異物検査、成分分析

日本レーザーでは、ティラミック対応の400〜1700 nmハイパースペクトルカメラ「HERA VIS-SWIR」などを取り揃え、可視から短波長赤外までの帯域で材料の成分や異物を高精度に検出・解析できる機器群をご提供しています。製造現場や研究開発において、非破壊かつ迅速な異物検査や化学成分マッピングを実現することで、品質保証や材料特性評価を強力に支援します。