2027/04/21〜2027/04/23
OPIE’27
前回出展時（2026）の様子
展示会概要
- 会期：2027年4月21日(水)～23日(金) 10:00 – 17:00
- 会場：パシフィコ横浜（〒220-0012 神奈川県横浜市西区みなとみらい1-1-1）
- ご来場：事前来場登録
2026年度出展品
- メタレンズ／ワイヤーグリッド偏光素子（Moxtek）
- レーザー・ファイバ融着接続機（Nyfors）
- 広帯域 波長可変レーザー 400–1000nm SuperK CHROMATUNE（NKT Photonics）
- ビームアナライザー（Duma Optronics）
- ウェハ歪み/トポグラフィ測定センサ(開発中) : パターン投影型オートコリメータ（Fringe Metrology）
- ファイバ・マルチチャンネル分光器（Yixi Technology）
- 320nm & 349nm 単一周波数 CW DPSSレーザー（Skylark Lasers）
- ナノ位置決めステージ／レーザー干渉式変位センサ（attocube systems）
- 小型Qスイッチ・ナノ秒パルスDPSSレーザー（CryLas）
- 非接触 厚み計（Bristol Instruments）
- シングル/デュアル/マルチチャンネル LED光源（LEJ）
- 狭線幅レーザー（Omicron）
- 時間分解計測・ASOPS向け 単一キャビティ・デュアルコムレーザー（K2 Photonics）
- ナノ～フェムト秒 パルスレーザー（Photonics Industries）
- レーザー加工に最適 パルスファイバレーザー “TruPulse”（Trumpf）
- 高出力フェムト秒ファイバレーザー（Fluence technology）
- 微細加工向けフェムト秒ファイバレーザー “Indylit”（litilit）
- 2軸／3軸ガルバノスキャナ（RAYLASE社）
- 最大 2000mJ コンパクト ナノ秒パルスレーザー Lapa / Dawaシリーズ（Beamtech Optronics）
- 高速レーザースキャニング欠陥検査装置（Onto Innovation）
- 装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor（Sensofar）
- AR/VR/MRデバイス製造向け計測システム（OptoFidelity）