技術情報
ICパッケージ 寸法・表面仕上げ測定
集積回路(IC)においてパッケージングは半導体部品の封止を行う最終工程です。Sensofar製品はPCBの端子、パッドに正しく接続されるため重要なピンの寸法の測定、表面仕上げの特性評価ができます。
【材料・ナノ構造】ナノ粒子および量子ドットの特性評価
ナノ粒子や量子ドットの特性評価では、高解像度検査、材料の局所的変更、高密度場、強度強化など、目的に適応できる光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、非常に柔軟性に優れ、ナノ粒子や量子ドット研究で求められる多様なパラメータを提供します。
AMPHOS 高出力ピコ秒レーザー・アプリケーション例
AMPHOS社製高出力ピコ秒レーザーは、理科学用途から産業まで非常に広いアプリケーションにお使いいただけます。
理科学用途では、高い平均出力により計測時間を大幅に短縮できます。
NKT Photonics社 SuperK 白色光源 アプリケーション例
NKT Photonics社の Super K スーパーコンティニュームレーザーは、可視光から近赤外・中赤外までの広い波長域をカバーし、単一周波数光源に匹敵する良質なビーム品質と高輝度をもち、多様なアプリケーションの新しい可能性を開く優れたツールです。
リソグラフィ(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるリソグラフィの例をご紹介します。
ディスプレイ製造工程 TFT LCD OLED 寸法測定 特性評価
TFT液晶やOLEDなどFPD(フラットパネルディスプレイ)の製造の各段階で、TFTアレイ、スペーサー、UVフィルタ、コーティングなど様々な特性の評価、測定することができます。
ヘキサポッド の仕組み 機能性 アプリケーション 6軸平行キネマティックポジショニングシステム
ヘキサポッドは、最大6つの軸で高負荷容量と精度に対応するステージです。 平行キネマティックモーションデバイスは、多軸ポジショニングのコンパクトなソリューションで6つの自由度(X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー)を持ちます。 ここではその仕組みと優れた機能性、アプリケーションについて紹介いたします。
半導体製造工程向けアプリケーション
半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。
ラマン分光(CryLas社アプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。
切削工具 刃先 ドリル 特性評価 粗さ測定
Sensofar製品による切削工具向けのアプリケーション事例をご紹介します。共焦点、Ai焦点移動、光干渉法を使い非接触で耐用年数、性能、切削速度、精度を測定、特性評価が可能です。
広視野単一分子イメージング
寿命発色団の分離によるマルチラベル・イメージングの課題を克服。
オプティクス レンズ 光学フィルタ フィルム厚の測定・粗さ解析
レンズや光学フィルタやフィルムなど、表面が滑らかで平ら、また透明なサンプルのオプティクス、フィルム厚や表面粗さなどの測定・解析が可能です。、球面レンズ、非球面レンズ、カメラレンズ、多角形レンズ(六角形レンズ)に対応。
LIDAR レーザー光反射 距離測定 リモートセンシング
レーザーを対象に照射し、反射光の解析によりリモートセンシングやイメージングが行えます。化合物、雨、岩石、非金属、エアロゾルなど様々なものに対してセンシング・イメージングが可能です。
レーザー 超音波 非接触厚み測定 材料特性評価 欠陥検出
レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。
量子光学研究 (Koheras 単一周波数DFBファイバレーザーの活用)
量子研究は安定的で低ノイズのレーザーが重要です。さまざまな量子アプリケーションにおいて活用いただける、NKT PhotonicsのKoheras 単一周波数DFBファイバーレーザーにについてご紹介いたします。
【応用例】CANLAS社レーザー・マーキング
CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いたマーキング加工の例をご紹介します。
フェムト秒ファイバーレーザーによる多光子顕微鏡
litilit社のBiolit 2 フェムト秒ファイバーレーザーは、バイオフォトニクス・アプリケーションに最適な光源です。様々な非線形光学技術を用いた多光子顕微鏡では、高い効率と精度でシグナルを生成、バックグランドノイズも抑制できます。生体組織や生化学プロセスのラベルフリー観察にも好適です。
レーザー顕微鏡と白色干渉計の違い
光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術
レーザーマイクロダイセクション(CryLas社製品導入例)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザーマイクロダイセクションの例をご紹介します。
光ドップラー速度測定 動作原理 構成事例 開発事例
光ドップラー速度測定は高速で運動する物質の速度測定です。ファブリペロー干渉計のVISAR(レーザー速度干渉計)に比べ、機器費用の経済性に優れています。また衝撃面からの反射光の強度・速度の急激な変化にも対応します。本ページでは光ドップラー速度測定の原理、構成事例等をご紹介します。
非接触光学式3D形状測定の原理
非接触・非破壊でナノメートルからミリメートルオーダーの3D形状、および表面粗さを測定することができる形状計測技術の原理について紹介します。
【応用例】CANLAS社レーザー溶接
CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いた溶接加工の例をご紹介します。
OCT向けコンポーネント
OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。
蛍光寿命イメージング (FLIM)
蛍光寿命イメージング(FLIM)は、蛍光体の異なる蛍光減衰時間を分離することで、従来のイメージングにおける強度とは異なる画像コントラストを作り出す技術です。