測定装置
研究・開発から量産検査まで、高精度で多彩な測定ニーズに応える装置を取り揃えています。可視～短波長赤外対応の分光計測器、非接触でナノスケールの変位や表面粗さを捉える3D光学プロファイラ、大型サンプル対応の白色干渉計、さらに蛍光寿命や単一光子検出に特化した光学顕微鏡・時間分解計測ソフトウェアなど、用途に応じた測定ソリューションを一挙に提供。光源・レーザー・光学部品の特性評価から、半導体・材料・機械部品の計測まで、信頼性と効率を兼ね備えた機器群で、お客様の“見えない世界”を見える形にします。
測定装置 製品一覧
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Fluke Process Instruments産業用 サーモグラフィカメラ“ThermoView TV40”ファクトリ・オートメーション用途向け高性能サーマル・イメージング・システム。保護等級IP67 (NEMA 4)の堅牢なハウジング
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おすすめOxford LasersPIV 非コヒーレント・マルチ・パルス・レーザー“FireFly 500S”境界層や壁面流、噴霧やスプレーの可視化、PIV解析用の光源、溶接の可視化に適した非コヒーレント光特性のレーザーです。鏡面やメタル面の反射が低く、金属面などの照明に最適です。最大1000 kHzの繰り返しが出来るパルス発振により、ハイスピードカメラの撮影コマ数に関係なく一定の明るさで撮影が可能です。
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HÜBNERファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”非破壊・非接触検査ができるプラグ＆プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1～2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
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Oxford LasersPIV CWレーザー（流れの可視化レーザー）“DPSS Green Laser”流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
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HÜBNERテラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
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HÜBNERテラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1～4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
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CSInstrumentsハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定（KFM、C-AFM)などに強みがあります。
- SENSOFAR Metrology3D形状・表面粗さ測定 ソフトウェアパッケージ
3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。
