展示会情報

展示会概要

• 会　　期：2026年9月2日（水）～4日（金）
• 会　　場：幕張メッセ国際展示場（〒261-0023千葉県千葉市美浜区中瀬2-1）
• 小間番号：-

2025年度出展品

• 空間分解能 10nm AFM-IR装置（Molecular Vista）
• 低価格 高分解能 Nanoview 1000 AFM（FSM Precision）
• 多種の測定モード ナノオブザーバーAFM（CSInstruments）
• 基板用欠陥検査装置（Onto Innovation）
• レーザーアブレーション装置（Elemental Scientific Lasers）
• インライン濃度・濁度・色計測装置（Kemtrak）
• LIBS元素分析システム（SECOPTA）
• 装置組込み用白色干渉計・共焦点顕微鏡（SENSOFAR Metrology）
• 超解像光学顕微鏡（LIG Nanowise）
• レーザー回折式 粒度分布測定装置 HELOS（Sympatec）
• ペレット・粉体用 異物検査装置 CALPAS（Scigentec）