測定装置 製品一覧
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HÜBNERファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
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Oxford LasersPIV CWレーザー(流れの可視化レーザー)“DPSS Green Laser”流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー
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HÜBNERテラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
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HÜBNERテラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。
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SENSOFAR Metrology3D形状・表面粗さ測定 ソフトウェアパッケージ3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。
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CSInstrumentsハイエンド リーズナブル価格 AFM Nano-Observer ナノオブザーバー1高いスキャナー性能を持つハイエンドAFMです。老舗AFMメーカのハイエンド品並みの測定品質ながらリーズナブルな価格に抑え、非常にコストパフォーマンスの高いAFMになっています。通常のAFMとしての機能のほか、電気特性測定(KFM、C-AFM)などに強みがあります。






