Celero PLシステムはフォトルミネセンス マッピングに対応した高速レーザー欠陥スキャナーです。炭化ケイ素（SiC）および窒化ガリウム（GaN）ベースのウエハと化合物半導体材料の表面下欠陥検査とクラス分け機能のニーズに応えるように開発されました。。さまざまなウェーハ処理オプションが用意されており、クラス最高のスループットと感度を備えながら、1パスあたりのコストを最小限に抑え、研究開発と大量生産の双方の対応します。

分光器 TRICLOPSは、コンパクトで高速スキャンが可能なVIS-NIR-SWIR-MIRに対応。時間領域フーリエ変換検出に基づく独自の特許技術により、光源の発光スペクトルを極めて正確にモニターし、吸収、透過、反射スペクトルを測定可能です。乳製品の特性評価、繊維の分類、バリアフィルム（EVOH：エチレン-ビニルアルコール共重合体）の検出、オリーブオイルの不純物混入に使用いただけます。

バリデーションに必要な期間だけ、Lives International社の最新のリアルタイム温度ロガーをお使いいただけます。バリデーションレポートの作成もお⼿伝いいたします。お気軽にお問合せください。

Lives International のバリデーション用熱電対システム XpertVal64は、医薬品業界におけるバリデーション・マッピング向けに設計された最新型の熱電対システムです。

LyoTrainは、凍結乾燥製剤の製品温度測定用に開発されたシステムです。高精度のリアルタイムワイヤレス温度ロガーと、温度センサ固定用のアクセサリから構成されます。

Lives Internationalのリアルタイムワイヤレス温度ロガーは、オートクレーブ庫内の温度データを収集し、指定したデータ転送間隔でソフトウェアに温度データを無線で転送できるバリデーション⽤温度ロガーです。ロガー本体ごとオートクレーブ内に設置できるため、熱電対などの有線システムに⽐較しセンサの設置と回収にかかる時間を劇的に短縮します。また⼀般的なワイヤレスロガーと異なり、測定中のデータをリアルタイムでモニタリングすることが可能です。

最先端のAFM（原子間力顕微鏡）Nano-Observer 2は、柔軟性、卓越した性能、使いやすい操作性を兼ね備えつつ、老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質を実現。ナノスケールのイメージングと特性評価のための幅広い機能を備えています。電気特性測定（KFM、C-AFM)、脆いサンプルも測定可能なソフトICモードも実現。

OptoFidelity社のSCOUT は、さまざまなAR/XRグラスとサブアセンブリのための、多目的なイメージングおよびテストステーションです。テスト対象デバイス（DUT）の画質を包括的に評価し、アイボックス、視野（FOV）、両眼視差、コントラスト比、色、均一性、幾何学的歪みといったさまざまな要素を測定します。

AR/VR/MRグラスのトラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能で、仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定します。トラッキングと時間特性に影響を与えるコンポーネントやアセンブリをテストできます。

AR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。

AR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。

ARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。

900 – 1700 nm （短波赤外）に対応のハイパースペクトルカメラ　HERA SWIRは優れた空間スペクトル分解能と低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。冷却InGaAs (640x512)、14ビットセンサーを搭載し高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ（開口）で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。

位相イメージングは、異種材料や特性の不均一性を持つサンプルにおいて、ナノスケールの違いをイメージングするために用いられるAFM技術の一つです。位相コントラストは、チップとサンプル間の相互作用に基づきますが、これらの相互作用は、スキャンパラメーターや、イメージングの測定モード（原子間力の引力領域か斥力領域で捜査しているかなど）に依存します。O’DeaとBurratoは、位相イメージングを使用して、Nafion膜のプロトン伝導ドメインをマッピングしました。彼らは、先端とサンプルの間の特定の相互作用力がプロトン伝導ドメインの分解能に大きく影響することを発見しました。斥力レジームでのイメージングにより、ドメインの面積が大きめに表示され、ドメインの数が少なめに表示されました。引力領域でのイメージングにより、水やフルオロカーボンのドメインが最も正確に測定できました。AFMのフィードバックループが最適化されていない場合、またはカンチレバーが共振周波数を超えて駆動していた時、位相イメージングは組成の違いではなく、形状の変化に対応するイメージになりました。

HQ:NSCプローブモデルには、磁気力顕微鏡（MFM)用のコーティングを施した製品もご用意しております。コーティングはチップサイドに膜厚60 nmのコバルト層があり、さらに酸化防止のクロムフィルム膜厚20 nmがカバーしています。トポグラフィーと磁気特性の安定した測定のためにカンチレバーのパラメーターは最適化されています。

導電性プローブ：- Pt プラチナ、Cr-Au 金 コーティング, - 高分解能導電性 DPERシリーズ, - 低ノイズ導電性 DPEシリーズ

Hi’Res-Cプローブはシリコンプローブよりも汚染が少なく、より多い枚数の高解像度スキャンの実行が可能です。Hi’Res-Cは微小領域 (< 250 nm) の走査や、平坦なサンプル (Ra < 20 nm) の測定で顕著に能力を発揮します。*本プローブは先端の曲率半径が小さいため、先端とサンプルの相互作用力は小さくなります。

長寿命プローブ：- AFMプローブ HARDシリーズ,- AFMプローブ 導電性ダイヤモンドコーティング DMD-XSC11

シリコンナイトライドカンチレバー・チップのガラスホルダーチップの両側に2つ配置。用途としてソフトコンタクトモードで使われます。

チップレスシリーズは、チップの片側に異なるばね定数と共振周波数を持つ3つのチップレスカンチレバーを備えています。 本シリーズは以前の12シリーズに代わるものです。 チップレスカンチレバーは材料特性と相互作用の測定に使用できます。 ガラス球やポリスチレン粒子などをチップレスカンチレバーに取り付け、AFMのような実験に適用することができます。