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AFMプローブ/カンチレバー Si製ダイナミックモード (タッピングモード) 用

アイテクソリューション

既に生産が終了しているオリンパス社のOMCLシリーズと同等の、汎用性の高いシリコン製ダイナミックモード (タッピングモード) 用AFMプローブ/カンチレバーで、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご使用いただけます。

株式会社アイテクソリューションのSPM-ACシリーズは、既に生産が終了しているオリンパス社のOMCLシリーズと同等の、汎用性の高いシリコン製ダイナミックモード (タッピングモード) 用AFMプローブ/カンチレバーです。そのため、従来のオリンパス社製のAFMプローブと同様にご使用いただけます。100チップ入りと12チップ入りがあります。
 

SPM-AC160S-AS

オリンパス社のOMCL-AC160TSと同等品です。

高分解能測定

高いQ値、300 kHz(Typ.)の共振周波数とバネ定数26 N/m(Typ.)の柔らかさを両立しています。試料へのダメージを最小限に抑え、高分解能な試料表面の凹凸測定や高感度な位相測定が可能です。
 

安定した先端構造

尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験をベースとした、安定性の高い鋭利な探針が特徴です。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、位置調整を正確かつ容易に行えます。

 

SPM-AC200S-AS

オリンパス社のOMCL-AC200TSと同等品です。

幅広い試料の測定に対応

ミドルレンジのカンチレバー機械特性を持ち、シリコン半導体、ガラス材、金属材、プラスチックス材など、柔らかい試料から硬い試料まで幅広い領域試料の測定に対応しています。最適なカンチレバー機械特性の判断がつかない初めての試料の測定時にも、スクリーニング用としての使用にも適しています。
 

安定した先端構造

尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験をベースとした、安定性の高い鋭利な探針が特徴です。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、位置調整を正確かつ容易に行えます。

 

SPM-AC240S-AS

オリンパス社のOMCL-AC240TSと同等品です。

粘弾性の測定や柔らかい試料に対応

ダイナミックモード(タッピングモード)用としては小さいバネ定数の機械特性を持つため、試料と探針間の荷重を小さく抑えられます。そのため柔らかい試料の形状および粘弾性の測定に適しています。
 

安定した先端構造

尖鋭化処理および従来のプローブの製造経験をベースとした、安定性の高い鋭利な探針が特徴です。テトラヘドラル型の採用により、光学顕微鏡が組み合わさったSPM装置で測定する際に、試料と探針の位置関係を確認できるため、位置調整を正確かつ容易に行えます。

 

SPM-AC240S-AP

オリンパス社のOMCL-AC240TMと同等品です。

精密な電気特性評価を実現する白金コートモデル

EFM、KFM、SCMなどの電気特性評価に最適なカンチレバーです。探針側は白金をコーティングしており、安定した導電性を提供します。
 

鋭さと導電性を両立

低い抵抗値設計により高い導電性を実現。さらに、探針先端を鋭利に仕上げることで、試料表面の微細構造の高解像度観察と、電気特性の高感度測定を両立します。

 

SPM-AC55S-GS

オリンパス社のOMCL-AC55TSと同等品です。

メガヘルツ領域の高共振周波数による高速測定

高い共振周波数によりスキャン速度が向上し、画像取得時間の大幅な短縮が可能です。
 

低熱雑音カンチレバーで実現する高分解能測定

高い共振周波数と85 N/m(Nominal)の高いバネ定数を持つカンチレバーにより、熱雑音を抑えた高分解能測定が可能です。
特に、液体・固体界面の測定への応用が期待されます。

 

SPM-AC160S-GS

オリンパス社のOMCL-ACシリーズの同等品です。

高分解能測定

高いQ値、300 kHz(Typ.)の共振周波数およびバネ定数26 N/m(Typ.)の柔らかさを両立。これにより、試料へのダメージを最小限に抑え、高分解能な試料表面の凹凸測定および高感度な位相測定が可能。
 

背面金コート

当製品は、背面金コートを施しているため、液中において試料のコンタミが少なく高分解能の測定が可能です。

 

SPM-AC200S-GS

オリンパス社のOMCL-ACシリーズの同等品です。

幅広い試料の測定に対応

ミドルレンジのカンチレバー機械特性を持った当製品は、シリコン半導体、ガラス材、金属材、プラスチックス材など、柔らかい試料から硬い試料まで幅広い領域試料の測定に対応しています。 最適なカンチレバー機械特性の判断がつかない初めての試料の測定時にも、スクリーニング用としての使用にも適しています。
 

背面金コート

当製品は、背面金コートを施しているため、液中において試料のコンタミが少なく高分解能の測定が可能です。

 

SPM-AC240S-GS

オリンパス社のOMCL-ACシリーズの同等品です。

粘弾性の測定や柔らかい試料に対応

ダイナミックモード(タッピングモード)用としては小さいバネ定数の機械特性を持つため、試料と探針間の荷重を小さく抑えられます。そのため柔らかい試料の形状および粘弾性の測定に適しています。
 

背面金コート

当製品は、背面金コートを施しているため、液中において試料のコンタミが少なく高分解能の測定が可能です。

シリーズSPM-AC160S-ASSPM-AC200S-ASSPM-AC240S-ASSPM-AC240S-AP
共振周波数300kHz150kHz70kHz70kHz
バネ係数26N/m9N/m2N/m2N/m
材質Si / Al(反射面)Si / Al(反射面), Pt(探針側)
形状テトラヘドラル
ティップ半径7nm7nm7nm20nm
外形寸法
シリーズSPM-AC55S-GSSPM-AC160S-GSSPM-AC200S-GSSPM-AC240S-GS
共振周波数1125kHz300kHz150kHz70kHz
バネ係数85N/m26N/m9N/m2N/m
材質Si / Au(反射面)
形状テトラヘドラル
ティップ半径7nm7nm7nm7nm
外形寸法
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