技術情報
日本レーザーが取り扱うメーカーは、いずれも高い技術と信頼性をもちます。こちらでは、各メーカーが提供するレーザーや光学機器、検査・計測・計装装置、応用システムに関する幅広い技術情報をご紹介しています。製品・技術の応用例や動作原理などを解説。製品選定や導入の参考として、また業界トレンドや技術的背景を知る一助として、ご活用ください。

技術情報一覧
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K2 Photonicsデュアルコム分光による高速・高分解能ガスセンシング|単一キャビティ・デュアルコムレーザーの活用デュアルコム分光(DCS)は、光周波数コムを利用して広帯域スペクトルを高速・高分解能で取得する次世代分光技術です。FTIRで必要だった機械式ミラー走査が不要で、リアルタイム性・高感度・高安定性を同時に実現します。K2 Photonicsの単一キャビティ・デュアルコムレーザーにより、高速・小型のガスセンシングシステムを構築できます。
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K2 PhotonicsデュアルコムLiDARによる超高精度距離計測|単一キャビティ・デュアルコムレーザーの活用デュアルコムLiDARは、わずかに異なる繰返し周波数を持つ2つの光周波数コムを利用し、絶対距離を高速・高分解能で測定する次世代レンジング技術です。K2 Photonicsの単一キャビティ・デュアルコムレーザーにより、ToF方式の長距離性能と干渉計の高精度を両立した、小型の距離計測システムを実現します。
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K2 Photonicsピコ秒超音波による不透明材料のサブナノメートル膜厚測定|デュアルコムレーザーによる超高速ポンプ・プローブ分光ピコ秒超音波は、超短パルスレーザーを用いたポンプ・プローブ分光により、不透明材料内部の薄膜構造や界面状態を非接触・非破壊で評価する手法です。K2 Photonicsの単一キャビティ・デュアルコムレーザーは、機械式ディレイラインを用いずに光遅延を高速・連続スイープでき、半導体薄膜や多層膜のサブナノメートル精度の膜厚測定に適しています。
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NIREOSハイパースペクトルカメラ 測定事例HERAハイパースペクトルカメラは、マクロ測定およびミクロ測定の両方において、半導体ウェーハ、発光デバイス、あるいはペロブスカイトなどの新規材料の特性評価の目的で半導体業界で広く使用されています。
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CSInstrumentsCSI社独自の先進的なAFMモード ResiScope™・HD-KFM・Soft Interaction ControlCSInstruments社が開発した先進的なAFM(原子間力顕微鏡)測定モード、ResiScope™・HD-KFM・Soft Interaction Controlを解説します。ResiScope™は抵抗10²~10¹²Ω、電流fA~µAを一度のスキャンで同時マッピングし、従来の導電性AFM(C-AFM)やSSRMを超える10桁のダイナミックレンジを実現。HD-KFMはシングルパスのケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)として、リフトモード不要で10nm未満の高分解能な表面電位・仕事関数マッピングと表面下検出に対応します。Soft Interaction Controlは摩擦のない第3のAFMモードとして、脆い試料や生体材料を損傷なく定量測定。全固体電池・半導体・二次元材料の評価に最適です。
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Skylark Lasers半導体検査・計測向け(微細構造や薄膜の欠陥の非破壊検出) 超安定UVレーザー光源Skylark Lasersの単一周波数UVレーザー(320 nm/349 nm)は、8インチウェハの全面を90秒以内で高解像度スキャン可能な高出力・高安定DPSSレーザーです。微細構造や薄膜の欠陥を非破壊で高精度に検出し、最先端半導体製造やメトロロジー分野で求められる高信頼な光源を提供します。
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Skylark Lasersレーザー干渉リソグラフィーによる高度なナノ構造作製Skylark Lasers ケーススタディ:Skylark 349 NX UV DPSSレーザーを用いた干渉リソグラフィーによる高度なナノ構造作製。 ドイツのマルティン・ルター大学ハレ=ヴィッテンベルク校 材料科学学際センター(CMAT)Bodo Fuhrmann博士との共同研究による、2024年12月4日公開のケーススタディです。
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Skylark Lasersブリルアン顕微鏡 – 低ASEノイズ 780nm/785nmレーザーSkylark Lasers社の780 nm/785 nm CWレーザーは、ブリルアン顕微鏡法・分光法に最適です。この波長域で比類のない非常に低いASEノイズとフィルター不要のクリーンビームを実現し、さらに狭線幅スペクトルで、弱く複雑なブリルアン散乱を効率的に検出できます。
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Skylark Lasersレーザー干渉リソグラフィのための低ノイズ CW UVレーザー干渉リソグラフィや光格子形成には、Skylark Lasersの高安定性 320nm/349nm CW紫外レーザーが最適です。8インチ以上の表面に、回折格子・導波路などの精細な構造を形成できます。
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Beamtech Optronicsレーザー誘起蛍光 LIF 放出蛍光光子検出レーザー誘起蛍光(LIF) レーザーを用いて粒子を高エネルギーの量子状態に励起し、その遷移中に粒子から放出される蛍光光子を検出する。測定法材料特性を検出するための高感度技術
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Beamtech Optronics光音響イメージング レーザーによる非侵襲的な光子イメージング新しい非侵襲的光子イメージング法、レーザーによる光音響イメージング法。生体組織の構造や機能の観察に使用できる新しい非侵襲的フォトニックイメージング法です。
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Beamtech Optronics質量分析法 レーザーを使用したイオン質量の電荷比測定レーザーを用いたイオンの質量電荷比測定法を紹介します。レーザーは主に物質のイオン化に使用。マトリックス支援レーザー脱離イオン化飛行時間型質量分析計(MALDI-TOF MS)など、タイプの質量分析計があり、主に微生物、核酸、その他のウイルスの同定、糖化ヘモグロビンの定量に使用します。
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SENSOFAR Metrology3D光学プロファイラ・共焦点顕微鏡による検査・解析の自動化高精度な3D表面形状・粗さ測定が可能な3D光学プロファイラ・共焦点顕微鏡を、品質管理で用いるための自動化ソリューションを紹介します。測定の自動化のための自動アライメント機能や装置組込み用顕微鏡ヘッド、解析の自動化のためのSensoPRO自動解析ソフトウェア。
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Molecular VistaAFM-IR PiFM ナノスケール赤外分光イメージング装置 [光誘起力顕微鏡] の仕組みと応用例世界最高レベルの空間分解能 AFM-IR 装置 空間分解能<10nm 本ページではその仕組みと応用例について紹介していきます。
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HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)【航空・リモートセンシング】LIDARシステムLIDAR システムのパフォーマンスは、レーザーの選択で決まります。異なる用途には、異なるレーザーが必要です。HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)レーザーをLIDARシステムに導入することで、ターゲット上の点、精度、角度解像度、空間解像度、点密度、射程の点で優れたパフォーマンスが得られます。
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HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)【材料・ナノ構造】ナノ粒子および量子ドットの特性評価ナノ粒子や量子ドットの特性評価では、高解像度検査、材料の局所的変更、高密度場、強度強化など、目的に適応できる光源が必要です。HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)のSuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、非常に柔軟性に優れ、ナノ粒子や量子ドット研究で求められる多様なパラメータを提供します。
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HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)【量子・ナノテク】ダイヤモンド中のNVセンターダイヤモンドの窒素-空孔(NV)中心は、室温の量子ビットプラットフォームへの応用が可能です。NVセンターを励起するには、波長 450~650 nm の光が必要です。HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、調整可能で広範なスペクトルと非常に高いビーム品質により、世界の多くの研究者に利用されています。
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HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)【材料・ナノ構造】グラフェンとカーボンナノチューブの特性評価グラフェンは、炭素原子が六角形格子構造を成す二次元 (2D) 原子結晶で、強度が高く軽い素材でありながら、非常に柔軟です。さらに極めて優れた機械的剛性、高い弾性、優れた電気伝導性と熱伝導性を示します。SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、グラフェンと、グラフェンシートを管状にしたカーボンナノチューブの、マッピングや特性評価に活用されています。
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HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)【産業用途】太陽電池の特性評価太陽電池のバルクサンプルの特性評価や、マイクロスケール形状の調査には、できるだけ太陽スペクトルに近いスペクトルをもつ広帯域な励起光源が必要です。HAMAMATSU PHOTONICS(旧NKT Photonics社製品)SuperK スーパーコンティニューム白色光レーザーは、特に可視域での高い輝度をもち、太陽電池の特性評価に最適です。
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Quantifi Photonics光ドップラー速度測定 動作原理 構成事例 開発事例光ドップラー速度測定は高速で運動する物質の速度測定です。ファブリペロー干渉計のVISAR(レーザー速度干渉計)に比べ、機器費用の経済性に優れています。また衝撃面からの反射光の強度・速度の急激な変化にも対応します。本ページでは光ドップラー速度測定の原理、構成事例等をご紹介します。


















