表面物性分析 製品一覧
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Molecular Vista12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300サンプルは12インチ 300 mm × 300 mm まで対応のAFM。ナノ加工における研究開発および故障解析に最適な最先端の ナノ化学測定装置。業界トップクラスの自動化を実現したAFMです。
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Molecular Vista8インチ 200 mm ウエハ対応 AFM-IR装置 Vista 200 PiFM / PiF-IR8インチ(200mm)ウエハをそのままサンプルステージに乗せてAFM-IR測定を実施できる大型サンプル対応モデルです。8インチウエハだけでなく、152mmのフォトマスクサンプルにも対応します。高空間分解能のケミカルイメージングのほか、ナノスケールIR分光により、ナノ異物分析にも対応します。IRライブラリにも対応します。
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Molecular VistaAFM-IR装置 Vista One, IR-PiFM / PiF-IRナノスケールIR化学分析用のオリジナルPiFM用AFM。 Vista One は、FTIR やナノ FTIR よりも詳細なナノスケールのケミカルマッピングと点スペクトルを取得します。
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SENSOFAR Metrology装置組込み用3D光学プロファイラ・共焦点顕微鏡 シリーズ一覧非接触・非破壊で表面の微細形状、面粗度、粗さ、薄膜計測などの3D形状を測定することができる装置組込み用の顕微鏡ユニット 。3D光学プロファイラおよび3Dレーザー顕微鏡に代表される共焦点顕微鏡技術を搭載。
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Surface Preparation Laboratory (SPL)金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶金属単結晶・酸化物単結晶・合金単結晶試料の高品質品を高精度加工
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Varioscale非接触型厚さ測定装置 “VarioMetric”レーザー干渉を利用した厚さ測定装置。厚膜(1~500μm)測定用。小型・高速・高精度。VarioMetricは表面が粗くても高精度な厚さ測定が可能な装置です。高速かつ自動で測定が可能で、半導体製造やMEMS分野での様々な用途に使用いただけます。特に、先端パッケージ ICや集積回路の製造工程において、重要な役割を果たします。
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SENSOFAR Metrology3D光学プロファイラ シリーズ一覧非接触・非破壊で表面の微細な3D形状、および粗さを測定・解析することができる形状計測装置です。装置組込み用顕微鏡ヘッドモデル、テーブルトップモデル、大型ステージ付きモデル、クリーンルーム対応モデルまで用途に応じた幅広いラインナップを提供。
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おすすめSENSOFAR MetrologyR&D向けコンパクトモデル 3D光学プロファイラ S lynxS lynxは、産業および研究分野向けに開発された非接触3D表面形状測定装置です。コンパクトながら多用途で、光学部品のような滑らかな面から凹凸のある粗い面まで、幅広いアプリケーションに1台で対応します。独自の3-in-1測定技術とSensoSCANソフトウェアにより、R&D用途に最適な直感的操作と高精度測定を実現しています。
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SENSOFAR Metrology3D形状・表面粗さ測定 ソフトウェアパッケージ3D形状や表面粗さを測定、解析するための直感的で使いやすいソフトウェアパッケージを装置とセットで提供しています。









