展示会概要

• 会期：2024年12月11日（水）～13日（金）10：00-17：00
• 会場：東京ビッグサイト（〒135-0063 東京都江東区有明3丁目11-1）
• 小間番号：5432 >>フロアマップダウンロード
• ご来場：完全事前登録制（無料）

出展品予定品

NEW！

• OptoFidelity社
  AR導光板グレーティング解析システム “WG-GAT”
• OptoFidelity社
  R&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム “WG-IQ”

社内デモ可能

• SENSOFAR Metrology社
  装置組込み用非接触3D面粗さ計測装置 “S mart”

その他出展品

• Lumina Instruments社
  基板用 高速レーザー欠陥スキャナー ATシリーズ
• Molecular Vista社
  業界トップクラスの自動化を実現！12インチ 300 mm サンプル対応 AFM-IR装置 PiFM / PiF-IR Vista300
• FSM Precision社
  低価格 高イメージング品質 AFM “Nanoview 1000”
• CSInstruments社
  伝導性リサーチ用AFM ハイエンド＆低価格 Nano-Observer
• Nanoscribe社
  ナノ精度アライメントシステム搭載 光実装と微小光学用3Dプリンタ “Quantum X align”
• attocube systems社
  真空対応モーション＆コントロール ナノ位置決めステージ/レーザー干渉式変位センサ
• Skylark Lasers社
  フォトルミネッセンス/ラマン分光用光源 320nm & 349nm 単一周波数 CW DPSSレーザー “NXシリーズ”