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非接触3D光学プロファイラ 組み込みソリューション

SENSOFAR Metrology

非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット です。3D光学プロファイラおよび3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載しています。

堅牢かつ高い信頼性の非接触3D光学プロファイラ

堅牢かつ高い信頼性の非接触3D光学プロファイラ製造現場は測定機器にとって過酷な環境であることが多く、変化する条件、振動、劣化を起こす材料などが測定作業を、より困難なものにします。当社の組込み型3Dセンサは、まさにこのことを念頭に置いて設計されています。密閉されたセンサヘッドはデブリやパーティクルの侵入を防ぎます。また、機械的可動部品がない光学系は、長期間にわたって、センサをクリーンに保ち、アライメントも保持されます。

 

小型・軽量で取付方向が自由なプロファイラセンサユニット

堅牢かつ高い信頼性の非接触3D光学プロファイラ組込みやすさを重視した、小型で軽量なデザインです。また、あらゆる方向での測定が可能なため、アプリケーションの要求に応じてSensofarのセンサを設置できます。ケーブルの長さは最大20mで、インライン生産とロボット搭載の両方のアプリケーションに完璧に適応します。

 

ソリューション:Sensofar 3Dセンサ ー あらゆる表面を、妥協のない精度で

Sensofarの3Dセンサは、品質管理(QC)および品質保証(QA)における最も高度な要求に応えるために設計されました。
ナノスケールの粗さからマクロな形状測定まで、単一のシステムで多様なテクスチャや構造を高精度に捉える「多機能性」がSensofarの強みです。
 

フリンジ投影
フリンジ投影
Ai焦点移動法
Ai焦点移動法
共焦点
共焦点
白色干渉
白色干渉
分光反射率測定
分光反射率測定

 

非接触3D光学プロファイラ 組み込みソリューション 製品ラインナップ

お客様の計測ニーズに合わせて、4つの革新的なソリューションを提供します。
 

S mart 2 世界唯一の自動化対応センサ

S mart 2 世界唯一の自動化対応センサ

コンパクトながら、面測定による粗さ・形状解析を自動実行します。

Ai焦点移動法 共焦点 白色干渉

 
最適なアプリケーション
インライン検査、自動化ラインへの統合、省スペースでの高機能計測
 
主な特徴

  • 測定時間 2 s
  • FOV (シングルショット) > 3.4 x 2.8 mm
  • コンピュータ ヘッド内蔵
  • 高空間分解能
  • システムノイズ < 1 nm

 
装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor

 

S neox 究極の柔軟性を備えた産業用システム

S neox 究極の柔軟性を備えた産業用システム

組込み型センサの中でも最も柔軟性に優れ、市場で最も多機能な産業用システムです。

Ai焦点移動法 共焦点 白色干渉 分光反射率測定

 
最適なアプリケーション
研究開発、高度な産業プロセス、汎用性の高い品質管理
 
主な特徴

  • 測定時間 3 s
  • FOV (シングルショット) > 6.7 x 5.6 mm
  • 高空間分解能
  • システムノイズ < 0.01 nm

 
装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox sensor

 

S neox Cleanroom ISOクラス1対応、唯一の組込みヘッド

S neox Cleanroom ISOクラス1対応、唯一の組込みヘッド

最高レベルの清浄度が求められる環境下で、比類なき多機能性を発揮します。市場で最も多機能な組込み可能なヘッドで、ISOクラス1に対応した唯一のヘッドです。

Ai焦点移動法 共焦点 白色干渉 分光反射率測定

 
最適なアプリケーション
半導体製造、精密光学、極低発塵環境でのインライン計測
 
主な特徴

  • 測定時間 3 s
  • FOV (シングルショット) > 6.7 x 5.6 mm
  • 光学分解能エネルギー < 148 nm
  • システムノイズ < 0.01 nm

 
クリーンルーム対応 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡 S neox Cleanroom sensor

 

S wide 大面積をワンショットで

S wide 大面積をワンショットで

シングルショットで広範囲の形状を高速に捉え、圧倒的なスループットを実現します。速度と形状測定が重要なアプリケーションに最適です。

フリンジ投影

 
最適なアプリケーション
広範囲の形状測定、スピードが重視される生産現場
 
主な特徴

  • 測定時間 3 s
  • FOV (シングルショット) 34.7 x 29.1 mm
  • 光学分解能エネルギー n/a
  • システムノイズ 1 µm

 
S wide sensor Large area 3D profiler(Sensofarサイトへ遷移します)
 

組み込み事例

WSM1300 ウェハ表面測定システム

QESにより設計された WSM1300 ウェハ表面測定システムに、Sensofar社製 S mart 2 センサ が採用され、組み込まれています。8インチ SEMI規格 オープンカセット、12インチ SEMI規格 FOUP および FOSB に対応した自動測定ソリューションを提供します。マッピングセンサ付きユニバーサルロードポート、Hirata製 ATMロボットアーム、ウェハプリアライナ、ウェハ IDリーダーを備えた本システムは、ウェハカセットをシームレスにハンドリングし、表面トポグラフィー分析のための包括的かつ高精度なソリューションを提供します。
 

 

AMS650 PCB 3D自動測定機

BRET社により設計された AMS650 PCB検査システムに、Sensofar社製 S neox センサ が採用され、組み込まれています。S neoxに650×650mmのXYステージが組み合わされ、PCB検査の自動化ソリューションを提供します。SensoPRO ソフトウェア を使用することで、AMS650はすべてのデータを自動的に分析し、合否判定レポートを生成します。この画期的な技術により、パッド、ビア、トレース寸法、表面仕上げなどの主要な特徴を測定することで、製造工程におけるPCB検査を一元化できます。
 

 

ソフトウェアマップ

Sensofarのソフトウェアとハードウェアを組み合わせることで、完全なソリューションを実現します。このソフトウェアマップでは、センサヘッドがどのように測定を行うかのプログラミングから、その結果に対してどのような解析を行うかの設定まで、測定のワークフローが示されています。

 

SensoPRO 測定から合否判定まで完全自動。現場のスピードを加速

SensoPRO 測定から合否判定まで完全自動。現場のスピードを加速

SensoPRO 測定から合否判定まで完全自動。現場のスピードを加速SensoPROは、取得したトポグラフィデータを人の手を介さずに自動解析できる、画期的なソフトウェアです。
面粗さ、構造物の高さや直径、その他あらゆる表面形状の特徴を、生産ラインのタクトタイムを妨げない圧倒的なスピードで算出します。
独自のカスタムプラグインによる解析アルゴリズムが、高精度な合否判定(Pass/Fail)を瞬時に実行。解析からレポート作成までのプロセスを自動化し、品質管理のインテリジェント化を実現します。
 
検査工程向け自動解析ソフトウェア SensoPRO

 

SensoVIEW あらゆるタスクを支える解析ソフトウェア

SensoVIEW あらゆるタスクを支える解析ソフトウェア

SensoVIEW あらゆるタスクを支える解析ソフトウェアSensoVIEWは、3D・2D測定の予備検査から詳細な解析までをカバーする、汎用性の高いソフトウェアで、あらゆる分析ニーズに対応します。
粗さや体積の算出、重要寸法の測定といった一連のプロセスを、充実したツールスイートでスムーズに実行。解析データはレポート作成やCSV出力に柔軟に対応します。さらに、一度設定した分析フローは保存して他のデータにも適用できるため、検査業務の効率化を強力に後押しします。
 
SensoVIEW Powerful Analysis Software(Sensofarサイトへ遷移します)

 

SDK 自由自在なシステム構築を。遠隔制御とデータ連携をサポート

SDK 自由自在なシステム構築を。遠隔制御とデータ連携をサポート

SDK 自由自在なシステム構築を。遠隔制御とデータ連携をサポートSensoVIEWは、3D・2D測定の予備検査から詳細な解析までをカバーする、汎用性の高いソフトウェアで、あらゆる分析ニーズに対応します。
粗さや体積の算出、重要寸法の測定といった一連のプロセスを、充実したツールスイートでスムーズに実行。解析データはレポート作成やCSV出力に柔軟に対応します。さらに、一度設定した分析フローは保存して他のデータにも適用できるため、検査業務の効率化を強力に後押しします。
 
SensoSCAN SDK Software Development Kit(Sensofarサイトへ遷移します)

光干渉・焦点移動・共焦点 表面粗さ計測 技術情報

関連製品

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