特定の領域や関心点の高分解能定常発光スペクトルと時間分解発光スペクトルの両方を取得することが可能。空間、スペクトル、寿命測定を一体化した時間分解マイクロフォトルミネッセンス分光のイメージング装置です。

小型広視野のフォトルミネッセンス（蛍光発光）顕微鏡。psのタイミング分解能で数psから数msの寿命検出範囲。375～1060nmの励起波長を選択可能。半導体ウェハのテストと分析、太陽電池材料とペロブスカイトの研究、ディスプレイ、LEDの材料との特性評価に最適です。

OptoFidelity社のSCOUT は、さまざまなAR/XRグラスとサブアセンブリのための、多目的なイメージングおよびテストステーションです。テスト対象デバイス（DUT）の画質を包括的に評価し、アイボックス、視野（FOV）、両眼視差、コントラスト比、色、均一性、幾何学的歪みといったさまざまな要素を測定します。

サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。

AR/VR/MRグラスのトラッキングとレイテンシの一貫した検査が可能で、仮想世界の位置がロボットの位置によってどのように変化するかを、非接触で測定します。トラッキングと時間特性に影響を与えるコンポーネントやアセンブリをテストできます。

ナノ構造の幾何学的パラメータの変位や光学特性の変化を、製造中に非接触かつ非破壊で判定します。フォトニクス、半導体、量子技術のためのグレーティングや薄膜の品質検査に好適です。

AR導光板グレーティングの品質を総合的に評価できる高精度な回折計システムです。完全自動化システムで、回折格子のピッチと方向を測定し、ピコメートルおよび秒角スケールの高い精度で、グレーティング構造の欠陥を検出できます。種類や基板に関係なくあらゆるグレーティングサンプルを測定でき、グレーティング構造の均一性を広い領域にわたって評価できます。

AR導光板の画像品質テストを自動で行えます。あらゆるAR導光板の画像品質を、タイプや構成に関係なく、確実かつ自動で測定でき、導光板の設計や製造における重要なフィードバックを提供します。プロトタイプ製造や少量生産に最適なR&D向けモデルです。

NanoViewラージスキャナシリーズは4～12インチのサンプルを分割することなく直接観察が可能。表面粗さ、粒子サイズ、ステップ高さなどの3次元表面形状の画像が取得可能な最も直感的で高速かつ費用対効果に優れた産業用AFMです。また自動ポジショニングのための座標の設定も可能で、製品開発と品質管理にとって最適なツールをなっています。

ARグラス用導光板の製造環境向けに開発された、高速で使いやすい画像品質検査システムです。AR導光板製造の全工程にわたって、一貫した品質管理を実現し、AR導光板の大量生産における高いスループットと歩留まりが得られます。自動合否判定やモーションコントロールなど、簡単操作でコスト削減する一方、ユーザーに合わせた高度な解析を可能にするAPIと高い拡張性を提供します。製造ラインと試作ラインの両方に好適です。

高品質かつ高精度なタイムベースと低ジッタ・モードを持つデジタルサンプリングオシロスコープです。超低ジッター性能を実現。コスト効率が高く、スケーラブルで高い拡張性を備えています。高精度な測定を同時に実行が可能で、テストのスループットを最適化し、テスト全体のコストを削減できます。コンパクト設計、リモートコントロールとAPIで装置に簡単に組込んでいただけます。

1200– 2300 nm（拡張短波赤外 ）に対応、ハイパースペクトルカメラHERA Extended SWIRは優れた空間スペクトル分解能と、低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。分解能（636x508）TE付き拡張InGaAs を搭載により高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ（開口）で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。

900 – 1700 nm （短波赤外）に対応のハイパースペクトルカメラ　HERA SWIRは優れた空間スペクトル分解能と低い照度の下でも高感度を実現するフーリエ変換 (FT) 検出技術を採用。冷却InGaAs (640x512)、14ビットセンサーを搭載し高精細を実現。1㎝クリアアパーチャ（開口）で優れた光透過率を備えたコンパクトかつ頑強なカメラです。

波長375～1550nm。高出力レーザーを最大6つ搭載可能。マルチモードに対応。オプションにて切替用NDフィルターを内蔵。広視野レーザー照明にご使用いただけます。

400 - 1000 nm（可視光 - 近赤外）に対応するハイパースペクトルカメラ　HERAは。フーリエ変換 (FT) 検出の技術を基に卓越した空間スペクトル分解能と低照度下での優れた感度を実現。CMOSセンサー1280 x 1024を搭載。コンパクトかつ頑強な設計で、1cｍ クリアアパーチャ（開口）で卓越した光透過率を備えたカメラです。

8インチ（200mm）ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。

光誘起力を使った次世代のPiFM ・ PiF -IR 機器　半導体、ナノフォトニクス、ポリマー、無機物などに向けた様々な用途で使用いただけるAFM-IR装置です。

ナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。

光学顕微鏡を備えたAFMのプラットフォーム。高速走査かつ高分解能、原子力間顕微鏡によるイメージングを実現。空中や液体中での測定に対応。

フォトニックドップラー速度計測（PDV）は、数10km/sまでの高速度事象の計測に用いられる確立された技術です。ヘテロダイン速度計とも呼ばれ、VISAR（Velocity Interferometer System for Any Reflector）の補助ツールまたは代替ツールとして使用することが出来ます。