技術情報 一覧

高解像度&リアルタイム テラヘルツイメージング技術

Lytid

Lytid社とボルドー大学 IMS Nanoelectronicグループ(Patrick Mounaix教授)との共同研究による、テラヘルツ技術を駆使したイメージングアプリケーションの研究開発成果をご紹介します。

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アブレーション(CryLaS社レーザーアプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるアブレーション・アプリケーションの例をご紹介。

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【産業用途】太陽電池の特性評価

NKT Photonics

太陽電池のバルクサンプルの特性評価や、マイクロスケール形状の調査には、できるだけ太陽スペクトルに近いスペクトルをもつ広帯域な励起光源が必要です。NKT Photonics社のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、特に可視域での高い輝度をもち、太陽電池の特性評価に最適です。

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切削工具 刃先 ドリル 特性評価 粗さ測定

SENSOFAR Metrology

Sensofar製品による切削工具向けのアプリケーション事例をご紹介します。共焦点、Ai焦点移動、光干渉法を使い非接触で耐用年数、性能、切削速度、精度を測定、特性評価が可能です。

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半導体製造装置・アプリケーション

半導体メーカーは、効率的で高密度なチップを製造しなければなりません。生産から品質保証に至るまでのすべての工程に共通する条件は、最高の精度と信頼性を確保し、品質を最大限に高めることです。attocube社の高精度部品は、これらの要求にお応えし、半導体アプリケーションに最先端の技術を提供します。

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ディスプレイ製造工程 TFT LCD OLED 寸法測定 特性評価 

SENSOFAR Metrology

TFT液晶やOLEDなどFPD(フラットパネルディスプレイ)の製造の各段階で、TFTアレイ、スペーサー、UVフィルタ、コーティングなど様々な特性の評価、測定することができます。

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OCT向けコンポーネント

General Photonics

OCT(光干渉断層撮影法)は高解像度で生体やサンプル内部を画像化します。General PhotonicsはOCT用コンポーネントを広くサポートしています。

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Photon Energy レーザー・ガラス加工

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:ガラス加工

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PIV 粒子画像流速測定法 

Beamtech Optronics

PIV は流体の可視化する光学的手法です。流体内トレーサー粒子がレーザーにより照らされ、方向速度を測定することが可能です。二次元/三次元 PIV、トモグラフィ PIV、時間分解 PIVに向けたレーザーをラインナップいたしております。

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広視野単一分子イメージング

Photonscore

寿命発色団の分離によるマルチラベル・イメージングの課題を克服。

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時間分解分光による半導体材料評価

PicoQuant

半導体の電荷キャリアダイナミクスはウェハ材料の性質と品質を直接反映します。この特性を明らかにするため、光励起された電子と正孔の拡散長の正確かつ効率的な測定することが不可欠です。これには時間分解フォトルミネッセンス消光実験、すなわち時間相関単一光子計数(TCSPC)による時間分解フォトルミネッセンス(TRPL)が有効です。PicoQuant社の分光計 FluoTime 300や、励起光源としてTaiko PDL M1 レーザードライバ駆動のピコ秒パルスレーザーにより、電荷キャリアダイナミクスに影響を与える現象を最短サブナノ秒の時間スケールで直接分析できます。

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真核細胞の解糖振動に続くNADHイメージング

Photonscore

代謝物NADHを解糖の固有マーカーとして用いることで、個々の細胞の動態をモニターし、その相互作用を研究することが可能です。

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フェムト秒ファイバーレーザーによる多光子顕微鏡

litilit

litilit社のBiolit 2 フェムト秒ファイバーレーザーは、バイオフォトニクス・アプリケーションに最適な光源です。様々な非線形光学技術を用いた多光子顕微鏡では、高い効率と精度でシグナルを生成、バックグランドノイズも抑制できます。生体組織や生化学プロセスのラベルフリー観察にも好適です。

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オプティクス レンズ 光学フィルタ フィルム厚の測定・粗さ解析

SENSOFAR Metrology

レンズや光学フィルタやフィルムなど、表面が滑らかで平ら、また透明なサンプルのオプティクス、フィルム厚や表面粗さなどの測定・解析が可能です。、球面レンズ、非球面レンズ、カメラレンズ、多角形レンズ(六角形レンズ)に対応。

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レーザー顕微鏡と白色干渉計の違い

SENSOFAR Metrology

光学顕微鏡を用いた共焦点と光干渉方式による3次元形状測定技術

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半導体製造工程向けアプリケーション

SENSOFAR Metrology

半導体の製造工程おけるSensofar製品の測定アプリケーションをご紹介します。重要な寸法の測定、3D測定、膜厚測定、粗さの特性評価、欠陥検査などでご使用いただけます。

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質量分析(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによる質量分析の例をご紹介します。

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【航空・リモートセンシング】LIDARシステム

NKT Photonics

LIDAR システムのパフォーマンスは、レーザーの選択で決まります。異なる用途には、異なるレーザーが必要です。NKT Photonics社のレーザーをLIDARシステムに導入することで、ターゲット上の点、精度、角度解像度、空間解像度、点密度、射程の点で優れたパフォーマンスが得られます。

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レーザー誘起蛍光法(CryLas社アプリケーションノート)

CryLaS

CryLaS社小型&低ノイズレーザーシステムによるレーザー誘起蛍光法の例をご紹介します。

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ICパッケージ 寸法・表面仕上げ測定

SENSOFAR Metrology

集積回路(IC)においてパッケージングは半導体部品の封止を行う最終工程です。Sensofar製品はPCBの端子、パッドに正しく接続されるため重要なピンの寸法の測定、表面仕上げの特性評価ができます。

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Photon Energy レーザー金属加工

Photon Energy

フォトンエナジー社 レーザーマーキング・レーザープロセス製品によるアプリケーション例:金属加工(彫刻、カラーアニーリング、切断、素材除去、ブラックマーキング

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原子のレーザーマニピュレーションによる量子慣性センサの製作

NKT Photonics

NKT Photonics社のKoherasシリーズ 単一周波数ファイバレーザーは、バーミンガム大学で開発された世界で最もポータブルな量子重力偏差計において重要な要素です。原子操作の要件である、高速周波数変調、狭線幅、低ノイズを高いレベルで提供します。

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カメラオプション

Photon Energy

シンプル、優れた柔軟性、高精度なレーザーマーキングを可能にするカメラシステム

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誘発された蓄積イオンの量子もつれの測定

Photonscore

蓄積イオンはアンチバンチングされた放出量の統計を示す単一光子源の典型的な例です。しかし、単なる測定で2つの蓄積されたイオンが絡み合った、量子もつれの状態になると、興味深い現象が発生します。ここではエンタグルメント・もつれの事例についてご紹介いたします。

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