展示会情報

展示会概要

• 会期：2026年9月2日（水）～4日（金）
• 会場：幕張メッセ国際展示場（〒261-0023千葉県千葉市美浜区中瀬2-1）
• 小間番号：7A-401

出展社セミナーのご案内

• 日時：9月3日(木) 11:00-11:30
• 会場：TKP東京ベイ幕張ホール（旧アパホテル＆リゾート〈東京ベイ幕張〉ホール）NO.8
• 内容：空間分解能5nm以下で化学特性を可視化するIR-PiFM (AFM-IR) 基礎と半導体基板におけるナノ欠陥レビューへの応用
• 関連製品：AFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置（Molecular Vista）

出展品

• 空間分解能 10nm AFM-IR装置（Molecular Vista）
• 低価格 高分解能 Nanoview 1000 AFM（FSM Precision）
• ウェハ歪み/トポグラフィ測定センサ(開発中) : パターン投影型オートコリメータ（Fringe Metrology）
• 多種の測定モード ナノオブザーバーAFM（CSInstruments）
• レーザーアブレーション装置（Elemental Scientific Lasers）
• インライン濃度・濁度・色計測装置（Kemtrak）
• LIBS元素分析システム（SECOPTA）
• 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡（SENSOFAR Metrology）
• 超解像光学顕微鏡（LIG Nanowise）
• レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS（Sympatec）
• ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS（Scigentec）