異物検査、成分分析
日本レーザーでは、ティラミック対応の400〜1700 nmハイパースペクトルカメラ「HERA VIS-SWIR」などを取り揃え、可視から短波長赤外までの帯域で材料の成分や異物を高精度に検出・解析できる機器群をご提供しています。製造現場や研究開発において、非破壊かつ迅速な異物検査や化学成分マッピングを実現することで、品質保証や材料特性評価を強力に支援します。

異物検査、成分分析 製品一覧
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KEMTRAK配管据え置き型 インライン濁度計 “TC007”長寿命LEDを搭載した光散乱原理の濁度計。センシティブな部品群を計測ラインから隔離したユニットに実装。過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザインの濁度計です。
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KEMTRAKプロセスフォトメータ(濃度・色モニタ)”DCP007″インライン用の吸光光度計。プロセスの濃度・色測定に最適。 過酷な環境下でもメンテナンスフリーで使用することのできる堅牢なデザイン。
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HÜBNERファイバカップル・テラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER F”非破壊・非接触検査ができるプラグ&プレイのテラヘルツ・スペクトロメータ。周波数範囲 0.1~2.5 THz、最大ダイナミックレンジ 54 dB
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HÜBNERテラヘルツ分光解析装置“T-COGNITION”テラヘルツ分光により、封書や小包の中に隠された有害物質を正確に、わずか数秒以内で同定
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HÜBNERテラヘルツ分光検査装置“T-SPECTRALYZER”テラヘルツ分光を用いた日々のルーチン測定向けの簡単・使い易い非接触・非破壊分析装置。周波数範囲 0.1~4.0 THz、最大ダイナミックレンジ 70 dB。




