偏光計測システム “PSGA-101”

光源や光学部品の PMD, PDL 等偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成

概要
応用例
主な仕様

光源や光学部品の PMD, PDL 等偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成

走査システム内結晶精度固定
USBで保存データの伝送可能
GPIBポートで外部レーザー・コントロール
Ethernetでリモートコントロール

General Photonics社の PSGA 偏光測定システムは、光源や光学部品の PMD, PDL 等偏光特性の測定器として、市場で最高精度を誇る製品です。光磁気結晶を用いた特許デザインにより、高い精度と再現性を達成しています。

内蔵のチューナブルレーザーは、単なる出力だけでなく、第三のレーザーと組合せて DGD, SOPMD, PDL のスキャン生成に用いることもできます。フリップトップ LCDディスプレイと、外部ディスプレイ用のVGAポートが付属しています。

光学部品の特性評価
PMコネクタのストレス評価

使用波長範囲	1440～1620nm	1280～1340 nm
SOP生成精度 ※1	±1° ポアンカレ球面上	±1° ポアンカレ球面上
SOP再現性	±1°	±1°
方位 & 楕円度角度精度 ※1	< 0.25°	< 0.25°
ストークス・ベクトル精度 ※1	±0.5%	±0.5%
DOP測定精度 ※1,2	±1%	±1%
PERダイナミックレンジ	> 40 dB (入力パワー > -10 dBm)	> 40 dB (入力パワー > -10 dBm)
PER軸精度 ※1,2	±1°	±1°
PMD測定範囲	1 fs to 10 ps (内部チューナブルレーザー) 1 fs to 400 ps (外部レーザー, 0.01 nm < λ_step < 10 nm)	1 fs to 400 ps (外部レーザー, 0.01 nm < λ_step < 10 nm)
PDL測定範囲	0 to 40 dB (入力パワー > -10 dBm)	0 to 40 dB (入力パワー > -10 dBm)
精度: DGD SOPMD PDL	± (1 fs + DGD * 0.5%) ± (SOPMD * 1%) ± (0.05 dB + PDL * 2%)	± (5 fs + DGD * 1%) ± (SOPMD * 2%) ± (0.05 dB + PDL * 2%)
再現性: DGD ※3 SOPMD ※3 PDL ※4	0.03 fs 0.3 ps² 0.04 dB	0.05 fs 0.3 ps² 0.05 dB
Resolution: DGD SOPMD PDL	1 fs (1550 nm, λ_step = 2 nm) 0.005 ps² (1550 nm, λ_step = 2 nm) 0.01 dB	1 fs (1310 nm, λ_step = 2 nm) 0.005 ps² (1310 nm, λ_step = 2 nm) 0.01 dB
内部チューナブルレーザー	1528 to 1563 nm	N/A
波長チューニングステップ	50 GHz 最小, 内蔵チューナブルレーザー	N/A
使用パワー範囲	-40 dBm to +2 dBm	-40 dBm to +2 dBm
光パワー精度 ※1	± 0.25 dB	± 0.25 dB
光パワーダメージ閾値	300 mW	300 mW
使用温度範囲	5～40 ℃	5～40 ℃
保管温度範囲	-20℃ to 60℃	-20℃ to 60℃
接続インタフェース	GPIB, Ethernet	GPIB, Ethernet
ディスプレイ	8インチ・フリップトップ・グラフィック LCD & 2行20文字フロントパネル LCD
外部データ保存	USBインタフェース・外部メディア（フラッシュメモリ等）
電源	100～240 VAC, 50～60 Hz
ソフトウェア	コントロール/ディスプレイ・プログラム (標準装備)
寸法	2U 3/4 19インチラック幅 14″ (L) x 14″ (W) x 3.5″ (H)

※1　At 23 ° ± 5°C.
※2　C-, L-, O-band の DOP測定精度。バージョンによって異なる。
※3　10ステップ以上の平均, 波長ステップサイズ = DGD 2 nm, SOPMD 0.1 nm
※4　ミュラー行列法で測定

偏光計測システム “PSGA-101”

光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成

光源や光学部品の PMD, PDL 等偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成