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技術情報
レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート）
CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。
質量分析(CryLas社アプリケーションノート）
CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによる質量分析の例をご紹介します。
【加工例】コンパクト レーザー微細加工装置 “Aシリーズ”
Aシリーズ ナノ秒レーザーを使用したレーザー微細加工例をご紹介します。
テラヘルツ 非破壊検査 レーダーソリューション
非破壊検査レーダーソリューション。数十cmまでの高い材料浸透、数千トレース/秒の高い検査率、サブmmの解像度の高解像度3Dイメージングが可能です。非接触検査、インライン検査に適しています。
半導体製造装置・アプリケーション
半導体メーカーは、効率的で高密度なチップを製造しなければなりません。生産から品質保証に至るまでのすべての工程に共通する条件は、最高の精度と信頼性を確保し、品質を最大限に高めることです。attocube社の高精度部品は、これらの要求にお応えし、半導体アプリケーションに最先端の技術を提供します。
工作機械（QA,QC）・アプリケーション
ワークピースのサイズのバリエーションや複雑さが増しており、このような高品質な部品への要求が高まるにつれ、超精密な製造装置や検査装置へのニーズが高まっています。attocube社の超小型レーザー干渉式変位センサIDS3010は、認定された精度と最高の柔軟性を備えており、精密加工アプリケーションに最適です。
超音波顕微鏡（超音波映像装置）とは
超音波顕微鏡は、物質内部を非破壊で検査／観察するツールです。原理・応用などについて解説します。
AMPHOS 高出力ピコ秒レーザー・アプリケーション例
AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。
OCT向けコンポーネント
OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。
時間分解分光による半導体材料評価
半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数（TCSPC）による時間分解フォトルミネッセンス（TRPL）が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。
カメラオプション
シンプル、優れた柔軟性、高精度なレーザーマーキングを可能にするカメラシステム
Photon Energy レーザー・プラスチック加工
フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例：プラスチック加工（炭化、彫刻、発泡成形、素材除去）
Ti:Sapphire レーザー 励起用CPAシステム
Ti:Sapphireレーザー 近赤外光を発光する波長可変光源です。Ti:Sapphireレーザー の励起用レーザーを多数ラインナップしております。
プロセスフォトメータ 適用例
Kemtrak社のプロセスフォトメータ（濁度、濃度、色計測）の適用例を紹介します。
ICパッケージ 寸法・表面仕上げ測定
集積回路（IC）においてパッケージングは半導体部品の封止を行う最終工程です。Sensofar製品はPCBの端子、パッドに正しく接続されるため重要なピンの寸法の測定、表面仕上げの特性評価ができます。
広視野顕微鏡を用いた金属誘起エネルギー移動の研究
金属誘起エネルギー移動 (MIET) は、蛍光分子から金属薄膜までの距離を測定するナノレベルの顕微鏡技術です。ここでは、LINCamを搭載した広視野およびTIRF蛍光寿命イメージング顕微鏡（FLIM）を用いたMIETの取得について紹介します。
光ドップラー速度測定 動作原理 構成事例 開発事例
光ドップラー速度測定は高速で運動する物質の速度測定です。ファブリペロー干渉計のVISAR（レーザー速度干渉計）に比べ、機器費用の経済性に優れています。また衝撃面からの反射光の強度・速度の急激な変化にも対応します。本ページでは光ドップラー速度測定の原理、構成事例等をご紹介します。
【アプリケーション】TEA CO2 レーザー応用例
9～11 μm 中赤外領域の特性と、短パルス、高エネルギー、高繰返し周波数で多彩な用途で高速・高効率なプロセスが可能
彫刻 / マーキング（CryLaS社レーザーアプリケーションノート）
CryLaS社小型＆低ノイズレーザーシステムによる彫刻およびマーキングの例をご紹介します。
PIV 粒子画像流速測定法
PIV は流体の可視化する光学的手法です。流体内トレーサー粒子がレーザーにより照らされ、方向速度を測定することが可能です。二次元/三次元 PIV、トモグラフィ PIV、時間分解 PIVに向けたレーザーをラインナップいたしております。
PERMAblack ブラックマーキング
金属等へレーザー加工による視野角に依存しない深黒色マーキングを実現。医療機器への機器固有識別子（UDI：Unique Device Indentifier）マーキング・刻印に最適。
光パラメトリック発振 励起用レーザー
光パラメトリック発振器（OPO）向けの励起用レーザーをラインナップいたしております。
IDS レーザ干渉式変位センサヘッドについて
アプリケーションに応じてカスタマイズ可能なattocube社 IDS レーザ干渉式変位センサヘッドについての詳細情報。推奨アプリケーション、推奨材料もご紹介します。
LIDAR レーザー光反射 距離測定 リモートセンシング
レーザーを対象に照射し、反射光の解析によりリモートセンシングやイメージングが行えます。化合物、雨、岩石、非金属、エアロゾルなど様々なものに対してセンシング・イメージングが可能です。
