偏光計測システム “PSGA-101”

General Photonics

光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成

光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性を測定。光磁気結晶を用いた特許デザインで高い精度と再現性を達成
  • 走査システム内 結晶精度固定
  • USBで保存データの伝送可能
  • GPIBポートで外部レーザー・コントロール
  • Ethernetでリモートコントロール

General Photonics社の PSGA 偏光測定システムは、光源や光学部品の PMD, PDL 等 偏光特性の測定器として、市場で最高精度を誇る製品です。光磁気結晶を用いた特許デザインにより、高い精度と再現性を達成しています。
 
内蔵のチューナブルレーザーは、単なる出力だけでなく、第三のレーザーと組合せて DGD, SOPMD, PDL のスキャン生成に用いることもできます。フリップトップ LCDディスプレイと、外部ディスプレイ用のVGAポートが付属しています。

  • 光学部品の特性評価
  • PMコネクタのストレス評価
使用波長範囲 1440~1620nm 1280~1340 nm
SOP生成精度 ※1 ±1° ポアンカレ球面上 ±1° ポアンカレ球面上
SOP再現性 ±1° ±1°
方位 & 楕円度 角度精度 ※1 < 0.25° < 0.25°
ストークス・ベクトル精度 ※1 ±0.5% ±0.5%
DOP測定精度 ※1,2 ±1% ±1%
PERダイナミックレンジ > 40 dB (入力パワー > -10 dBm) > 40 dB (入力パワー > -10 dBm)
PER軸精度 ※1,2 ±1° ±1°
PMD測定範囲 1 fs to 10 ps (内部チューナブルレーザー)
1 fs to 400 ps (外部レーザー, 0.01 nm
< λstep < 10 nm)
1 fs to 400 ps (外部レーザー, 0.01 nm
< λstep < 10 nm)
PDL測定範囲 0 to 40 dB (入力パワー > -10 dBm) 0 to 40 dB (入力パワー > -10 dBm)
精度: DGD
SOPMD
PDL
± (1 fs + DGD * 0.5%)
± (SOPMD * 1%)
± (0.05 dB + PDL * 2%)
± (5 fs + DGD * 1%)
± (SOPMD * 2%)
± (0.05 dB + PDL * 2%)
再現性: DGD ※3
SOPMD ※3
PDL ※4
0.03 fs
0.3 ps2
0.04 dB
0.05 fs
0.3 ps2
0.05 dB
Resolution: DGD
SOPMD
PDL
1 fs (1550 nm, λstep = 2 nm)
0.005 ps2 (1550 nm, λstep = 2 nm)
0.01 dB
1 fs (1310 nm, λstep = 2 nm)
0.005 ps2 (1310 nm, λstep = 2 nm)
0.01 dB
内部チューナブルレーザー 1528 to 1563 nm N/A
波長チューニングステップ 50 GHz 最小, 内蔵チューナブルレーザー N/A
使用パワー範囲 -40 dBm to +2 dBm -40 dBm to +2 dBm
光パワー精度 ※1 ± 0.25 dB ± 0.25 dB
光パワーダメージ閾値 300 mW 300 mW
使用温度範囲 5~40 ℃ 5~40 ℃
保管温度範囲 -20℃ to 60℃ -20℃ to 60℃
接続インタフェース GPIB, Ethernet GPIB, Ethernet
ディスプレイ 8インチ・フリップトップ・グラフィック LCD
& 2行20文字 フロントパネル LCD
外部データ保存 USBインタフェース・外部メディア(フラッシュメモリ等)
電源 100~240 VAC, 50~60 Hz
ソフトウェア コントロール/ディスプレイ・プログラム (標準装備)
寸法 2U 3/4 19インチラック幅
14″ (L) x 14″ (W) x 3.5″ (H)

※1 At 23 ° ± 5°C.
※2 C-, L-, O-band の DOP測定精度。バージョンによって異なる。
※3 10ステップ以上の平均, 波長ステップサイズ = DGD 2 nm, SOPMD 0.1 nm
※4 ミュラー行列法で測定

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