分光器 TRICLOPSは、コンパクトで高速スキャンが可能なVIS-NIR-SWIR-MIRに対応。時間領域フーリエ変換検出に基づく独自の特許技術により、光源の発光スペクトルを極めて正確にモニターし、吸収、透過、反射スペクトルを測定可能です。乳製品の特性評価、繊維の分類、バリアフィルム（EVOH：エチレン-ビニルアルコール共重合体）の検出、オリーブオイルの不純物混入に使用いただけます。

超解像マイクロスフィア増幅レンズ SMAL（Super-resolution Microsphere Amplifying Lens ) 。≦100nm分解能を実現。世界トップレベルの光学分解能を持つ最先端の材料検査用の対物レンズです。非接触・非破壊で半導体製造工程でのシリコンウエハの検査等にご使用いただけます。

超解像光学顕微鏡です。回折限界を超えて観察ができます100nm以下の空間分解能で、ナノスケールの構造を非破壊・フルカラーで観察できます。半導体研究開発および先端材料イメージング、またはSEMやAFMの代わりとしてご使用いただけます。対物レンズのみでの販売も可能です。（対物レンズ製品ページリンク 下記）

Lives International のバリデーション用熱電対システム XpertVal64は、医薬品業界におけるバリデーション・マッピング向けに設計された最新型の熱電対システムです。

バリデーションに必要な期間だけ、Lives International社の最新のリアルタイム温度ロガーをお使いいただけます。バリデーションレポートの作成もお⼿伝いいたします。お気軽にお問合せください。

LyoTrainは、凍結乾燥製剤の製品温度測定用に開発されたシステムです。高精度のリアルタイムワイヤレス温度ロガーと、温度センサ固定用のアクセサリから構成されます。

Lives Internationalのリアルタイムワイヤレス温度ロガーは、オートクレーブ庫内の温度データを収集し、指定したデータ転送間隔でソフトウェアに温度データを無線で転送できるバリデーション⽤温度ロガーです。ロガー本体ごとオートクレーブ内に設置できるため、熱電対などの有線システムに⽐較しセンサの設置と回収にかかる時間を劇的に短縮します。また⼀般的なワイヤレスロガーと異なり、測定中のデータをリアルタイムでモニタリングすることが可能です。

Nano-Observer IIは、高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカーのハイエンド品質とコストパフォーマンスを両立し、新開発のGalaxy USB 24ビット低ノイズコントローラーを核として、電気特性測定（HD-KFM、ResiScope™、C-AFM）、電動ステージによる自動化、EZ TEMP温度制御（-40°C～+450°C）などの機能を利用可能です。 使いやすさを追求した汎用機であり、AFM初心者の方からエキスパートまで、最先端のAFM測定技術をご活用いただけます。

蛍光寿命イメージング解析ソフトウェア 。FLIM（蛍光寿命顕微鏡）、FLIM-FRET（蛍光共鳴エネルギー移動）、異方性データの高速解析を実現する GPUアクセラレーションアルゴリズムを採用。Luminosa、MicroTime 200、LSMアップグレードキットに対応

特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。

小型広視野のフォトルミネッセンス（蛍光発光）顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375～1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。

OptoFidelity社のSCOUT は、さまざまなAR/XRグラスとサブアセンブリのための、多目的なイメージングおよびテストステーションです。テスト対象デバイス（DUT）の画質を包括的に評価し、アイボックス、視野（FOV）、両眼視差、コントラスト比、色、均一性、幾何学的歪みといったさまざまな要素を測定します。

サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。

AR/VR/MRグラスのトラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能で、仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定します。トラッキングと時間特性に影響を与えるコンポーネントやアセンブリをテストできます。

ナノ構造の幾何学的パラメータの変位や光学特性の変化を、製造中に非接触かつ非破壊で判定します。フォトニクス、半導体、量子技術のためのグレーティングや薄膜の品質検査に好適です。

AR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。

AR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。

NanoViewラージスキャナシリーズは4～12インチ（100～300 mm）のサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。

ARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。

高品質かつ高精度なタイムベースと低ジッタ・モードを持つデジタルサンプリングオシロスコープです。超低ジッター性能を実現。コスト効率が高く、スケーラブルで高い拡張性を備えています。高精度な測定を同時に実行が可能で、テストのスループットを最適化し、テスト全体のコストを削減できます。コンパクト設計、リモートコントロールとAPIで装置に簡単に組込んでいただけます。