LIDAR レーザー光反射 距離測定 リモートセンシング
レーザーを対象に照射し、反射光の解析によりリモートセンシングやイメージングが行えます。化合物、雨、岩石、非金属、エアロゾルなど様々なものに対してセンシング・イメージングが可能です。
レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。
レーザーマイクロダイセクション(CryLas社製品導入例)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザーマイクロダイセクションの例をご紹介します。
非接触光学式3D形状測定の原理
非接触・非破壊でナノメートルからミリメートルオーダーの3D形状、および表面粗さを測定することができる形状計測技術の原理について紹介します。
従来FT-IRの次世代技術 ”QCL-IR”
QCL-IRは、約1000cm-1の波数範囲を10Hzで掃引し、スペクトルの取得が可能です。IRケミカルイメージング(2次元マッピング)、リアルタイム赤外イメージング、溶液・ガスのリアルタイム分析の時間短縮を実現し、高速で結果をご提供します。
先進的な測定・観察方式
SENSOFAR社の3D測定顕微鏡は、共焦点・光干渉・焦点移動(フォーカスバリエーション)方式の標準的な原理だけでなく、それらの技術をさらに革新させた共焦点技術や膜厚測定などの先進的な測定、観察方式を有しています。
半導体製造装置・アプリケーション
半導体メーカーは、効率的で高密度なチップを製造しなければなりません。生産から品質保証に至るまでのすべての工程に共通する条件は、最高の精度と信頼性を確保し、品質を最大限に高めることです。attocube社の高精度部品は、これらの要求にお応えし、半導体アプリケーションに最先端の技術を提供します。
NKT Photonics社 SuperK 白色光源 アプリケーション例
NKT Photonics社の Super K スーパーコンティニュームレーザーは、可視光から近赤外・中赤外までの広い波長域をカバーし、単一周波数光源に匹敵する良質なビーム品質と高輝度をもち、多様なアプリケーションの新しい可能性を開く優れたツールです。
Photon Energy レーザー・プラスチック加工
フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:プラスチック加工(炭化、彫刻、発泡成形、素材除去)
Ti:Sapphire レーザー 励起用CPAシステム
Ti:Sapphireレーザー 近赤外光を発光する波長可変光源です。Ti:Sapphireレーザー の励起用レーザーを多数ラインナップしております。
ラマン分光(CryLas社アプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるラマン分光法の例をご紹介。
スピニングディスクユニット付き共焦点超解像FLIM顕微鏡検査
回転するディスクユニットを備えた共焦点で超解像度のFLIM 顕微鏡による検査の事例紹介
切削工具 刃先 ドリル 特性評価 粗さ測定
Sensofar製品による切削工具向けのアプリケーション事例をご紹介します。共焦点、Ai焦点移動、光干渉法を使い非接触で耐用年数、性能、切削速度、精度を測定、特性評価が可能です。
フェムト秒ファイバーレーザーによる多光子顕微鏡
litilit社のBiolit 2 フェムト秒ファイバーレーザーは、バイオフォトニクス・アプリケーションに最適な光源です。様々な非線形光学技術を用いた多光子顕微鏡では、高い効率と精度でシグナルを生成、バックグランドノイズも抑制できます。生体組織や生化学プロセスのラベルフリー観察にも好適です。
【量子技術】原子のレーザー冷却&トラッピング
NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、超低ノイズ、狭線幅、高い周波数安定性、さらには堅牢で信頼性の高いファイバー出力レーザーで、原子トラッピング/原子冷却に最適です。
リソグラフィ(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるリソグラフィの例をご紹介します。
PHOTONmark ソフトウェア
Photon Energy社のレーザーマーキングシステム用のソフトウェア
プリント基板の3D検査 銅回路 パッド バンプ レーザーグルービング 寸法測定 特性評価
PCB プリント基板が正常に機能するための重要な銅回路、パッド、バンプ、レジスト開口部、レーザーグルービングの測定・特性評価が可能。分析ソフトウェアを最適化しました。
Photon Energy レーザー微細加工&レーザー・ストラクチャリング
フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:レーザー微細加工、レーザー・ストラクチャリング
アブレーション(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)
CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるアブレーション・アプリケーションの例をご紹介。
レーザー顕微鏡と白色干渉計の違い
光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術
半導体製造工程向けアプリケーション
半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。
レーザー 超音波 非接触厚み測定 材料特性評価 欠陥検出
レーザーで発生させた超音波により、材料の特性評価・非接触での厚み測定、欠陥検出などが可能です。産業用途でのオンライン監視などで活用されています。
オプティクス レンズ 光学フィルタ フィルム厚の測定・粗さ解析
レンズや光学フィルタやフィルムなど、表面が滑らかで平ら、また透明なサンプルのオプティクス、フィルム厚や表面粗さなどの測定・解析が可能です。、球面レンズ、非球面レンズ、カメラレンズ、多角形レンズ(六角形レンズ)に対応。