展示会情報

展示会概要

• 会期：2026年12月9日（水）～11日（金）
• 会場：東京ビッグサイト
• ご来場：事前来場登録
• ブース番号：E2708

出展予定品

• ワイヤーグリッド偏光子／メタレンズ（Moxtek社）
• 装置組込み用非接触3D面粗さ計測装置 “S mart”（SENSOFAR Metrology）
• 基板用 高速レーザー欠陥スキャナー PrimaScanシリーズ（Onto Innovation）
• 業界トップクラスの自動化を実現！12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300（Molecular Vista）
• 低価格 高イメージング品質 AFM “Nanoview 1000”（FSM Precision）
• 伝導性リサーチ用AFM ハイエンド＆低価格 Nano-Observer（CSInstruments）
• ナノ精度アライメントシステム搭載 光実装と微小光学用3Dプリンタ “Quantum X align”（Nanoscribe）
• 真空対応モーション＆コントロール ナノ位置決めステージ/レーザー干渉式変位センサ（attocube systems）
• マイクロスフィア式超解像分解能光学顕微鏡 ≦100nm分解能 NANORO M（LIG Nanowise）
• ウェハ歪み/トポグラフィ測定センサ(開発中) : パターン投影型オートコリメータ（Fringe Metrology）

展示会サイトへ