時間分解能)用モジュールです。シングルチャンネルまたはマルチチャンネル。USBまたはPCIeインターフェイスを装備。※HydraHarp 400 は現在25%OFF!! デモ機有。
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PicoQuant蛍光分光計(コンパクト卓上タイプ・完全自動化計測システム・データ分析ソフトウェア)日常業務用、教育用のコンパクトな卓上分光計から、数ピコ秒単位で測定可能な高性能の分光計まで多彩な蛍光分光計をラインナップ。サンプルは液体(キュベット)、固体、ウェファーに対応。 ソフトウェアでデータフィッティング、減衰分析に対応。
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PicoQuantフォトンカウンティング 光子計数とタイミング (蛍光測定・量子相関)PicoQuantのフォトンカウンティング(光子計数)向けの幅広い製品には、時間相関シングルフォトンカウンティング(TCSPC)とイベントタイミング用の高性能モジュール、シングルフォトンセンシティブ検出器、および(時間分解)蛍光測定と量子相関の評価用の専用分析ソフトウェアが含まれます。
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PicoQuant蛍光顕微鏡 単一分子顕微鏡・時間分解アプリケーション・超分解能イメージングPicoQuantは、時間分解共焦点顕微鏡法のためのさまざまなソリューションを提供いたします。 利用可能なシステムには、ピコ秒の時間分解能と超分解能イメージング機能を備えた単一分子の高感度顕微鏡、また時間分解アプリケーションを可能にするすべての主要メーカーのレーザー走査顕微鏡用のアップグレードキットが含まれます。
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Lytid短波長赤外カメラ SIRIS高性能短波長赤外カメラ。超低ノイズ&高いダイナミックレンジ。幅広い用途で使用可能なInGaAsセンサベースSWIR。200 fps。液体窒素不要。
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Lytidテラヘルツ検出器(高速・高感度パイロセンサ)TeraPyroコンパクトで使いやすい高速・高感度テラヘルツセンサー。パイロエレクリック技術ベース。スペクトル範囲 0.1 - 30 THz。高速応答 ~2.5kHz。高感度(~2 kV/W)、低ノイズ。 パルス(QCW)操作。検出部サイズ 5mm径。
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NanoWorldAFMプローブ・カンチレバーNanoWorld社では、代表的なシリーズとして、PointProbe(ポイントプローブ)シリーズ, Arrow(アロー), Pyrex-nitride(パイレックス・ナイトライド)を取り揃えております。
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NANOSENSORSAFMカンチレバー 一覧NANOSENSORS製AFMカンチレバー。10本、20本、50本、ウエハ(365または370または380)の入り数でご注文可能。製品一覧表からお探しのモデルをすぐに見つけられます。ご相談もお気兼ねなくお問合せください。
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Lytidミリ波・サブテラヘルツ発振器 TeraSchottkyパワフルな完全一体型サブ・テラヘルツ発振器。最先端のショットキーダイオード・マルチプライヤ利用。高出力 2~350mW。高いチューナビリティ 75, 150, 300, 600 GHz。コンパクト(
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SENSOFAR Metrology装置組込み用3D光学プロファイラ・共焦点顕微鏡 シリーズ一覧非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット 。3D光学プロファイラおよび3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載。
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おすすめCSInstrumentsAFMコントローラー “Galaxy Dual”24 bit AFMコントローラー。サポートの終了した Agilent Technology 製 AFM に対応します。シンプルに既存のコントローラーとの置き換えが可能。既存のAFMヘッドへプラグインの上、専用ソフトウェア使用して同様のAFM動作が行えます。「Molecular Imaging/ Agilent / Keysight製AFMの修理を承ります。」
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OME Technology簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
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おすすめAFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。
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NIREOS超高安定性 干渉計 “GEMINI”GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光(コヒーレントまたはインコヒーレント光源)のスペクトルを測定できます。
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NIREOS超高安定性・二次元分光干渉計 “GEMINI 2D”イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。 GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。
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FSM Precisionローコスト高イメージング品質 AFM Nanoview 1000 AFM従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
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浜松ナノテクノロジーナノ粒子分散塗布サンプル・プレパレーション装置 “PSD-PS01”ナノ粒子のSEM・TEMまたはAFM観察を容易にするサンプル・プレパレーション装置。 分散溶媒中に溶かしたナノ粒子を、静電噴霧でSi基板やカーボン蒸着膜基板へ分散塗布します。
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Kraemer Sonic Industries (KSI)超音波顕微鏡/超音波映像装置 “V シリーズ”超音波で物体内部を高精細/高感度に検査・観察
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Intelligent Optical Systemsレーザー超音波非破壊検査装置レーザー超音波による非接触非破壊検査/非接触厚さ測定
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Newportキセノン/ハロゲン・イルミネータ“APEX 2”簡単操作、アライメント不要、小型、ターンキー操作の完全一体型システム


















