技術情報 一覧

光ドップラー速度測定 動作原理 構成事例 開発事例

Quantifi Photonics

光ドップラー速度測定は高速で運動する物質の速度測定です。ファブリペロー干渉計のVISAR(レーザー速度干渉計)に比べ、機器費用の経済性に優れています。また衝撃面からの反射光の強度・速度の急激な変化にも対応します。本ページでは光ドップラー速度測定の原理、構成事例等をご紹介します。

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浮遊ナノ粒子の研究(Koheras 低ノイズ単一周波数ファイバーレーザーの活用)

NKT Photonics

NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、チューリッヒ工科大学で研究されている石英ガラスの真空浮遊ナノ粒子の磁気光学トラップにおいて重要な要素です。

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カメラオプション

Photon Energy

シンプル、優れた柔軟性、高精度なレーザーマーキングを可能にするカメラシステム

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切削工具 刃先 ドリル 特性評価 粗さ測定

SENSOFAR Metrology

Sensofar製品による切削工具向けのアプリケーション事例をご紹介します。共焦点、Ai焦点移動、光干渉法を使い非接触で耐用年数、性能、切削速度、精度を測定、特性評価が可能です。

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プロセスフォトメータ 適用例

KEMTRAK

Kemtrak社のプロセスフォトメータ(濁度、濃度、色計測)の適用例を紹介します。

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ラマン分光(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。

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ヘキサポッド の仕組み 機能性 アプリケーション 6軸平行キネマティックポジショニングシステム

Newport

ヘキサポッドは、最大6つの軸で高負荷容量と精度に対応するステージです。 平行キネマティックモーションデバイスは、多軸ポジショニングのコンパクトなソリューションで6つの自由度(X、Y、Z、ピッチ、ロール、ヨー)を持ちます。 ここではその仕組みと優れた機能性、アプリケーションについて紹介いたします。

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時間分解分光による半導体材料評価

PicoQuant

半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数(TCSPC)による時間分解フォトルミネッセンス(TRPL)が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。

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【産業用途】画像センサーと検出器の特性評価

NKT Photonics

光学センサーの特性評価、テスト、および校正を行うには、高輝度で広範な連続スペクトルを出力できる光源が必要です。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、フィルタ類を組合せて、チューナブルな狭線幅シングルモードレーザーとしても、広範な波長可変レーザーとしても使用でき、幅広い特性評価に容易に対応できます。

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半導体製造工程向けアプリケーション

SENSOFAR Metrology

半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。

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彫刻 / マーキング(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによる彫刻およびマーキングの例をご紹介します。

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ライトシート顕微鏡 寿命イメージング

Photonscore

ライトシート顕微鏡を使用した寿命イメージングの事例紹介。ラット胚の光学的切片化よるFLIM、蛍光寿命イメージング顕微の事例を動画と共に紹介します。

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LIBS レーザー誘起ブレークダウン分光法

Beamtech Optronics

レーザー誘起ブレークダウン分光法( LIBS )は高エネルギーのレーザーパルスよってプラズマを生成し、サンプルを原子化および励起することにより、固体、液体、気体などあらゆる物質を分析することが可能です。

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CMPパッドの液中3D表面形状測定・パッド寿命評価

SENSOFAR Metrology

Sensofar 組込みセンサによるCMP(Chemical Mechanical Planarization)工程のパッドの平坦性の測定・解析。S mart によるCMPの測定によって、CMPパッドは全般的に十分活用されておらず、多くの場合は有効な製品寿命が半分以上残ったまま廃棄されていることが明らかになっています。

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【加工例】コンパクト レーザー微細加工装置 “Aシリーズ”

Oxford Lasers

Aシリーズ ナノ秒レーザーを使用したレーザー微細加工例をご紹介します。

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質量分析(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによる質量分析の例をご紹介します。

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広視野単一分子イメージング

Photonscore

寿命発色団の分離によるマルチラベル・イメージングの課題を克服。

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ディスプレイ製造工程 TFT LCD OLED 寸法測定 特性評価 

SENSOFAR Metrology

TFT液晶やOLEDなどFPD(フラットパネルディスプレイ)の製造の各段階で、TFTアレイ、スペーサー、UVフィルタ、コーティングなど様々な特性の評価、測定することができます。

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【材料・ナノ構造】グラフェンとカーボンナノチューブの特性評価

NKT Photonics

グラフェンは、炭素原子が六角形格子構造を成す二次元 (2D) 原子結晶で、強度が高く軽い素材でありながら、非常に柔軟です。さらに極めて優れた機械的剛性、高い弾性、優れた電気伝導性と熱伝導性を示します。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、グラフェンと、グラフェンシートを管状にしたカーボンナノチューブの、マッピングや特性評価に活用されています。

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工作機械(QA,QC)・アプリケーション

ワークピースのサイズのバリエーションや複雑さが増しており、このような高品質な部品への要求が高まるにつれ、超精密な製造装置や検査装置へのニーズが高まっています。attocube社の超小型レーザー干渉式変位センサIDS3010は、認定された精度と最高の柔軟性を備えており、精密加工アプリケーションに最適です。

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【応用例】ハイエンド サーモグラフィ“ImageIR”

InfraTec

測定・検査向けハイエンドカメラ“ImageIR”の応用例をご紹介します。

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半導体製造装置・アプリケーション

半導体メーカーは、効率的で高密度なチップを製造しなければなりません。生産から品質保証に至るまでのすべての工程に共通する条件は、最高の精度と信頼性を確保し、品質を最大限に高めることです。attocube社の高精度部品は、これらの要求にお応えし、半導体アプリケーションに最先端の技術を提供します。

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レーザー 超音波 非接触厚み測定 材料特性評価 欠陥検出

Beamtech Optronics

レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。

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【応用例】CANLAS社レーザー溶接

Canlas

CANLAS社のQスイッチ半導体励起固体レーザーを用いた溶接加工の例をご紹介します。

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