展示会情報

展示会詳細

• 会期：2025年1月22日(水)～24日(金)
• 会場：東京ビッグサイト 東展示棟
• 小間番号：E14-36
• 事前登録制

出展予定品

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• 超分解光学顕微鏡（LIG Nanowise社）

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• 装置組込み用非接触面粗さ計 S mart sensor（Sensofar Metrology社）

その他出展品

• AR導光板グレーティング解析システム　WG-GAT（OptoFidelity社）
• R&D向け AR導光板品質の自動画像検査システム　WG-IQ（OptoFidelity社）