GEMINIは、入力光を2つのレプリカ間の時間遅延を制御することにより、比類のない精度と再現性を提供する究極の干渉計です。
FTIR分光計と同様に、同梱のドライバーおよびソフトウェアと組み合わせて使用して、フーリエ変換アプローチに基づいて入力光（コヒーレントまたはインコヒーレント光源）のスペクトルを測定できます。

最大7波長のDPSS / LDレーザーモジュール（375～1550 nm）をコンパクトパッケージに格納。1波長当り最大300mW

新しい S neox は、性能、機能、効率、デザインの全ての面で既存の光学3Dプロファイリング顕微鏡を凌駕する、クラス最高の面形状計測システムです。

MR330シリーズ ZapFREE®光ファイバ式アブソリュート ポジション センサは、0°から360°までの絶対的な角度位置を0.025°の分解能で測定します。

この革新的なセンサーシステムは、従来のアブソリュートエンコーダやレゾルバよりも優れ、長距離(最大300メートル)まで干渉なく信号を伝送することができます。
このシステムは、パッシブな光学センサヘッド（MR332）とアクティブコントローラ（MR330）を62.5/125μmマルチモードファイバで接続しています。市販のデュプレックスLCまたは工業グレードのODVA IP-LCデュプレックスから選択できます。

実体顕微鏡下での手作業に最適なマイクロ・ハンドディスペンサ

流れの可視化光源に適した非常にコンパクトな筐体のレーザー

世界初、マスクレス微細加工のための2光子グレースケール・リソグラフィシステム。屈折型、回折型マイクロ光学素子製造のための最先端装置。

平均出力パワー:最大20W、4波長同時出力、フルカスタマイズ、波長域:257nmから最大4000nm(選択)、繰り返し周波数:2 MHz

生産ライン近くの分析室や分析ラボ向けのスタンドアローンLIBS元素分析装置
スラグ、コンクリート、金属などの迅速分析や元素マッピング分析に最適

コンパクトなサイズにSensofarの3-in-1テクノロジーを搭載した卓上型の3D形状測定装置

3Dから高アスぺクト比形状まで対応

あらゆる原子・分子分光に好適なパルス色素レーザー。370～920 nm

高い柔軟性＆高速。種々のマーキングやパルス微細加工に最適なナノ秒パルスファイバレーザー

ナノ秒レーザー加工、OEM組込みに最適。金属、プラスチック、セラミック、ガラスなど多彩な素材に適用できる高い平均出力：最大200W。1064 nm or 532 nm。繰り返し 1-100 kHz, CW

MR387シリーズ Eストップは、光ファイバを使用した完全にパッシブなEストップです。爆発性雰囲気、長距離、雷免疫、RFI、EMI が要求される場所に最適です。最大10km 離れた場所でも使用可能です。

400nm近傍の波長に感度を有する厚膜フォトレジスト。マスクレス・リソグラフィのアプリケーションを拡げます

1TW級ピーク出力を実現。信頼性の高い超高強度フェムト秒レーザー。最大6.25J。パルス幅 20fs以下。繰返し周波数 最高10Hz

2次元のXY偏向ユニットにZ軸を追加し、3次元加工に対応した3D偏向ユニットです。小スポット径で最大2,000 mm x 2,000 mmもの広いスキャンエリアを処理できます。

インラインの組み込み用に開発された高性能3D測定センサー

顧客の要求に沿った最先端レーザー加工システム。1064, 532, 355 nm 発振ナノ秒 DPSSレーザー使用

高速＆高精度分析。目的に最適なレーザーアブレーションを最高の性能で提供。

イタリアのNIREOS社のGEMINI-2Dは、過渡吸収分光測定を最先端の2次元分光装置に変換します。
GEMINI 2Dはコンパクトで非常に安定的に使用できる干渉計であり、フェムト秒レーザーパルスの2つの同一線上で位相ロックされたレプリカを生成し、比類なき安定性と堅牢性を備えています。

優れた直線性と温度特性
静的な変位測定のスタンダードモデル

波長範囲410～3450nm, UVモジュール装着で210～410nmもカバー。繰返し周波数20 Hz。パルス幅 7ns。