形状・変位計測 製品一覧
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OME Technology簡易・小型 原子間力顕微鏡 AFM “CrabiAFM”CrabiAFMは、コンパクトで低価格な簡易原子間力顕微鏡(AFM)です。リサーチ用途、ナノ教育、またはすでにAFM経験をお持ちの方のサブ機として最適です。
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おすすめAFM(原子間力顕微鏡)取り扱い製品一覧日本レーザーでは用途に応じて様々なAFM(原子間力顕微鏡)を取り揃えております。
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FSM Precisionローコスト高イメージング品質 AFM Nanoview 1000 AFM従来のAFMの半分以下の低価格ながら、高いイメージング品質を発揮します。日本初上陸の高コストパフォーマンスAFMです。
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Surface Preparation Laboratory (SPL)金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶試料の高品質品を高精度加工
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MicroSense真空対応 高精度位置センサ高真空・超高真空対応プローブ。低アウトガス・高安定性・非磁性対応可能。
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MicroSenseMicroSense 4800 シリーズ 静電容量変位センサ優れた直線性と温度特性。静的な変位測定のスタンダードモデル。
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MicroSenseMicroSense 5800 シリーズ 静電容量変位センサ高分解能・高速応答。動的変位測定のスタンダードモデル。
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MicroSenseMicroSense 6800 シリーズ 静電容量変位センサシリーズ最高分解能・高速応答モデル 高速変位を高精度で測定
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MicroSenseMicroSense 静電容量変位センサ一覧MicroSense LLCの静電容量センサを紹介。全カタログをまとめてダウンロードできます。
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MicroSenseMicroSense 8800 シリーズ 静電容量変位センサ優れた温度特性と高分解能を実現。制御用途でのフィードバックセンサに最適。
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attocube systems高精度レーザー干渉式変位センサピコオーダ、超高速(10MHz)、長作動距離(最大5m)、多様な材質や極端環境(超高真空、高磁場)に対応する変位測定干渉計【レーザー干渉式変位センサ】
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Varioscale非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度。VarioMetricは表面が粗くても高精度な厚さ測定が可能な装置です。高速かつ自動で測定が可能で、半導体製造やMEMS分野での様々な用途に使用いただけます。特に、先端パッケージ ICや集積回路の製造工程において、重要な役割を果たします。
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SENSOFAR Metrology3D光学プロファイラ シリーズ一覧非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデル、クリーンルーム対応モデルまで用途に応じた幅広いラインナップを提供。
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おすすめSENSOFAR MetrologyR&D向けコンパクトモデル 3D光学プロファイラ S lynxS lynxは、産業および研究分野向けに開発された非接触3D表面形状測定装置です。コンパクトながら多用途で、光学部品のような滑らかな面から凹凸のある粗い面まで、幅広いアプリケーションに1台で対応します。独自の3-in-1測定技術とSensoSCANソフトウェアにより、R&D用途に最適な直感的操作と高精度測定を実現しています。
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SENSOFAR Metrology3D形状・表面粗さ測定 ソフトウェアパッケージ3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。
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CSInstrumentsハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。
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CSInstrumentsレジスコープ “ResiscopeII”AFM 超高感度電流増幅器
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CSInstruments高解像度ダイアモンド・AFMプローブ(ダイヤモンドカンチレバー)最高の耐摩耗性と電気的性能を提供する高導電性ダイヤモンドプローブ(ダイヤモンドAFMカンチレバー)

















